标准规范下载简介
SYT 4109-2020 石油天然气钢制管道无损检测.pdf胶片，其感光速度和炭光材料颗粒直径相关，颗粒约细，涂覆 厚度越大，所需的感光时间越长，获得的图像噪声越低，图像 清断度越高。颗粒度越大则所需感光时间越短，噪声则会较大 图像空间分辨率较低。涂随层的厚度则会影响IP的动态范围 涂覆层越薄的IP其所能吸收的最大能量越少，动态范围相对就 会较少，
图像空间分辩率较低。深提层的厚度侧会影响卫P的动态范池围， 涂摄层越薄的P其所能吸收的最大能量越少，动态范围相对就 会较少。 6.2.7由于IP所用感光材料的特点，其对可见光不敏感，对低 能射线（例如散射线）更加敏感，因此需要用金属屏对散射线 进行屏蔽。 6.2.8计算机辅助成像射线检测所便用的线型像质计同胶片照 租完全相同，因此只需参考胶片照租规定即可。 不，29数学图像空闻分班率的测定需要使用双线型像质计，所 用的规格型专及规定同文射线数学成像检测规定相同。 6.210系统软件是射线教字成像检测系统的核心单元，是保证 检测准确性和安全性的重要因系，其中，第1款是为了符合 准对干数学图像规定而必须具备的基本功能，具他部分是对图
6.2.7由于IP所用感光材料的特点，其对可见光不敏感，对低 能射线（例如散射线）更加敏感，因此需要用金属屏对散射线 进行屏蔽。 6.2.8计算机辅助成像射线检测所使用的线型像质计同胶片照 相完全相同，因此只需参考胶片照相规定即可。 6.2.9数字图像空闻分辨率的测定需要使用双线型像质计，所
6.2.7由于IP所用感光材料的特点，其对可见光不敏感 能射线（例如散射线）更加敏感，因此需要用金属屏对 进行屏蔽。
6.2.7由于IP所用感光材料的特点CJJ37-2012标准下载，其对可见光不敏感，对低
本节规定了检测系统分辨率的最低要求及系统分辨率的测 定方法与周期。系统分辨率是影响成像质量的关键因素，其值 主要由扫播仪、P自身性能与实际像素尺寸决定，并与扫描仪 校正质量，运行环境条件与射线质地相关。因此，需要定期对 系统空间分辨率进行测定以确定其是否符合检测规定。推荐将 系统分辨率测定图像作为参考图像与相应检测图像同步存储 并在检测报告中记录该值（或有效像素尺寸）。
与胶片照和箱同，参见胶片照
本节规定与胶片照相和同，除删除了双胶片技术外，其 见胶片照和部分。
6.7.1本条规定X射线数学成像检测应选川较低管电压，以保 证细小缺陷检出率，并采用传统胶片照相的经验数值，限制了 基能使用的最高管电压范围
5.7.1本条规定X射线数学成像检测应选川较低管电压，以保 正细小缺陷检出率，开来用传统胶片照相的经验数值，限制了 其能使用的最高管电压范围。 .7.2本条是计算机辅助成像射线检测与胶片照相不同的部分 本条规定的爆光量小于胶片照相，是由于IP成像所需射线能量 小丁胶片成像所需能量，因此曦光量可以减少。通过人量对比 买验，只要在焦距700mm时爆光量达到10mA·m，图像灰 度、对比灵敏度就完全可以达到标准规定，而曝光量低于该值 时，则需要通过调整扫描仪和关参数，才能获得合格的图像。 如果操作人员经验不定，参数设置不台适，很有叫能获得不合 格图像。因此，为了减少人为经验因素的影响，建议在无特殊 情况时尽量保证光量。 6.7.3，6.7.4算机辅助成像射线检测中赚光曲线的意义在于 掌握曝光参数对成像质量影响的规律，确定曝光参数的范回， 指导工艺试验，因此在该技术应用初期制作曦光曲线是必要的。 操光线的制作方法亨胶片照相技术中曲线的制作方法相 以，具体参见文射线数字成像检测的曝光曲线制作厅法
6.8无用射线和散射线的屏蔽
.2在进行小径管透照时，由于边蚀效应对IP影响更大， 为了进一步降低散射线影响，可以对射线机的射山射线求
