标准规范下载简介
SY／T 7636-2021 水下电力与光纤接头及飞线的功能设计与测试技术规范.pdf9.6.2.2.2试验方法
SY/T 76362021由于接头的不正确朝向，未观察到任何一端的接头损坏。9.6.2.3飞线操作模拟试验（特指干式对接）9.6.2.3.1试验目的该试验的目的是验证组装好的接头和相关的飞线组件的设计是否足以承受车间搬运和上部组块安装期间的正常搬运负荷。9.6.2.3.2试验方法飞线组件应以“8字形”盘绕，以达到最小弯曲半径。然后，应将飞线卷开并放直。该程序应执行10 次。测试完成后，应目视检查飞线是否损坏，并测试：a）电连续性；b）绝缘电阻：c）光插人损耗和回波损耗。9.6.2.3.3验收标准不应在接头的任何一端上观察到任何损坏，并且电气和光学测试的结果满足接头设计规范。10FAT要求10.1通则FAT的目的是验证每个接头／飞线组件的质量。所有交付的干式对接接头、湿式对接接头和飞线组件应按照批准的程序通过FAT。该试验至少应基于本条规定的建议和验收标准。本条中涉及的试验应为单一性能的检测试验，以便供应商／制造商选择针对特定产品设计的适用测试。供应商／制造商应制定并实施经有资质人员批准的测量／试验设备校准要求。验收用的检验、测量和试验设备应在其校准范围内使用。试验设备应接照符合国家或国际标准的供应商制造商要求，每隔一定时间进行鉴定、控制、校准和调整。形成文件的测试程序应确定所需的测量参数和验收标准。验收标准应包括测试仪器的公差。外观检查应记录在测试文件中。所有测量参数应记录在测试报告中。验收标准应着重于检测组件和连接的固有缺陷，而不限于“适合使用”的评价。验收标准应定义为测试的最低要求。湿式对接接头的FAT可分为以下部分，并见表13至表16。表13FAT要求综述（湿式对接）最低FAT试验要求综述湿式对接接头功能试验类型条款编号接触电阻试验弱电流10.2.1.1壳连续性试验10.2.1.2电气绝缘电阻试验10.2.1.3验证电压试验10.2.1.4以太网试验表30（如适用）11.6.1141
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表 14 FAT 要求汇总表 (干式对接)
SY/T 76362021对于飞线组件施工现场安全防护施工方案，下面列出的部分适用于FAT程序的一部分。如果飞线组装过程不影响测试性能，则不需要重复已作为接头FAT的一部分执行的接头试验在飞线上进行的试验不需要在接头上进行。表15FAT要求综述（飞线组件）最低FAT试验要求综述一飞线组件功能测试类型条款编号接触电阻试验弱电流10. 2. 1. 1壳连续性试验10. 2. 1. 2绝缘电阻试验10. 2. 1. 3电气验证电压试验10. 2. 1. 4飞线组件阻抗试验10. 4. 1以太网试验表30（如适用）11. 6. 11光插入损耗试验10. 2.2. 1光学光串扰试验10. 2. 2. 2光回波损耗试验10. 2. 2. 3气体泄漏试验10. 2. 3. 1机械锁紧装置试验10. 2. 3. 2对接验证试验10. 2. 3. 3ESS试验环境压力筛选试验10. 2. 4高压舱飞线组件下放试验10. 4. 2公差检查供应商／制造商定义视觉检查接口检查供应商／制造商定义标记验证供应商／制造商定义对于干式对接飞线组件，下面列出的部分适用于FAT程序的一部分。如果飞线组装过程不影响测试性能，则不需要重复已作为接头FAT的J一部分执行的接头试验。在飞线上进行的试验不需要在接头上进行。表16FAT要求综述（干式对接飞线组件）最低FAT试验要求综述±——干式对接飞线组件功能测试类型条款编号接触电阻1—弱电流10.2.1.1壳连续性 (如适用）10.2.1.2绝缘电阻10.2.1.3电气验证电压10.2.1.4飞线组件阻抗测试10.4.1以太网（表30）（如适用)11.6.1143
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10.2.1.1 接触电阻试验弱电流
接触电阻应是从用于连接导线到触点的点（即焊点／压接点）之间测量的电压降（仅在额定电流 下）或使用相同测量精度的欧姆表（4线开尔文型测量）测量。当测量为线电阻，如外部引线时，应 在接头和导线终端连接之前测量和验证导线电阻。在任何情况下，导线的电阻都不会使测量精度降 低。应记录实际测量值。 弱电流试验要求用不超过50mA的直流电测量单个触点的线电阻。在测量过程中，开路电源电压 不应超过直流电源20mV
10.2.1.1.3验收标准
