GB／T 37951-2019标准规范下载简介

GB／T 37951-2019 微通道板试验方法

暗电流测试装置及测试原理如图4所示

5.3.3.2试验参数

5.3.3.3试验步骤

设置试验参数：用电流计A测量L。

SY／T 6218-2019 套管开窗及侧钻作业方法.pdf5.3.3.4试验数据处理

式中： I d 暗电流密度，单位为安每平方厘米（A/cm"）； Ia 暗电流，单位为安（A）； S。 有效区面积，单位为平方厘米（cm）

式中： I d 暗电流密度，单位为安每平方厘米（A/cm"） Id 暗电流，单位为安（A）； S 有效区面积，单位为平方厘米（cm）

5.3.4增益不均匀性

5.3.4.1仪器设备

增益不均匀性测试装置及测试原理如图5所示；显微镜，放大倍数为10倍

图4暗电流测试原理图

增益不均匀性测试装置及测试原理如图5所示；显微镜，放大倍数为10倍

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图5增益不均匀性测试原理图

5.3.4.2 试验参数

5.3.4.3试验步骤

5.3.4.4试验数据处理

根据可觉察到的荧光屏图像亮暗不均匀分布，判定增益不均匀性。 按分布区域的形状分类，增益不均匀性通常分为： a） 斑点：点状不均匀区域，包括亮点和暗点，亮点的等效直径通常不大于75um，暗点的等效直径 通常不大于300um； b) 网格：以复合纤维（俗称复丝）边界分布的、规则的线条状不均匀区域，包括亮网和暗网，有时 视觉效果表现为亮条或暗条； c) 斑块：不属于上述斑点和网格的其他规则或不规则的、连续或分散的不均匀区域，包括亮斑和 暗斑。 注：当不均匀区域的亮度明显高于正常区域时，称为亮点、亮网和亮斑；反之，称为暗点、暗网和暗斑

5.3.5.1仪器设备

发射点测试装置及测试原理如图6所示；显微镜，放大倍数为10倍

5.3.5.2试验参数

5.3.5.3试验步骤

图6发射点测试原理图

采用可见法试验，主要步骤如下： a）设置试验参数； b）用显微镜观看荧光屏上的图像，观察图像中有无亮点或闪烁； c）当发现有亮点或闪烁时.应调节V.，观察其亮度变化情况

5.3.5.4试验数据处理

若观察到图像中有亮点或闪烁，且随V。的降低而逐渐变暗，并最终消失，则判定为发射！ 或闪烁不随V。的降低而改变，通常考虑场致发射（见5.3.6）的因素

5.3.6.1仪器设备

5.3.6.2试验参数

V.同5.3.4.2d)的要求

5.3.6.3试验步骤

采用可见法试验，主要步骤如下： a）设置试验参数； b）用显微镜观看荧光屏上的图像； c）观察图像中有无亮点或闪烁

5.3.6.4试验数据处理

见察到图像中有亮点或闪炼，则判定为场致发射。

5.3.7.1仪器设备

噪声因子测试装置及测试原理如图8所示

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7场致发射测试原理图

说明： e1 输人电信号： cs 输出电信号； 荧光屏输出光信号；

5.3.7.2试验参数

图8噪声因子测试原理图

5.3.7.3试验步骤

a）样品预处理：按5.4.1的方法对样品进行电子清刷 b） 输入信噪比测试： 1）将未装样品的测试夹具安装在真空室内； 2）设置V。V.； 3）无输人电流时，测量荧光屏输出信号的平均值和偏离平均值的均方根噪声值； 4）2 有输入电流时，再测量荧光屏输出信号的平均值和偏离平均值的均方根噪声值 输出信噪比测试： 1）> 将装有样品的测试夹具安装在真空室内； 2)设置V。、V和V,; 3）无输入电流时，测量荧光屏输出信号的平均值和偏离平均值的均方根噪声值； 4）有输人电流时，再测量荧光屏输出信号的平均值和偏离平均值的均方根噪声值

5.3.7.4试验数据处理

按式（8)分别计算输人信噪比和输出信噪比，计算结果表示到小数点后两位

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S/N 信噪比； S. 有输入电流时，平均信号值，单位为皮安（pA)； S 无输入电流时，平均信号值，单位为皮安（pA）； N. 有输入电流时，偏离平均值的均方根噪声值，单位为皮安（pA）； N. 无输入电流时，偏离平均值的均方根噪声值，单位为皮安（pA）。 按式（9)计算噪声因子，计算结果表示到小数点后两位