行进一步质量优化，通过在射线机出线口加装滤波板，屏蔽无 H射线，提高出束质量，降低散射线对丁数学图像的影响。
6.9图像分辨率的测定
6.9图像分辨率的测定
.10.1扫描仪的扫描步进决定了图像像素的最小尺寸，因此其 最小步进的选择不能低于需要达到的图像最低空间分辨率，否 可扫描完成的图像的空间分辨率将不能达到标推规是。也就是 步进的最天值不能超过本规范表6.10.1的规定。双壁单影透 照时，对比灵敏度需要查看的是双壁厚度，也就是透照厚度， 案间几何不清晰度需要查看的是单壁厚度，也就是单壁厚度
允许出现的最小厚度，此此时应选择单壁厚度替代透照厚度 查丧。而在小径管双壁双影检测时，出丁小径管厚度远大丁透 照厚度，而对空问几何不清晰度影响最大的是工件表面（源侧） 到IP距离，而非小径管的壁厚，因此此时需要用管径代替透照 厚度选择代表。 6.10.2激光功率决定了扫猫对IP采集潜影的激发程度，激光 功率过小将导致P激发不足，导致图像灰度过低，而随着激光 功率的增大，激光光斑面积也会增加，电然增加了潜影的激 发，伯是同时会带来图像噪声的增加，因此需要选择合适的激 光功率，即要保证潜影发量足够同时不能带来过品的噪。 光电来集器件是进行光宿号采集的市要器件，其对光分敏感 因此光噪对其效果影喇极大。光电采集器件的参数淡定了信 号采集和放人的程度，如果值设置过低，则信号采集和放大都 会随之降低，征潜影激发足够的情沉下，低数值的光电采集 设备能够产生较高借噪比的数子图像。伯是如果P潜影能量不 足或激发不足则会造成有效信号的丢失，而光电采集设备数值 过高显可采集照射能量不足或激发不见的P图像，但是形成的 图像信噪比和对会低一些。因此光电采集器件参数的设置要根 据拍摄条你和激发条件来逊行合适的设，要保训得到的图像 的灰度值和对比度能够符合标规处
6.11.1焊缝影像的评定范围为焊缝抑两刚的热影响区。焊缝热 影响区与母材厚度和焊接1.艺有关，应根据具体情况确定。水 规范规定最低不应低·于511m。
6.11.1焊缝影像的评定范围为焊缝抑两测的热影响区。焊缝热 影响区与母材厚度和焊接1艺有关，应根据具体情况确定。本 规范规定最低不应低于51m。 6.11.2图像灰度范围应在整个灰度范围的20%～80%之间 实际检测过释中，为获得更高的图像质量，最低灰度值尽量达 到整个灰度范围的40%。 6.11.3本条规定图像有效评定区域内不应存在工扰缺陷图像识
伪像。该伪像包括其他物体的遮挡、IP上有异物及污渍
挡等因索造成的不属于焊缝及母材的图像。 6.11.4图像.定位和识别标记影像应显示完整、位置正确.且图 像信息记录完整无误。对于识别标记来用计算机录人时，也应 将必要的信息显示于图像之上。 6,11.5本条规定了检测灵敏度的判定标准，.与射线检测（胶片 法）和文射线数字成像检测要求和同。 6.11.7在实际工作，针对一种检测对象和工艺，经工艺验证 数图像分辨率到规定后，严格按照工艺文件进行拍摄，司 以保证其图像空间分辨率与工芒试验相同，进行检测时可不放 置双线型像质计。如数学图像分辨率达不到规定，可以采用提 高对比灵敏度进行补偿。 6.11.8归一化信噪比可利月专用软件中的计算工具获得。为了 保证获得的数据相对准确，可以来集多点数值后最平均值，来 集区域应为评定区域。 6.11.9图像评定时对缺欠类型，位置与大小可直接在图像上标 江，并将该图作为评定图像保存，也可以将对应的文描述与 质量等级作为图像信息记录于文件描述学段印！，对此不做强制 规定。但如果评定过程进行了图像处理，则必须记录所做的 图像处理功能，处理后的图像与原始图像保存在同一个位置， 方便核。
