YD/T 1272.5-2019 光纤活动连接器 第5部分:MPO 型.pdf

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YD/T 1272.5-2019 光纤活动连接器 第5部分:MPO 型.pdf

MPO型连接器的外观应平滑、洁净、无油渍、无伤痕及裂纹,整个器件牢固,尾纤无松动或 器插拨平顺。标志清晰牢固,标志内容符合9.1.1的要求;标志贴放位置符合GB/T191中相关

MPO型连接器接头的总长度不超过60mm。

MPO型连接器所使用的材料及光纤光缆应保证无老化现象,符合阻燃和环保要求。能经受连接器 所需的试验条件,制作连接器所使用的粘结胶对连接器结构无不良影响,其物理、化学及光学特性应与 光纤匹配,不得有损害连接器光学性能的情况发生。

GB/T 38265.3-2022标准下载YD/T 1272.5—2019

产品的出厂常规测试可采用替代法,替代法通常为仪表直接测试,目前有“回波损耗测试仪”“光 时域反射仪(OTDR)”。具体测试程序见各种测试仪表的使用说明书。 注:回波损耗的通常的测试方法有两种,一是基准法:以测试对接界面的回波量化比例计算回波损耗;二是OTDR 法,(也叫免缠绕法):利用OTDR计算原理,以测试对接端面为距离点作为确定回波损耗量化的参考点。两种 测试方法的测试结果存在差异,差异的大小取决于测试产品的光纤长度,对于光纤长度小于3米的产品,标准 法的测试结果相对准确。

生测试按照YD/T1272.32015中6.7.14进行。

7.1可靠性试验环境要求

MPO型连接器的可靠性试验的环境要求分不控制环境(UNC)和控制环境(CO)两种: a)不控制环境:非可控环境: b)控制环境:中心机房(室温)环境。 对于可靠性扩展试验参见附录D。

7.2可靠性试验样品要求

可靠性试验样品应是尾纤型样品组,在MPO型连接器插头测试完成后,其光学性能指标符合表18 或表19中的要求,将测试合格的MPO型连接器插头与清洁干净的适配器样品组合成要求的尾纤型或 挑线型试验样品组,在室温下放置2h后,分别测量各样品组的插入损耗和回波损耗,作为测试前样品 组的初始值,其指标符合表18或表19中的要求。 至少使用一组包含15个尾纤型样品组进行可靠性试验,也可根据实际情况分成多组。试验过程中 若有失效的样品,可以使用新的尾纤型样品组进行替换,但是新的尾纤型样品组必须要经过所有可靠性 试验项目的测试。

7.3.1不控制环境条件的可靠性试验要求

不控制环境的可靠性试验要求见表20

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表20MPO型连接器可靠性试验要求

7.3.2控制环境条件的可靠性试验要求

控制环境的可靠性试验要求见表21

YD/T1272.5—2019100不控制环境80控制环境604023℃23℃20234678时间(天)图30高温老化温度曲线7.4.1.2试验步骤试验步骤具体如下。a)试验前先测量试样的插入损耗和回波损耗,记录作为试验前初始值。b)将试样置于温度精度为土2℃的可恒温的烘箱里,其中包括以下两点。不控制环境:温度为85℃,保持恒温168h(7天)。控制环境:温度为60℃,保持恒温96h(4天)。c)试验结束后,将试样拿出放置在室温停留2h后,测试并记录试样的插入损耗和回波损耗。7.4.2湿度老化试验7.4.2.1试验曲线湿度老化试验曲线如图31所示。1008095% RH, 75℃不控制环境60F4095% RH, 40°℃控制环境23℃23℃2024678时间(天)图31湿度老化试验曲线7.4.2.2试验步骤试验步骤具体如下。a)试验前先测量试样的插入损耗和回波损耗,记录作为试验前初始值。47