10.2.1.2壳连续性试验
10.2.1.,2.1 试验目的
壳连续性试验应适用于带阴极保护的接头。该试验的目的是确定具有金属外壳的接头之间的 以便在对接时提供电连续性。
10.2.1.2.2试验方法
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连接有绞线或壳连接线的自由端和安装在 的固定端。应记录实际测量值。
10.2.1.2.3验收标准
10.2.1.3绝缘电阻试验
10.2.1.3.1 试验目的
10.2.1.3.2试验方法
10.2.1.3.3验收标准
10.2.1.4,1 试验目的
该试验用于验证绝缘隔离和触点／电路间距是否足以防止发生闪络，将验证电压下接头的电流泄 漏或绝缘击穿概率降至最低。
10.2.1.4.2试验方法
10.2.1.4.3验收标准
无绝缘击穿迹象，无闪络迹象，并测量和记录氵
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10.2.2光学试验要求
10.2.2.1光插入损耗（IL）试验
.1 光插入损耗 (L) 讨
10.2.2.1.1 试验目的
该试验用于确定通过光学系统组件的光插入损耗。这可以定义为接头对、穿透器、线束或任何 目关光学系统组件。
10.2.2.1.2试验方法
10.2.2.2.1试验适用范围
10,2.2.23验收标准
10.2,2.3,1试验目的
10.2.2.3.2试验方法
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此后，应在FAT期间根据需要 该试验的目的是确定线路中被测设备的损耗数据，该损耗不包括实验装置的损耗
10.2.2.3.3验收标准
10.2.3机械试验要求
10.2.3.1 气体泄漏试验
10.23.1.1通则
该试验用于在装配的最后阶段进行验证，以确保密封件正确安装且没有泄漏。 本条描述了使用氯或氮作为试验介质的替代试验方法。由于软管的吸收/渗透特性，氯试验不能 在软管组件上进行。电线/充液软管和海水之间所需的双密封应单独测试，而双O形圈在大多数情况 下不能单独测试。应在接头上进行气体泄漏试验，包括飞线组件端部配件和隔板电缆终端（如果适用 于设计），以验证所有密封元件。 注：正确使用真空技术，在短时间氮气吹扫后（通常远小于1min），可以立即发现密封泄漏。如果的使用周 期较长（通常大于5min），则可能会通过软材料（密封、薄膜、 非金属部件）扩散，这将使测试结果的解释 变得复杂。 试验程序宜考虑扩散效应，测试设备供应／回流线路宜短，这样有助于测试的成功。当通过双层 多层密封或双串/多串焊缝进行测试时，泄滑指示将延迟，很难区分泄漏和扩散
10.2.3.1.2氢真空技术
10.2.3,1,2.1试验方法
10.2.3.1.3.1试验方法
如果采用膜探技术对连续生产设备进行气密性检测，则宜采取措施防止试验室／区域内气相对 空气的比例发生变化。 要测试的密封屏障／终端腔宜完全密封（以收集泄漏）。嗅探探头宜放置在密封空间内的相关位 置（如需要）。 每一个探测试，即每一个要测试的密封屏障／终端腔，都应有经过验证的校准程序。在制定每
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个校准程序时，应记录一个可接受的嗅探信号。由于与这种嗅探测试方法的不确定性，嗅探器信号的 安全系数宜至少为10，以解释有误差的地方。 10.2.3.1.3.2验收标准 基于对每个测试案例/设计解决方案的记录分析。 10.2.3.1.4飞线氮泄漏技术 10.2.3.1.4.1 试验方法 飞线组件应使用氮气加压至1.5×10Pa，并浸人水中至少15min。 10.2.3.1.4.2 验收标准 试验期间未观察到气泡。 10.2.3.1.5 飞线氢泄漏技术 10.2.3.1.5.1 试验方法 飞线组件应使用氮气加压至最小2×10'Pa，压力应稳定并保持至少30min。对于超过30m的飞 线，每增加20m，保持时间应增加10min。 10.2.3.1.5.2 验收标准 压降小于3×10°Pa。 10.2.3.2 锁紧装置试验 10.2.3.2.1 试验目的 该试验的目的是验证锁紧机构能否正常工作，以及锁紧机构是否对接头造成机械损伤。 10.2.3.2.2试验方法
10.2.3.2锁紧装置试验
10.23,2.1试验目的
接头对应通过手动或合适的对接工具对接。该试验可与其他试验相结合，以提高FAT的效率。
10.2.3.,2.3验收标准