本节规定了所需荐储的数据与存储介质的类型与规定。其 中始数据指原始检测图像与检测信息。原始检测图像为扫描 仪扫描后用软件系统形成的未做何图像处理的全分辨率图像 应来别无损压缩或不压缩的格式储存，以避免图像细节信息丢 失。原始图像应经过加密处理保存，防止被第三方软件打开并 进行无痕修改。数据的存储应来用数据允余方式，包括重复储 存，多方存诺及亢余编码等多种方式，并制订合理的备份策略 以确保数据长期存储的安全性。同时应注意对相关校正、工艺
试验及几何尺寸标定时产生的数据的存储，
6.13.1射线数字成像检测与传统的射线胶片照相法检测都属于 射线透照成像检测，具有相同的基本原理，其主要区别是成像 器件的不同，但获得的客观检测结果和评定方式是基本相同的， 对检测结果的质量分级评定仍然可以按照传统射线胶片法进行， 因此本规范规定按照本规范第4：18节的规定对射线数字成像的 检测结果进行质量分级。：， 6.13.2·由于数字图像没有黑度这个参数，因此用灰度值替代 黑度。
6.14检测记录和报告
检测报告主要包括工程信息、工件信息、检测设备信息、 透照工艺参数、图像评定、“人员信息等几个方面的内容，可由 计算机自动生成。检测报告应由相应贵任人员签字确定并与检 测数据步保存。 ： ·！
7.1.1，7.1.2本条规定了超声检测设备的性能指标。推荐采用 数字超声检测仪，随着工程量的增大及对检测结果准确度规定 的提高，模拟式超声设备无论从效率上还是在检测摊确度上都 无法满足实际工作的需要，而数字式超声检测设备无论从效率 功能还是技术指标上都有助显的优势
（1）仪器和探头的组合灵敏度是用检测工件最大声程处有 效灵敏度余量不小于10dB来表示的。灵敏度余量是指仪器最大 输叫时（增益、发射强度最大，衰减和抑制为0），使规定反射 体回波达基准高所需提高的增益总量（对模拟超仪应为衰减 的衰减总量）。敏度余量大，说明仪器与探头的灵敏度高。灵 敏度余量与仪器和探头的综合性能有关，因此文叫仪器与探头 的综合灵敏度。 （2）在荧光屏上区分距离不同的相两缺欠的能力称为分 辨力。能区分的两缺欠的距离越小，分辨力就越高。分瓣力是 仪器和探头的综合性能，它有区分连续和断续、密集和分散、 单个和多个的本领。分辨力与脉冲宽度有关，脉冲宽度小，发 射强度低，分辨力高。
7.2.3与2013年版规范相比，本条调整了探头前沿选择的管径 范围，由原来的600mm为界调整为500mm。规定了探头K值 的选择范围。由于60°的声束对直角的反射回波较低，易导致
7.2.3与2013年版规范相比，本条调整了探头前沿选择的管径 范围，由原来的600mm为界调整为500mm。规定了探头K值 的选择范围。由于60°的声束对直角的反射回波较低，易导致
未焊透等缺欠的漏检，本规范不建议检测根部缺欠时使用折射 角为60°的探头。
角为60°的探头。 7.2.4本条为新增条款，规定了对只能单面扫查的焊接接头的 探义选择要求。2013年版规范不允许对只能单面扫查的焊接接 头,进行检测。
其边缘与管了外表面的间隙不大于0.5mm。可以通过在管了表 面铺上细砂纸沿轴向轻轻研磨制得，研磨后的探头入射点和 K值应重新测定。
在试换块上调节仪器的否剂和在现场检测使川的耦合剂 为同一种，以保证相同的耦合效果
7.5.1选择与实际管道也率相对应的SGB试块制作距离波幅曲 线，扫描时基线比例应依据工件厚度和所选探头角度来确定。 7.5.2对于数字超检测设备来说，距离波幅怕线的制作可以 直接在仪器上进行，简单易行，使用方使。 7.5.3超声检测灵敏度不仅受试块和工件表面状态的影响，也 上烩测人品作生注相单小道不同显氛产不同国业灵微座
一定范围内波动属上正常现参