YD/T1272.5—20191008075℃, 24h不控制环境6060℃, 24h控制环境40 23℃20 F时间(天)图35烘烤试验7.4.5.2试验步骤试验步骤具体如下。a)试验前先测量试样的插入损耗和回波损耗,记录作为试验前初始值。b)将试样置于温度精度为土2℃的可恒温的烘箱里,其中包括以下两点。不控制环境:温度为75℃,保持恒温24h(1天)。控制环境:温度为60℃,保持恒温24h(1天)。c)试验结束后,将试样拿出放置在室温停留2h后,测试并记录试样的插入损耗和回波损耗。7.4.6变频振动变频振动试验方法按YD/T2152一2010中5.3.6.1规定进行。7.4.7尾部光缆抗拉力尾部光缆抗拉力试验方法按YD/T2152一2010中5.3.6.2~5.3.6.5的规定进行,试验参数见表22表22:尾部拉力试验要求尾部为带状光纤尾部为带状光缆或束状光缆尾部为0.9mm套管是否在负载条件试验项目普通要求加严要求普通要求加严要求普通要求加严要求下测试光功率弯曲2.2N8.9N2.2N否扭转2.2N13.0N2.2N否0°拉力44.0N66.0N否90°拉力33.0N44.0N否0°负载传输2.2N22.0N33.0N2.2N是90°负载传输2.2N2.2N13.0N2.2N是7.4.8撞击撞击试验方法按YD/T2152一2010中5.3.6.6规定进行。50

衬久性试验方法按YD/T21522010中5.3.6.7规定

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各项试验完成后,在相同测试条件下,出现下列故障中的任意一种情况即判定为不合格: 环境耐久性试验后,样品有外观损伤,如变形、龟裂、松弛、褪色等现象; 机械完整性试验后,样品有机械损伤,如结构松动、部件脱落、变形、龟裂、松弛、卡死、部 件错位、锁扣失去弹性、部件出现裂痕等现象; 试验前后其光学性能和参数变化量不符合表18或表19,及5.5.2中的要求。

验验分为出厂检验和型式检验。出厂检验分为常规检验和抽样检验

常规检验应百分之百进行,检验项目如下。 a)外观:目测,符合5.7要求。 b)性能:按6规定的测试方法,对性能参数插入损耗、回波损耗进行检测,其结果符合表18或 表19的规定。

从批量生产中生产的同批或若干批产品中,按GB/T2828.1一2003规定,取一舟 限(AQL)和检验项目如下。 a)外观 一AQL取1.5。 检验方法:目测,其结果符合5.7的要求。 b)外形尺寸 AQL取1.5。 检验方法:用满足精度要求的量度工具测量,其结果符合5.8的要求。 c)性能检测 一 AQL取0.4。 检验方法:按6的规定进行测试,其结果符合表18或表19的规定。

从批量生产中生产的同批或若干批产品中,按GB/T2828.1一2003规定,取一般检查水平Ⅱ: 量限(AQL)和检验项目如下。

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MPO型连接器有下列情况之一时,应进行型式检验 a)产品定型时或已定型产品转场时; b)正式生产后,如结构、材料、工艺有较大改变,可能影响产品性能时; c)产品长期停产12个月后,恢复生产时; d)出厂检验结果与鉴定时的型式检验有较大差别时; e)正常生产24个月后; f)国家质量监督机构提出进行型式检验要求时

8.3.2型式检验要求

在进行型式检验前,按6要求,对样品的性能参数进行测试,并记录测试结果。

8.3.3检验项目及抽样方案

型式检验的检验项目及抽样方案见表20或表21。

8.3.4产品不合格的判定

各项试验完成后,不合格的判定按7.5规定执行,若其中任何一项试验不符合要求时,则判该 格。

8.3.5不合格批的重新提交

当提交型式检验的任一检验批不符合表20或表21中规定的任一分组要求时,应根据不合格原因, 采取纠正措施后,对不合格的检验分组重新提交检验。重新检验应采用加严抽样方案。若重新检验仍有 失效,则该批拒收。如通过检验,则判为合格。但重新检验不得超过2次,并应清楚标明为重新检验批。

凡经受了型式检验的样品,一律不能作为合格品交付使用:

8.3.8检验批的构成

提交检验的批,可由一个生产批构成,或由符合下述条件的几个生产批构成: 这些生产批是在相同材料、工艺、设备等条件下制造出来的; 若于个生产批构成一个检验批的时间不超过1个月。