由于接头的方向不正确（如果可能），接头对的任何一端未发现损坏。应检查接头是否处于清 紧位置，解锁锁紧机构，分离接头
10.2.3.3对接验证试验
10,2.3.3,1试验目的
该试验用于验证接头的对接机构。
0.2.3.3,2试验方法
该试验应在固定端和自由端接头下进行。接头对应通过手动或合适的对接工具对接。该试验可 试验相结合，以提高 FAT 的效率。
10.2.3.3.3验收标准
10.2.3.4 CT/X 射线
10.2.3.4,1试验目的
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该试验的目的是验证安装在关键装置（如水下脐带缆终端）上的接头的正确焊接填充等级和火 量。
10.2.3.4.2试验方法
每个焊接点应在相差90°的两个角度进行X光或CT扫描。 每个电接头的焊接程序应由执行操作人员签字并由质量检验员会签。
10.2.3.4.3验收标准
10.2.4 ESS测试环境压力筛选试验
10.2.4.1 试验目的
如果接头和分线盒只包含拼接或布线电缆，且设计上至少100个元件的测试结果没有发现缺陷， 则可省略该试验。应对包含以太网电缆、光纤、电阻器或其他组件的接线盒进行测试。 该试验的目的是发现由于工艺缺陷引起的潜在故障。
10.2.4.2试验方法
接头：通常永久连接至水下设备的接头固定端应以正常 应与接头固定端连接。如果需要，电缆和光纤可以固定在 接线盒：接线盒应固定在振动设备上。如果需要 接头 如图3所示，随机振动应持续10min，具有以下特性： a）20Hz～80Hz，以3dB/倍频程上升； b）80Hz～350Hz，保持在0.04g sq/Hz; c）350Hz～2000Hz，以3dB/倍频程衰减； d）复合激励电平应为6gims。 测试完成后，应目视检查两个接头是否损坏，并测试： a）线路电阻，连续性； b）壳连续性（如适用）； c）绝缘电阻； d）光插入损耗和回波损耗； e）以太网通信（如适用）
10.2.4.3验收标准
包括以下内容： a）在设计规范中规定的接头的任何一端都不能观察到损坏
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b）振动期间未检测到间歇性接触或衰减增加（电气或光学）。这应通过使用具有触发功能的适 测试设备（如用于电气连续性的示波器）进行连续监测来验证。 c）振动期间和振动后的电气和光学测试结果符合接头设计规范。 d）应记录实际测量值。
图3频率范围内的加速度谱密度
10.2.5.1 试验目的
该试验的目的是验证每个产品接头在指定测试压力下的正确操作。在对接头进行高压试验之前， 接头的两端应完成所有产品泄漏试验。压力变化率应约为3.5×10°Pa/min。
10.2.5.2试验方法
在试验过程中，应在每个压力变化阶段后记录以下参数： a）壳连续性（如适用）； b）绝缘电阻; c）光插人损耗; d）光回波损耗； e）测试前后应测量线路电阻。 试验程序见表 17。
10.2.5.3验收标准
接头的电气和／或光学性应在整个试验过程中符合规范要求
10.3最低 FAT 要求
0.3 最低 FAT 要求一一干式对接接头
10.3.1机械试验锁紧装置试验 (干式对接)
10.3,1.1 试验且的
该试验的目的是验证干式对接接头锁紧机构（例如螺纹、卡栓、卡扣）是否正常工作，以及锁 勾是否对接头造成机械损坏。
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表18 单接头高压舱试验(对接
单接头高压舱试验程序（对毛
10.3.2.3验收标准
10.4.,2,1试验目的
10.4.2.2试验方法
在进行高压舱试验之前，飞线组件应完成所有产品泄漏试验。 压力变化率应约为3.5×10°Pa/min。 在该试验过程中，应在压力循环顺序内的每个保持点记录以下参数
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a)绝缘电阻； b）光插人损耗； c）光回波损耗； d）以太网通信（如适用)。 预充压应在高压试验前记录。高压试验前后均应记录线电阻。试验程序见表 19
表 19飞线组件高压舱试验
10.4.2.3验收标准
10.5.1.1 试验目的
飞线组件高压舱试验程序
该试验的自的是验证在规定的测 飞线组件，并确保飞线由于压力变化而引起 本体膨胀或者收缩时，内部的
10.5.1.2 试验方法