在一定池出内波动属正常现家。 7.5.4当距离一波幅曲线处于荧光屏满刻度的20%下列时，由 于波幅比较低，观察不清，容易漏检。为了防止漏检，必须提 高检测灵敏度。因而本条规定在整个检测范围内，曲线应处于 荧光屏满刻度的20%以上。
7.6.1～7.6.6本节对超志检测系统（包括仪器、探头、设备·与 探深头的纽合）的校推和复核提出了明确规定。为了便于本规范 使用者开展系统校准和复核工作，本规范将现行行业标准《后 损检测A型脉冲反射式超户检测系统丁作性能测试方法》JB 9214和《超声探伤用探买性能测试方法》JB/100621对仪 器、探头校准和复核的规定直接以附录的型式给出了其体的规 定和方法，检测人负只需按照本规范附录中的规定进行操作即 可，光须再去查询其他的标准。 7.6.7检测灵敏度复核时，若同波幅度匕升超过2dB时，则应 对上次复核以后的检测结果重新进行评定，评定时要考虑上引 分贝（B）数对评定结果的影响，符有缺陷存在时，可剔除灵 改由八响
上次复核以后的检测结果重新进行评定，评定时要考虑上别 了贝（dB）数对评定结果的影响，能有缺陷存在时，可剔除灵 敢度超过部分的影响
7.7.2探头移动区表面处理应达到的的基本要求是：
（1）探头在移动区内应能自移动，从而对对接接头的受 截面做充分扫查。 （2）探头在移动过程中，不易受到T件表面的磨损，有利 上保护探头。 （3）探头与工件之间有良好的接触，以保证缺欠的检出。 所以，在探头移动区内应清除飞溅、锈蚀及其他附着 物，表面无凹坑，且使表面平整、光滑。其表面粗糙度不超过
6.3μm，与机制恶面相当
6.3um，与机制表面相当。 少符合一次反射法检测时探头前后移动的需要，对」薄壁管可 能还会门到二次反射波进行扫查。管道两端预留的管段一般在 I50m以上，完全能够符合扫查需要，因此重点是对移动区的 清理。
7.8.1本条规定了超声扫待的基不方式。“单而双侧”指的是管 道外壁被检焊接接头的两侧检测面。在对油气管道焊接接头做 超波检测时，应该分别在焊接接头的两侧各做一次扫查。对 于法兰、阀门、回弯头等只有单侧直边的焊接接头允许单面单 侧检测，但应按本规范规定采用两种K值的探头扫查，
焊接接头进行分段探测时，则应以该段范围内的评定线相应波 高作为扫查灵敏度。 7.8.3本条规定了超声捡测的扫查速度，并规定每次扫查之间 有·定的重叠，重叠部位应从探头压电品片起始的位置算起 宽度为“探头（压电晶片）垂直于扫查方向尺寸的10%”。
7.8.4本条规定了扫未方式。对于波高低了评定线的反射波
很高。对于这种缺欠信号就应认真分析、评定。 在对管道焊接接头做超检测时，还应观察管道焊爆口错 情况。同一厚度和管径的管道对接时，由于管子椭圆度的原因 可能会导致焊口存在错边，错边会产生反射信号，因此扫时 应存细观察，避免误判。 为了探测纵向缺久，本不规范规定了两利扫查方法：锯齿形 门在和矩形扫查。这是对焊接接迹行初步扫套的一一般方法 锯齿形扫查适合于直径较大的管道，例如直径尺于Φ219mm的 管道。对于直径较小的管道，宜采印矩形扫查法
7.8.5管道焊接印很少出现横向缺欠，只有在焊条失效，焊接
过程焊接接头受到局部加热和冷御，使晶间组织不均而引起 膨胀，导致爆接接头和母材连接处产生强大热应力时才有可能 出现。因此一般焊接接头不强制要求进行横向缺欠检测，只有 在设计文科有明确规定时，或所使用的管材或焊材可能产生横 句缺久时需要进行横问缺欠的扫查。此外，探测横向缺欠时要 求探头与焊缝方向平行或成一定角度扫套。在小直径管道上做 这种拍查时，耦合效果差，声束传播路径也较为复杂，因此小 径管横向缺欠的检测不易实施，
7.8.7本条规定了缺欠最高波幅达到量线及以.上时应在报告
7本条规了缺欠最高波幅达到定量线及以.上时应在报 下以记载。缺欠记录的内容包括最高缺久波幅值，缺欠在 接头的位置，以及缺欠指示长度