式中： NF 噪声因子； (S/N)in 输入信噪比； (S/N)a 输出信噪比。

5.3.8.1仪器设备

数显式万用表，电阻挡精度优于1Q

5.3.8.2 试验步骤

NF= (S/N) in (S/N) out

主要步骤如下： a) 选择合适量程的电阻挡； b) 将样品的输人端朝上，平放工作台面上； c) 用万用表测试笔分别接触输人端电极膜层直径方向的两端，测量输人端电极的电阻，在3个不 同的方向各测量一次； d) 翻转样品使输出端朝上，再按上述步骤c），测量输出端电极的电阻

5.3.8.3试验数据处理

分别计算输入和输出电极的电阻的算术平均值，以欧（2)为单位，计算结果表示到个位。

5.3.9.1仪器设备

寿命试验装置及测试原理同增益测试（见图2）

5.3.9.2 试验参数

V.通常为1000V～1500V； 增益阅值（GL，使用功能允许的最低增益限定值）； g）额定寿命（TL，使用功能要求的最短使用寿命）。 注：试验参数未给定具体数值时.表示参数待定通常由实际需求确定

V.通常为1000V~1500V； f) 增益阅值（GL，使用功能允许的最低增益限定值）； g）额定寿命（TL，使用功能要求的最短使用寿命）。 注：试验参数未给定具体数值时.表示参数待定.通常由实际需求确定

5.3.9.3试验步骤

5.3.9.3试验步骤

主要步骤如下： a）样品预处理：按5.4.1的方法进行电子清刷； b) 设置试验参数； c) 按5.3.1的方法测试增益，首先测量样品的初始值（G。）；若G。≥GL，则开始以下试验步骤；否 则，应更换样品，并从步骤a)开始试验； d) 记录试验的开始时间（时刻t）； 接一定的间隔时间在线测试增益（G，），间隔时间应与使用寿命的充差相适应，监测点还应包 含TL所对应的时间节点，记录所测增益及对应的时间； 若G,≥GL，试验继续，重复步骤e)； g) 直至出现G,

5.3.9.4试验数据处理

使用寿命等于t2和t的时间差；若试验是分段间隔进行的，使用寿命等于累计的实际试验时间 以小时（h）为单位，计算结果表示到个位， 若试验仅需判定使用寿命的符合性，比较T，时刻的增益和GL，判定使用寿命的符合性。 注：在不改变MCP增益失效机理的前提下，可行时（如，生产厂家和顾客双方约定等），按加速试验模型进行使用寿 俞试验.可大幅缩短试验时间

使用寿命等于t2和t，的时间差；若试验是分段间隔进行的，使用寿命等于累计的实际试验时 小时（h）为单位，计算结果表示到个位， 若试验仅需判定使用寿命的符合性，比较T，时刻的增益和GL，判定使用寿命的符合性。 注：在不改变MCP增益失效机理的前提下，可行时（如，生产厂家和顾客双方约定等），按加速试验模型进行使月 命试验，可大幅缩短试验时间

5.4.1.1仪器设备

电子清刷试验装置及测试原理同增益测试（见图

子清刷试验装置及测试原理同增益测试（见图2）

5.4.1.2试验参数

5.4.1.3 试验步骤

主要步骤如下： a）按5.3.1的方法测试电子清刷前的初始增益； b）设暨试验参数：

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c）按规定（如，产品规范、顾客要求等）绘制清刷电流和时间曲线（即清刷工艺）； d) 调节输入电流和V。，使输出电流符合清刷工艺，记录工艺过程及参数； 需要时，分段调整输人电流和V； f 清刷工艺过程结束后，按5.3.1的方法再次测试样品的增益，

5.4.1.4试验数据处理

由试验结果得到电子清刷后的增益，结果表示到

5.4.2.1仪器设备

5.4.2.2试验参数

5.4.2.2试验参数

a) 试验前，按5.3.15.3.6的方法，测试样品的增益、电阻、暗电流密度、增益不均匀性、发射点和 场致发射； b) 然后将样品（端面)竖直放置在专用夹具上，再放人真空烘烤装置内； c） 按规定（如，产品规范、顾客要求等）绘制温度和时间曲线（即高温烘烤工艺）； 设置温度和时间曲线，开始自动烘烤，记录工艺过程及参数； 试验结束后，在样品接近室温时，取出样品； f) 用显微镜检查样品可能出现的物理损坏（如，破损、裂纹、碎等)或变形； g) 按5.3.1～5.3.6的方法，测试样品的增益、电阻、暗电流密度、增益不均匀性、发射点和场致 发射。

