SJ 3249.1-1989 半绝缘砷化镓和磷化铟体单晶材料的电阻率测试方法 更新时间：2009年07月05日 资源 SJ 3249.1-1989 半绝缘砷化镓和磷化铟体单晶材料的电阻率测试方法 立即下载 仅供个人学习 反馈 标准编号：SJ 3249.1-1989 文件类型：.rar 资源大小：0.21 MB 标准类别：电子标准 资源ID：44776 下载资源 SJ 3249.1-1989标准规范下载简介 SJ 3249.1-1989 半绝缘砷化镓和磷化铟体单晶材料的电阻率测试方法 核工业标准 城镇建设标准 铁路运输标准 石油化工标准 机械标准 商业标准 国家计量标准 轻工标准 烟草标准 体育标准 WH文化标准 ©版权声明 资源来自互联网，如有侵权请联系删除 同类资源： 上一篇 SJ 3247-1989 同型砷化镓外延层厚度的红外干涉测试方法 下一篇 SJ 3249.3-1989 半绝缘砷化镓中铬浓度的红外吸收测试方法 相关文章