7.8.8本条对缺欠位置确定和标记提出了规定。在标记缺欠位
置时通的做法是在管道环向焊接接头的最端零点位置（ 道圆周的水平部位中心）作为起始零点，面对介质流动的方向 顺时针从小到大进行定位和标记
个高点），此时应寻找最高反射波，依此来判断缺欠的在波幅曲 线图上所处的区域，并记录最高反射波的位置、波幅、水平位 置和深度位置等数据。
7.8.10圆形缺欠一般只有一个反射波高点，而条形
用6dB法测其指示长度，而对于有多个高点的缺欠则使用端点 dB法测量指示长度，俩者是有区别的。 7.8.11本规范对超过评定线但处在距离波幅曲线1区的反射信 号不进行评定，但在怀疑该信号可能是裂纹缺欠时则应加以关 注，并采取使用不同K值探头、改变扫否面等方式判断其是否 为裂纹缺欠，必要时可以采用射线检测辅助判断
7.9.4本规范将缺久的质量分级与射线检测的质量分
波幅A显小声程(a）波形最大反射幅度的变化探头位置发射体焊缝发射体（b）高度方向(c）长度方向图2接近垂直入射时裂纹类缺欠的回波动态波形（2）裂纹类缺欠的回波动态波型b：探头在各个不同的位置检测缺欠时，荧光屏上显示脉冲包络呈钟形的一系列连续信号（有很多小波峰）。探头移动时，每个小波峰也在脉冲包络中移动，波幅由零逐渐升到最大值，然后波幅又下降到零，信号波幅起伏较大（土6dB）。图3表示声束倾斜人射时，由裂纹类缺欠所产生的动态波形。对于判定为未焊透缺欠的反射波，当波幅达到Ⅲ区时直接评为IV级，当波幅位于Ⅲ区以下时，按本规范表7.9.4进行评定。188
A显示波幅脉冲包络线if:声程(a)波形最大反射幅度的变化体头位价焊缝有一定深度范围的发射体反射体(b）高度方向长度方向(c)图3倾斜入射时裂纹类缺欠的回波动态彼形189.
当壁厚大子或等于8mm时，只要焊接接头具备双面扫查的 条件，应该增灿TOFD检测，壁厚小丁8mm的焊缝采用TOFL 捡测时，由」壁厚较小，盲区可能会覆盖大部分缺欠，任只要 能检测出缺欠，则对丁缺久的辅助定性和测高都是有助的。 也可以参照本规范规定的术，采用TOFD辅助检测。TOFD 检测结果不作为缺欠长度测量的依据，仅用于缺欠辅助定性和 高度测量。
8.2.2本条规定了相控阵检测仪的基本性能指标。
8.2.2本条规定了相控阵检测仪的基不性能指标。 8.2.3本条规定了相控阵软件应具备的基本功能。本规范规定 采用TOFD辅助检测，因此设备和软件应该具备TOFD视图显 示功能，检测时TOFD和PAUT尽可能同步实施。 8.2.4相控阵探头是PAUT检测的重要保证，因此探头的性能 和指标要符合一定的规定，应该定期刘探头的性能进行测试。 租控阵探头应与检测面紧密接触，探头模块与被检丁件接触面 同隙不应人0.5mm，这个而隙是指模块与被检件间最人的 间隙。因此检测时应选择合适尺的楔块，或者对楔块进行研 磨，使其曲率与道曲率保持一致。 8.2.5TOFD检测应尽可能采用专用的窄脉冲宽频带TOFD探
制探头与焊缝巾心线的偏移，耦合效果也较好，因此应尽可能 采川帮轨道的白动扫查装置。
租应的校准设施，并H制订校准程序。但PAUT设备比较复杂， 对丁水平线性和垂直线性的校准推荐送到有能力的机构进行， 也可出设备生产厂商实施。
8.3.1和控阵检测常旧的试块包括校准试块和模拟试块。校准 试块包含设备和探头性能测试及灵敏度校推功能；模拟试块帮 有焊缝和人工反射体或焊接缺欠，用于工艺验证
8.3.3本条对模拟试块的作用、材质、表面状态及坡口 行了规定。模拟试块的坡订型式应该为同：一种类型，角 存在5° 的差异。
8.3.4模拟试块的厚度充允许一定的覆盖池围，试块与管道壁存