5.4.2.4试验数据处理

根据试验观察和检测数据，确定样品是否有物理损坏或变形，以及增益、电阻、暗电流密度、增益 匀性、发射点和场致发射的变化情况

5.5.1温度（高温、低温）

5.5.1.1仪器设备

温度试验箱；MCP电性能测试装置（指综合增益、电阻、暗电流密度、增益不均匀性、发射点和场 射测试功能的装置，见5.3.1～5.3.6）；显微镜，放大倍数为10倍

5.5.1.2试验参数

5.5.1.3试验步骤

主要步骤如下： a）试验前，按5.3.1～5.3.6的方法，测试样品的增益、电阻、暗电流密度、增益不均匀性、发射点和 场致发射； b) 将样品放在夹具上，然后放人温度试验箱内； c) 根据产品规范的温度试验条件，确定温度和时间曲线； d) 高温试验：按照温度和时间曲线，升温至需要的温度，并保持恒温；在温度试验箱中自然降温至 室温，或按规定的曲线降温； e） 低温试验：按照温度和时间曲线，降温至需要的温度，并保持恒温；在温度试验箱中自然升温至 室温，或按规定的曲线升温； 样品接近室温后，取出样品； 用显微镜检查样品可能出现的物理损坏（如，破损、裂纹、碎等）或变形； 按5.3.1~5.3.6的方法，测试样品的增益、电阻、暗电流密度、增益不均匀性、发射点和场致 发射

a) 试验前，按5.3.1～5.3.6的方法，测试样品的增益、电阻、暗电流密度、增益不均匀性、发射点和 场致发射； b 将样品放在夹具上，然后放人温度试验箱内； c) 根据产品规范的温度试验条件，确定温度和时间曲线； 高温试验：按照温度和时间曲线，升温至需要的温度，并保持恒温；在温度试验箱中自然降温至 室温，或按规定的曲线降温； e) 低温试验：按照温度和时间曲线，降温至需要的温度，并保持恒温；在温度试验箱中自然升温至 室温，或按规定的曲线升温； f) 样品接近室温后，取出样品； g) 用显微镜检查样品可能出现的物理损坏（如，破损、裂纹、碎等）或变形； h) 按5.3.1~5.3.6的方法，测试样品的增益、电阻、暗电流密度、增益不均匀性、发射点和场致 发射

5.5.1.4试验数据处理

5.5.2.1仪器设备

温度试验箱；MCP电性能测试装置（指综合增益、电阻、暗电流密度、增益不均匀性、发射点和场 射测试功能的装置，见5.3.15.3.6）

温度试验箱；MCP电性能测试装置（指综合增益、电阻、暗电流密度、增益不均匀性 发射测试功能的装置，见5.3.1~5.3.6）

5.5.2.2 试验参数

5.5.2.3试验步骤

主要步骤如下： a）采用温度试验箱控制MCP电性能测试装置中的样品温度； b）试验前，按5.3.1和5.3.2的方法测试增益和电阻的初始值： c）按产品规范要求的温度变化条件，确定温度和时间曲线；

主要步骤如下： a）采用温度试验箱控制MCP电性能测试装置中的样品温度； b 试验前，按5.3.1和5.3.2的方法测试增益和电阻的初始值； c） 按产品规范要求的温度变化条件，确定温度和时间曲线；

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d) 接按温度和时间曲线，由室温升至规定的最高温度，并保温，按5.3.1和5.3.2的方法测试样品的 增益和电阻； e) 自然降温，或按规定的曲线降温； 再按温度和时间曲线，由室温降至规定的最低温度，并保温，按5.3.1和5.3.2的方法测试样品 的增益和电阻： 自然升温，或按规定的曲线升温； h) 样品接近室温后，取出样品

按温度和时间曲线，由室温升至规定的最高温度，并保温，按5.3.1和5.3.2的方法测试样品的 1 增益和电阻： 自然降温，或按规定的曲线降温； 再按温度和时间曲线，由室温降至规定的最低温度，并保温，按5.3.1和5.3.2的方法测试样品 的增益和电阻： 自然升温，或按规定的曲线升温； h）样品接近室温后.取出样品

