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GB／T 40675.2-2021 数字器件和设备用噪声抑制片 第2部分：测量方法.pdf

图7示出了异侧去耦比的测试原理。 注：测试样品和环形天线设置在远离除同轴电缆外的其他材料的至少30mm处其他材料是指测试过程需使用 的，如苯乙烯泡沫和有间隙的低介电和低损耗材料

5.2.2.1环形天线

JB／T 13531-2018 冷连轧机组 快速换辊机 通用技术要求.pdf5.2.2.2网络分析仪

网络分析仪应按照5.1.2.2操作

网络分析仪应按照5.1.2.2操作

测试样品应满足5.1.3的要求。

天线的安装及测试样品如表1、表3和图9所示

5.2.4.2测试程序

5.2.4.3R的计算

5.2.5测试结果的表述

5.3传输衰减比：R.

他路径的传导电流噪声的衰减。用于微波 的MSL被用作噪声的传输线，MSL模拟了电子设备常见的噪声路径（见图10）

传输衰减比R，的测试方法原理如图10所示。

传输衰减率R，的测试方

印有条形导线的测试夹具的尺寸如 测试夹具的两端宜通过SMA连接器连接到网络 仪。测试夹具两端之间的电压驻波比(VSWR)在测试频率范围内宜小于1.5。

5.3.3.1网络分析仪

网络分析仪应按照5.1.2.2所述操作

用来测试R，的测试样品尺寸如表6所列

长度（L） 宽度（W） >100 >50 这种测量对样品的最大尺寸不敏感， 3.4.2 2测试夹具上的粘附方法 宜按照以下任一方法将测试样品放置和固定在整个测试夹具上。 提供卡 a）直接固定： 当测试样品有粘性或有粘合层时可接将其固定在MSL测试夹具上。 b） 用粘合剂固定： 当测试样品没有粘性时，测试样品应使用合适的粘合剂固定在MSL测试夹具上，所使用的粘 合剂不能影响测试夹具的传输特性。粘合剂厚度宜于0.1mm且不导电。粘合剂的宽度和长 度应与测试样品大小相同。 注：粘合剂示例：一种厚度小于0.1mm的双面胶带等。 用垫片和重物固定： 在某些情况下，当测试样品不自带粘合层时，能使用垫片和合适的重物固定。使用该方法时， 应提前在条形导线和抑制片之间插人垫片。对苯二甲酸乙二醇酯（PET)片不影响传输特性， 作为垫片十分适合。放置在条形导线和测试样品之间的垫片要求厚度为0.025mm。此外，测 试样品的质量宜适合以保证维持在平坦的位置。常用的0.5kg（5N)是首选，宜借助厚度超过 10mm的苯乙烯泡沫板来支撑，以避免由重量引起的干扰。

注：这种测量对样品的最大尺寸不敏感

5.3.4.2测试夹具上的粘附方法

5.3.5.1测试系统设置

宜提前按照5.3.2和5.3.4来准备测试仪器和测试样品。网络分析仪的校准工作宜在同轴电缆连 妾器和测试夹具的连接点末端处完成。分别将同轴电缆的两端连接到测试夹具的每个接口

5.3.5.2参照测试

测试并保存S.和S2数据作为参照。测试好的S.和S2分别称作SuR和S2IR。

5.3.5.3样品测试

测试样品宜按照5.3.4固定在测试夹具上。测量并记录S和S2i数据作为样品特性值。测试 和S2分别称作SiM和Sa1M

5.3.5.4R的计算

应使用公式（3）计算R。值： Rp=—10 lg(10S21M/10 /(1—10S1M/10)) (dB) 计算结果显示了测试样品导致的衰减。数据示例如图11a),b)和c)所示

5.3.6测试结果的表迷

应表述下列内容： a)R.p; b）电路参数，SR，S21R，S1M和S21M。 注：当测试样品具有各向异性时，制造商在其技术数据中宜表明测试方向

图11测试结果数据示例

在该测试中，MSL作为辐射源。MSL条状导体中的电流产生电磁波辐射。在条状导体上安 S后，由于NSS的电磁损耗使电流减小，从而抑制了MSL的辐射

测试系统图如图12所示。测试系统包括 测试夹具、信号源、接收关线、接收器和测试场地。

5.4.2.1测试夹具

图12R.的测试系统图

图13测试夹具原理图

V图14测试夹具尺寸及结构

具有跟踪发生器的频谱分析仪最适合用于本测试。网络分析仪可替代测试设备。信号源的输出 应为0dBm~10dBm

具有跟踪发生器的频谱分析仪最适合用于本测试。网络分析仪可替代测试设备。 率应为0dBm~10dBm

5.4.2.3接收天线

5.4.2.5测试场地

测试场地应是符合CISPR22要求的吸波暗室或开阔测试场

测试场地应是符合CISPR22要求的吸波暗室或开阔测试场

5.4.3.2在测试夹具上的粘附方法

按照图15所示，通过以下任一方法将测试样品固定在条形导线上。测试样品应完全覆盖条形 导线： a） 直接固定： 当测试样品有粘性或有粘合层时可直接将其固定在条形导线上； b） 用粘合剂固定：文 当测试样品没有粘性时，测试样品应使用合适的粘合剂固定在条形导线上，所使用的粘合剂不 应影响测试夹具的传输特性。粘合剂的宽度和长度应与测试样品大小相同。 注：粘合剂示例：厚度小于0.1mm且不导电的双面胶带等