8.3.4模拟试块的厚度充允许一定的覆盖池围，试块与管道壁存 两者间最大差值不大5mm，实际使用中应尽可能便用等壁厚 试块，或者用厚壁试块覆盖薄壁管道
8.3.5模拟试块的反射体的设置主要考两方面因素：
够验证检测范围，包括厚度范围和焊接接头宽度范围：是对 主要缺久的检出能力。因此，设计试块时反射体的布局应覆 焊接接头厚度的上中下层，宽度方向应覆盖热影响区。本规 范1规定的反射体是基本数量，实际应用时可根据需要增加反 射体或缺欠，也可附加一些用丁其他功能验证的反射体，比如 平底孔或者长孔等。对于长横孔和条渣的设置，能设置长横
孔时应首先设置长横孔，受厚和曲率影响无法加工长横孔时 可设置条渣，
8.5.1具备双侧扫查的焊接接头相控阵探头尽可能对称设置， 更于做欠的评定。 .5.2激发孔径可以简单理解为每次激发的晶片数量，本规范 人小壁厚焊缝考虑，要求单次激发的晶片数不少于8个，实际 吃用时根据壁厚不同尽可能用较人的晶片数。 8.5.3扫香方式包括两个方面，一个是电子狗描方式，包括扇 日描和线扫描。另一个是机械运动（探头移动）的方式，包 浩线扫香和锯齿形扫香。道PAUT检测一股来用扇扫描+沿 线扫查或者线扫描+沿线扫查的方式。工艺验证是衡量检测工 是香到达预期效果的王要方式，划果上艺验证无法达到预期 数果，可以采用扇扫描+线扫描+活线扫查的组合扫查方式 8.5.4厨扫描的校准和设置包括三个方面，角度修正（ACG修
8.5.4扇厨扫描的校准和设置包括三个方面，角
正）、声程修正（TCG修正）和灵敏度调试：角度修正通常采用 半圆孤进行，将所有角度的声束国波高度均调整到等量高（一 般为80%）即完成修正。声程修正一般选择一定深度的长横孔， 舒不同声束对长横孔的回波调整到等量高度（一般为80%），即 完成声程修正。灵敏度调试一般采用TCG曲线的方式，将不同 深度长横孔的回波高度均调整到等氧高度（一般为80%），作为 扫查灵敏度。
8.5.5线扫描设置和校谁包括声程修正和灵敏度调试，不需要 进行角度修正，本规范未限定扇扫描及线扫描的校准和设置必 须采用某种试块，允许采用材质相同或相近，功能和灵敏度相 同的等效试块
8.5.5线扫描设置和校谁包括声程修正和灵敏度调试，不需要
8.5.7本条规定了PAUT灵敏度设置和校准，以及表面耦合自
的方式，将不同深度Φ2mm长横孔的回波高度调整到80%波高 （误差为=5%），再增加2dB作为检测灵敏度。调整后实际相当 于Φ2mm+2dB的灵敏度。
.5.8检测不等厚焊11时应保证扫查范围覆盖整个焊接按 括厚壁侧焊接接头，因此可按照两侧的壁厚分别设置， 人均按照原壁侧进行设置
8.5.8检测不等厚焊11时应保证扫查范围覆盖整个焊接接头，
8.5.9本条规定了TOFD通道的设置和校准规定。TOFD 的坐
要作泪是用米辅助PAUT定性，以及缺欠自身高度的测量 出本规池对TOFD的技术规定不是十分详细。TOFD技术 评定方法、缺欠测量方法等可参考现行行业标准《承压 损检测第10部分：衍射时差法超声检测》NB/T470 可有关规定。
0.5.不茶规了稠否坑视通道的设置要求，规定可以采用零 度垂直入射波束来监视耦合效果，耦合监视阈值设置为40%波 高。除耦合监视通道外，还可以通过C扫描和B扫描观察耦合 效果。
规范允许采用软件进行纠正，以充分利用软件的功能，减少返 工，益软件不且备相应的功能，则应调整后重新检测
检测工艺验证是检验检测工艺及其执行止确性的重要环节， 本规范要求在模拟试块上进行验证。验证结果符合本规范规定 的，认为检测L艺可行，则应修收工艺审新进行工艺验证。
8.7.5对只有单侧直的焊缝只能采用单个探头在焊缝一侧 进行扫查，按照本规范第8.5.3条的要求还应该采用一次角度差 别较大的扫查。对·FPAUT捡测，可以采取增加一次线扫描的 方式，采用次波补充扫查，或者增加一次扇扫描方式，采用 次波补充扫查。