9标志、包装、运输和购存

每个产品应标明产品型号、规格、编号、批的识别代码及安全等标志。

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进行全部试验后,标志应保持清晰。标志损伤了的产品应重新打印标志,以保证发货之前标志的清

9.1.3污染控制标志

产品的污染控制标志应按SJ/T11364一2014第5章规定,在包装盒或产品上打印上电子信息产品污 染控制标志。

产品应有良好的包装及防静电措施,避免在运输过程中受到损坏。包装盒上应标有产品名称、型号 和规格、生产厂家、产品执行标准号、防静电标识、激光防护标志等。 包装盒内应有产品说明书。说明书内容包括:产品名称、型号,简要工作原理和主要技术指标,极 限工作条件,安装尺寸和管脚排列,使用注意事项等。

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表A.1MPO插座式平面型插头接口尺寸(续)

头与适配器的插拔力单排光纤不能超过30N,双排光纤

当用如图A.1所示的导针插入导针插孔约5.5mm的深度时,导针所受最大力为1.7N。当用如图A.1所示导针架同时插入 两导针插孔约5.5mm的深度时,导针架所受最大力为3.4N。 6尺寸C定义为两个导针孔中心之间的距离。 °在不配接时,尺寸I定义为插针体前端面到外框套锁紧凸台根部(Z)之间的距离。注意,由于后端弹簧的作用,插针 体是可以轴向来回移动的,因此尺寸I是可变的,当I=8.2mm~8.4mm时,单排光纤插针体所受的压力为11.8N~7.8N, 双排光纤插针体所受的压力为22N~18N。 d外框套在对接时也会轴向移动,尺寸L是给出外框套在不配接时的尺寸,当L=0mm~0.1mm时,外框套所承受的压力 为6.9N2.9N。 。插头推进适配器的时候,外框套会后退,也就是外框套的前端离开Z的距离。当外框套从适配器来出来的时候,外框 套或复位,这个距离应大于2.0mm。 f尺寸定义为两个导针插孔中心之间的中心线距离。 尺寸D1和U1定义为插头末端的距离

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表A.2MPO插头式平面型插头接口尺寸(续)

配器的插拔力单排光纤不能超过30N,双排光纤不能超

导针的拔出力应大于19.6N,表面粗糙度RZ应小于0.5μm。 b尺寸C定义为两个导针中心之间的距离。 。在不配接时,尺寸I定义为插针体前端面到外框套锁紧凸台根部(Z)之间的距离。注意,由于后端弹簧的作用,插针 体是可以轴向来回移动的,因此尺寸I是可变的,当I=8.2mm~8.4mm时,单排光纤插针体所受的压力为11.8N~7.8N, 双排光纤插针体所受的压力为22N18N。 d外框套在对接时也会轴向移动,尺寸L是给出外框套在不配接时的尺寸,当L=0mm~0.1mm时,外框套所承受的压力 为6.9N2.9N。 °插头推进适配器的时候,外框套会后退,也就是外框套的前端离开Z的距离。当外框套从适配器来出来的时候,外框 套或复位,这个距离应大于2.0mm。 f导针的顶端可为圆型,最小半径为0.15mm。 尺寸I定义为两个导针中心之间的中心线距离。 h尺寸D1和U1定义为插头末端的距离

A.4.1MPO翻转连接型适配器

MPO翻转连接型适配器的接口图形、配合尺寸如图A.3所示和见表A.3。

YD/T1272.5—2019RZTM图A.3MPO翻转连接型适配器表A.3MPO翻转连接型适配器接口尺寸尺寸标记单位最小值最大值Emm8.548.74Fmm9.69.7Hamm12.6Imm8.28.4Kmm1.39Lbmm 0.1 Mmm1.62.0 Nmm2.42.60mm5.05.1 58

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表A.3MPO翻转连接型适配器接口尺寸(续)

A.4.2MPO并行连接型适配器

YD/T1272.5—2019RAB4M图A.4MPO并行连接型适配器表A.4MPO并行连接型适配器接口尺寸尺寸标记单位最小值最大值Emm8.548.74Fmm9.69.7Hamm12.6mm8.28.4 Kmm1.39Lbmm00.1 Mmm1.62.0 Nmm2.42.660