图15测试样品在夹具上的粘附

5.4.4.1测试系统设置

测试系统应根据CISPR22及5.4.2设置

5.4.4.2 参照测试

参照测试按以下步骤： 测试夹具设置 测试夹具应按照图16的要求固定在转台上。测试夹具的条形导线应处于水平位置，测试夹具 的接地板应处于垂直方向。在测试参考电平时，测试夹具上宜不安装样品，

5.4.4.3样品测试

样品测试按以下步骤： 测试样品固定在测试夹具上 测试样品应按照5.4.3.2固定在测试夹具上。 b) 测试夹具设置 测试夹具应按照图16所示放置在转台上。测试夹具的带线导体应是水平的。测试夹具的底 板应是垂直的， 测试 应按照CISPR22的规定，用接收器的峰值保持功能测量接收功率P1，应在水平极化状态下测 量接收功率。

5.4.4.4R,的计算

应按照公式（4)计算Rrs： 16

应按照公式（4)计算Rrs：

应按照公式（4)计算Rrs：

式中： P。—参照测试时的接收功率； P,——样品测试时的接收功率

5.4.5测试结果的表迷

应表述下列内容： a) Rrs; b）测试样品的粘附条件。

表9和图17示出了每种噪声的抑制效果

表9不同噪声路径和NSS位置的噪声抑制效果分类

以下测试方法适用于100MHz～6GHz范围内评估NSS两侧的线或零件之间的耦合减少 如图18所示，用于评估的测试夹具由微带线（MSL）和磁环天线构成。该测试夹具的目的是模

电子设备中经常观察到的电磁干扰。MSL和天线分别对应于噪声源（干扰）和接收器（受扰）。 如图19所示，天线和NSS设置在MSL的中心。测量带有NSS和不带有NSS的环形天线与MSL 的两个耦合因子（单位为dB）。两个因子的差为线路去耦比Ra，单位为dB。 NSS的磁导率会改变其附近的磁场，能用于减少MSL与天线之间的噪声耦合。在磁导率虚部为 主导的高频范围，由于NSS的磁损耗，噪声能被有效吸收，

图18用于线路去耦测量的测试夹具K

线路去耦比测量装置如图19所示。

标引序号说明： 环形天线下边缘与MSL基板表面之间的升距 1 环形天线表面相对于水平面的仰角： 92 环形天线相对于MSL横向方向的方位角； S 环形天线和MSL的中心偏移

图19线路去耦比测量装置示意图

5.5.3.1环形天线

应使用5.1.2.1中规定的小型环形天线

5.5.3.2微带线 微带线的尺寸如表10O所示。MSL的一端应通过SMA型连接器连接到网络分析仪，MSL的另 端应通过SMA型连接器连接到50Q的终端负载。终止于另一端的MSL的电压驻波比应小于1.2。

微带线的尺寸如表1O所示。MSL的一端应通过SMA型连接器连接到网络分析仪，MSL的另 应通过SMA型连接器连接到50Q的终端负载。终止于另一端的MSL的电压驻波比应小于1.2

图20NSS.环形天线和磁通配置

表11环形天线的尺寸

环形关线和MSL之间要求的频率响应应符合5.1.2.1的要求，但是，天线和MSL处于固定位置内 如图18所示

环形天线和MSL之间要求的频率响应应符合5.1.2.1的要求，但是，关线和MSL处于固定位置内， 如图18所示

5.5.3.3网络分析仪

矢量网络分析仪应按照5.1.2.2所述操作。

用来测试R，的测试样品尺寸如表12所列

5.5.4.2测试夹具上的粘附方法

5.5.5.1测试系统设置

5.5.5.2 参照测试

5.5.5.3样品测试

深基坑支护施工方案（放坡）表12测试样品的尺寸

表12测试样品的尺寸

测试样品宜按照5.5.4固定在测试夹具上。测量并记录S21数据作为样品特性值。测试女 作S21M。

5.5.5.4R的计算

应使用公式（5)计算Ra值： Ra =S21R—S21M(dB) 式中： S21R— 不使用测试样品时的传输特性（S21）； 使用测试样品时的传输特性（S，）

应急[2021]34号：应急管理部关于贯彻实施新修改《中华人民共和国消防法》全面实行公众聚集场所投入使用营业前消防安全检查告知承诺管理的通知（应急管理部2021年5月11日）.pdf5.5.6测试结果的表述

应表述下列内容： a)Ral; b）测试样品的粘附条件； c）测试样品的厚度

应表述下列内容： a)Ral; b）测试样品的粘附条件； c）测试样品的厚度