8.8.2扫查数据质量是保证完整、止确检测出缺欠的基本条件。 数据质量指标要包括焊缝长度的完整性、检测区城的覆盖 数据丢失及合不良等，.不符合本规范规定时应重新设置和检 测。本规范规定单个合不良长度不得超过5mmDL／T 1115-2019 火力发电厂机组大修化学检查导则，卞要考虑标 准将点状缺久最小值规定为5ⅢⅢ。为防止最小点状缺欠谢检 将允许的最大单个耦合不良的长度规定为最大5mm。 8.8.3当探头距焊缝中心线的距离偏移人丁1mn时，软件具备 步进谢移调整功能时，可采用软件进行调整，但应保证检测范 回覆盖整个焊接接头，否则应新扫查。 8.8.4制管焊缝部位或者扫查面状态较差的部位，尽管经过打 磨修正仍然会对扫查图质量造成不良影响，尤其是TOFD扫查 时往往会降低直通波的幅度。本规范从实际情况出发，允许特
季修止仍然会对扫查图质量造成不良影，无其是TOFD 往往会降低哲匝波的幅度。本规范从实际情况出发，允 朱情况下相应焊缝部位TOFD直通波的幅度可以降低。
8.9.1本条规定了缺欠测量和记录的儿个指标，包括级向位置， 回波幅度，缺欠白身高度及长度等。 8.9.2本条规定厂缺欠最大回波高度的测量方法。扇扫描时， 找到缺欠中不同角度的A扫描最高回波作为该缺欠的波幅。线 形扫描时，找到不同市束中缺欠最高问波波幅作为该缺欠的 波。
的缺欠按累让长度让算和评定
的缺欠按累让长度计算和评定。 。未采用TOFD辅助检测，或TOFD上未对应发现缺欠，或 虽然发现但无法测量时，不再测量缺欠高度，可按照波幅高度 对缺欠进行评判。本规范米采而PAUT测量缺欠高度，是因为 PAUT对缺欠高度测量值比实际值要高出很多，常常会导致较 小高度的缺欠因测量高度超标而返修
8.10.1首先应结合和控阵技术和TOFD技术对缺欠进行定性， 定性内容包括缺欠的性质（种类）、缺欠的形状（条形缺欠或点 状缺欠，币根据欠性顾开展下一步评定工作。 8.10.2本规范规定，指示长度小或等了10mm的、只有一个 最高回波的缺久，评定为点状缺久，点状缺欠不需要测量长度 长度大于10mm的非裂纹性缺欠评定为线状缺欠，线状缺久需 要测量长度、高度及最高回波。 8.10.3最大回波幅值低于满饼高度20%的非危害性缺久可不 予记录，但如果回波低于20%的缺欠通过B扫描、A扫描和 IFD通适判断有裂纹的特征时应记录和评定。 8.10.4和邻两个线状缺久在一条直线上时，基问距小丁较小 的缺久长度时，应作为一个缺欠处理，以两缺欠长度之和作为 其指示长度（不考虑间距），当有第个缺久时应与相邻的缺久 进行比较，不与前两缺欠之和比较。 8.10.5本规范规定了缺欠的分级，其中点状缺欠通过高度进行 分级，高度人于1/2T或3mm的接评为IV级，不则评为Ⅱ级， 无法测高时接照回波幅度进行评定，回波幅度超过80%的接 评为级。线状缺欠分为内表面缺欠和理藏缺欠，通过回波高 度、白身高度和长度三个指标进行评定，基允许的尺小水平与
射线检测标准相当。 8.10.6在焊缝300mm范围内，两个及两个以上的线状缺欠； 在焊缝深度方向上的间距（以缺欠的最近距离计算）小于6mm 时，应对这些缺欠累计评定出现表面缺欠和埋藏缺欠累计评 定时DB31／T 914.2-2015标准下载，按照埋藏缺欠各级别的允许累计长度避行级别评定：：. : .
射线检测标准相当。 8.10.6在焊缝300mm范围内，两个及两个以上的线状缺欠； 在焊缝深度方向上的间距（以缺欠的最近距离计算）小于6mm 时，应对这些缺欠累计评定出现表面缺欠和埋藏缺欠累计评 定时，按照地藏缺欠各级别的允许累计长度避行级别评定。：： .:
和指标与2013年版规范保持