在进行高压试验之前，飞线组件应完成所有产品泄漏试验。 所有密封件应在配置（压力平衡或压差）下进行试验。 在试验压力容器干燥的情况下，产品干式对接接头应与试验使用的接头或其他产品干式对接接头 相对接。应提供隔板贯穿件，以便对每个回路进行循环或单独测试。在剩下的试验中，接头应保持这 种配置。 压力变化率应约为3.5×10°Pa/min。 在试验过程中，应在表20中记录以下参数： a）绝缘电阻； b）光插人损耗： )光回波损耗，
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d）以太网通信（如适用）。 预充压应在高压舱试验前记录。高压试验前后均应记录线电阻。试验程序见表20
表 20 干式对接飞线组件高压舱试验 (对接)
10.5.1.3验收标准
在整个测试过程中，飞线的电气和/或光学性能应满足规范要
表21SIS 双绞线链路段测试点
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11.2 SIIS 双绞线链路段传输和耦合参数
11.2.2SIIS链路段插入损耗
Lingm2.1052 (B)
11.2.3SIS 链路段差分特性阻抗
链路段（包括电缆和连接硬件）的标称差分特性阻抗在1MHz和100MHz之间的所有频率下 Q。100Q 是参考阻抗。只要满足回路损耗要求, 可以改变链路段部件的100Q阻抗值
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11.2.4SIIS链路段回波损耗
链路段回波损耗应在所有频率（1MHz ～100MHz）下大于或等于使用表22确定的值。参考阻 为1000。
表 22 SIIS双绞线链路段回波损
11.2.5 SIS 链路段差分近端串扰 (NEXT)
为了限制一个链路段近端串扰，在从1MHz～100MHz 的所有频率下，链路段2对之间的差分近 端串扰损耗应满足公式（4)确定的值。
11.2.6 SIIS 连接段 ACRF (仅供参考)
式中： 一频率，单位为兆赫（MHz)。 注：ACRF在IEEESA802.3和TIAEIA中被称为ELFEXT
注：ACRF在IEEESA802.3和TIA/EIA中被称为ELFEXT
11.2.7 SIIS 链路段传输延迟偏差
SIIS链路段传输延迟偏差在10MHz时应小于50ns。 SIIS 链路段传输延迟应满足或小于使用公式（7）确定的值
Propdelayabk,10m≤534 + +4×2.5 f
式中： 频率，单位为兆赫 (MHZ)。
11.3湿式对接接头传输和耦合参数
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11.3.2湿式连接硬件插入损耗
对于1MHz～20MHz的所有频率，最小回波损耗宜是19dB或更天。对于从20MIHz～100MHz 的所有频率，最小回波损耗宜遵循表24。选择这些回波损耗值是为了将峰值反射电压限制在20MHz 以下或 7% 以内, 限制在 20MHz ~ 100MHz或 20% 以内, 见表 24,
表24连接硬件回波损耗
11.3.4湿式连接硬件 NEXT 损耗
对于干扰和干扰对的任何组合，最坏情况下的接头NEXT损耗宜满足在1MHz～100MHz自 频率下使用公式（8）确定的值。
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频率，单位为兆赫（MHz)。 AXT 损耗应比 NEXT 要求小10dB。以公式 (5）为例
11.3.5湿式连接硬件FEXT损耗（仅供参考
最坏情况下，接头远端申扰损耗（FEXT）宜满足公式（(9）在1MHz ～100MHz的所有频率下确 定的值，
式中： —频率，单位为兆赫（MHZ)
11.4 SCM 和传感器测试点
11.4 SCM 和传感器测试点
SCM和传感器测试点（TP1～TP3和TP4 TPo)。 应在TP1～TP3处验证SCM传输和耦合参数，应在TP4～TP6处验证传感器传输和耦合参类 回波损耗和NEXT的公式是基于以下假设：可选接头不被使用，或位于远离其他接头的位置。 多个靠近的连接点，NEXT和回波损耗会受到不利影响。在任何含有多个接头的系统中，都宜 体检查 (TP1 ~ TP2)。
行整体检查（TP1 ～ TP2)。 11.4.2 SCM和传感器测试点（TP1～TP3和 TP4 ～ TP6）插入损耗 TP1 ～ TP3和 TP4 ～ TP6 的插人损耗应满足在 1MHz ～ 100MHz的所有频率下使用公式（10） 确定的值，
式中： 频率，单位兆赫 (MHz).