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表A.4MPO并行连接型适配器接口尺寸(续)

A.4.3MPO适配器外形尺寸图

MPO适配器外形尺寸见5.1.6.3规定。

A.4.4MPO有源接收式平面型插座

YD/T1272.5—2019A.5.2导针架导针架的外形如图A.7所示,尺寸要求见表A.7。0.001?BBUBC0.0005图A.7导针架表A.7导针架尺寸尺寸标记单位最小值最大值Aamm0.54850.5490cmm5.29955.3005Dbmm6.3 6.5 ubmm2.42.5BAmm0.20.4 BBmm0.2 0.5 BCmm6.06.5表面粗糙度RZ=0.1μm;典型尺寸A.6MPO插针体端面阵列光纤排列插针体端面阵列光纤排列要求如图A.8所示。64

B.1MPO型连接器自

C.1单模MPO型连接器PC结构光学端面

模MPO型连接器PC结构光学端面要求见表C.

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附录C (资料性附录) MPO型连接器一光学端面

表C.1单模MPO型连接器PC结构光学端面

光学端面合格判定标准适用于MT插芯中的所有多芯光纤端面。多芯MT插芯光学端面在115~250μm区域范日 做规定。推荐采用400倍光纤端面检测仪

C.2单模MPO型连接器APC结构光学端面

单模MPO型连接器APC结构光学端面要求见表C.2

单模MPO型连接器APC结构光学端面要求见表C.2

表C.2单模MPO型连接器APC结构光学端面

C.3多模MPO型连接器PC结构光学端面

连接器PC结构光学端面

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表C.3多模MPO型连接器PC结构光学端面

面合格判定标准适用于MT插芯中的所有多芯光纤端面。多芯MT插芯光学端面在115~250μm区域范围内不 。为了简化分区,纤芯A区域0μm~65um可以同时覆盖50μm和62.5μm两种光纤纤芯尺寸类型。推荐采用 光纤端面检测仪

D.1可靠性扩展试验样品要求

可靠性扩展试验样品要求见7.2节。

D.2可靠性扩展试验要求

MPO型连接器可靠性扩展试验要求见表D.1

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表D.1MPO型连接器可靠性扩展试验

GBT 38522-2020 户外燃气燃烧器具D.3可靠性扩展试验方法

D.3.1扩展热老化试验

试验步骤如下: a)试验前先测量试样的插入损耗和回波损耗,记录作为试验前初始值; b)将试样置在温度精度为+2℃的可恒温的烘箱里,85℃,保持2000h; c)在168h、500h、1000h和2000h结束时,将试样拿出放置在室温停留2h后,测试并记录试样 的插入损耗和回波损耗。

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D.3.2扩展湿度老化试验

试验步骤如下: a)试验前先测量试样的插入损耗和回波损耗,记录作为试验前初始值; b)将试样置于温度精度为+2℃,湿度精度为+2%的恒温恒湿试验箱里,75℃,90%RH,保持2000h; C 在168h、500h、1000h和2000h结束时,将试样拿出放置在室温停留2h后,测试并记录试样 的插入损耗和回波损耗

D.3.3扩展温度循环试验

试验步骤具体如下。 a)试验前先测量试样的插入损耗和回波损耗,记录作为试验前初始值; b)样品在温度精度为35℃土2℃GB/T 3323.2-2019标准下载,5%土1%)NaCI溶液环境中,持续时间168h; c)在168h结束时,将试样拿出放置在室温停留2h后,测试并记录试样的插入损耗和回波损耗。

各项试验完成后,在相同测试条件下,出现下列故障中的任意一种情况即判定为不合格: 环境耐久性试验后,样品有外观损伤,如变形、龟裂、松弛、褪色等现象; 机械完整性试验后,样品有机械损伤,如结构松动、部件脱落、变形、龟裂、松弛、卡死、部 件错位、锁扣失去弹性、部件出现裂痕等现象; 试验前后其光学性能和参数变化量不符合表18或表19,及5.5.2中的要求。

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