5.5.2.4试验数据处理

数据，分别比较温度在最大值、最小值时的增益和

5.5.3.1仪器设备

振动台；显微镜，放大倍数为10倍 能测试装置（指综合增益、电阻、暗电流密 益不均勾性、发射点和场致发射测试 5.3.6

5.5.3.2试验参数

正弦振动； b) 振动频率； c) 振动幅度，或峰值加速度： d) 加载方向：垂直和平行于轴线（端面法线的方向）的方向，或应用所需要的方向； e) 持续时间； f) 扫频速率（扫频振动试验时）

a）正弦振动； b) 振动频率； 振动幅度，或峰值加速度； d) 加载方向：垂直和平行于轴线（端面法线的方向）的方向，或应用所需要的方向； e) 持续时间； f) 扫频速率（扫频振动试验时）

5.5.3.3试验步骤

主要步骤如下： 将样品装入试验组件，然后按规定的方向固定在振动台上； b) 设置试验参数： c) 加载振动波，保持到规定的响应时间，停止加载 d) 调整试验组件为所需的方向，加载振动波，持续规定的加载时间； e) 直至完成全部方向的试验为止； f) 卸下试验组件，取出样品； g) 用显微镜目视检查样品可能出现的物理损坏（如，破损、裂纹、碎等）

将样品装入试验组件，然后按规定的方向固定在振动台上；

5.5.3.4试验数据处理

5.5.4.1仪器设备

冲击台；显微镜，放大倍数 ，MCP电性能测试装置（指综合增益、电阻、暗电流密度 增益不均匀性、发射点和场致发射测试功能的 置，见5.3.1～5.3.6)

5.5.4.2试验参数

主要参数如下： a) 频率； b) 加速度； c) 加载方向：垂直和平行于轴线（端面法线的方向）的方向，或应用所需要的方向； d) 冲击次数，通常为3次/向。

王要参数如下： a) 频率； b) 加速度； c) 加载方向：垂直和平行于轴线（端面法线的方向）的方向，或应用所需要的方向； d 冲击次数，通常为3次/向。

5.5.4.3试验步骤

王要步骤如下： a) 将样品装入试验组件，然后按规定的方向固定在冲击台上； b) 设置试验参数； c） 加载冲击波； d) 按规定的冲击次数，重复进行冲击波加载； e) 取出样品试验夹具，调整所需的方向再固定到冲击台上； f) 直至完成全部方向的试验为止； 取出样品； h) 用显微镜目视检查样品可能出现的物理损坏（如，破损、裂纹、碎等）

主要步骤如下： a) 将样品装入试验组件，然后按规定的方向固定在冲击台上； b) 设置试验参数； c） 加载冲击波； d) 按规定的冲击次数，重复进行冲击波加载； e) 取出样品试验夹具，调整所需的方向再固定到冲击台上； f) 直至完成全部方向的试验为止； g) 取出样品； h) 用显微镜目视检查样品可能出现的物理损坏（如，破损、裂纹、碎等）

5.5.4.4试验数据处理

5.5.5.1仪器设备

离心机；显微镜，放大倍数为10倍；需要时，MCP电性能测试装置（指综合增益、电阻、暗电流密 益不均勾性、发射点和场致发射测试功能的装置，见5.3.1～5.3.6）

离心机；显微镜，放大倍数为10倍；需要时，MCP电性能测试装置（指综合增益、电 增益不均匀性、发射点和场致发射测试功能的装置，见5.3.1～5.3.6）

DBJ／T15-168-2019 广东省建筑节能管理信息数据元5.5.5.2试验参数

主要参数如下： a）加速度； b) 加载方向：垂直和平行于轴线（端面法线的方向）的方向，或应用所需要的方向； c) 加载速度； d) 保持时间。

5.5.5.3试验步骤

GB/T379512019

a）将样品装入试验组件，然后按规定方向固定在离心机上； b）设置试验参数； c） 开启离心机，使样品达到规定载荷的相应转速； d) 离心机转速稳定后，保持至规定的响应持续时间，停下离心机；若同一方向需要多次加载时，在 离心机停稳后继续进行下一次加载试验，直至完成所需的加载次数为止； e) 调整所需的样品方向，按上述步骤继续试验，直至完成全部方向的试验为止； f) 关闭离心机，取出样品； 用显微镜目视检查样品可能出现的物理损坏（如，破损、裂纹、碎等）

DB37／T 3264-2018 煤矿在用竖井提升系统防坠器安全检测检验规范5.5.5.4试验数据处理