频率，单位兆赫（MHz)。
11.4.3 SCM 和传感器测试点 (TP1 ~ TP3 和 TP4 ~ TP6) 回波损耗
对于1MHz和20MHz之间的所有频率，最小回波损耗应为19dB或更大。对于20MHz MHz的所有频率，最小回波损耗应符合表25的规定。
表 25 TP1 ~ TP3 和 TP4 ~ TP6 回损
SCM 和传感器测试点 (TP1 ~ TP3 和 TP4 ~
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对于干扰和干扰对的任何组合，最坏情况下的接头NEXT损耗应满足在1MHz～100MHz白 频率下使用公式(11) 确定的值。
式中： f一频率，单位为兆赫(MHz)。 AXT 损耗应比NEXT 要求小 10dB。以公式 (5)为例
水下链路段组件测试点（TP2 ～TP5） 应在TP2～TP5处验证水下链路段组件传输和耦合参数。用于回波损耗和NEXT的公式是基于 以下假设：可选接头不被使用，或位于远离其他接头的位置。由于有多个靠近的连接点，NEXT和 回波损耗会受到不利影响。在任何含有多个接头的系统中，都宜进行整体检查（TP1～TP2）。由于 TP1 ～ TP3 和 TP4 ~ TP6 的长度消耗,该长度段限制在 90m。 TP1 ~ TP6 的总长度限制在 100m。
11.5.2链路段组件插入
11.5.3链路段组件差分特性阻抗
0.4 L (dB) f 满足插入损耗规范
每个链路段组件（包括电缆和连接硬件）的标称差分特性阻抗在1MHz和100MHz之间的所有频 率下均为1000
11.5.4链路段组件回波损耗
链路段组件的回波损耗应大于或等于在1MHz～100MHz的所有频率下使用表26确定的值。参 考阻抗应为100Q
表 26 链路段组件回波损耗
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11.5.5链路段组件差分近端串扰（NEXT)
为了限制在链路段组件的近端串扰，在1MHz～100MHz的所有频率下，链路段的两对之间的 寸近端串扰损耗应满足公式（13）所确定的值
一频率，单位为兆赫(MHz)。 AXT 损耗应比 NEXT 要求小10dB。以公式（5）为例,
11.5.6链路段传输延迟偏差
在10MHz下测得的链路段传输延迟偏差应小于50ns.
11.5.7链路段传输延迟
式中： f频率，单位为兆赫(MHz)
11.6SIS链路段电缆
11.6.2电缆互电容
当根据ASTMD4566的规定进行测量时，任何一对在1kHz、在20℃下测量或 容不得超过5.6nF/100m(328ft)
11.6.3电缆结构回波损耗
100Q电缆的SRL应大于或等于在1MHz～100MHz的所有频率下使用表27确定的值。参考 应为1000。
结构回波损耗，最差对「长度为100m(328ft)
11.6.4 电缆回波损耗
100Q电缆回波损耗应大于或等于在1MHz～100MHz的所有频率下使用表28确定的值。参考 6
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电缆回波损耗, 最差对「长度为 100m (328ft)
11.6.5电缆插入损耗
根据ASTMD4566，在20℃下测量或校正至20℃的任何电缆对的最大插人损耗，单位 [100m,应小于或等于在 1MHz ～ 100MHz 的所有频率下使用公式（15)确定的值
11.6.6电缆NEXT损耗
1.6.7电缆FEXT损耗或ACRF（仅供参考）
电缆ACRF 宜满足从1MHz ～100MHz所有频率下使用公式（17）确定的值
F频率，单位为兆赫(MHz)。
11.6.8电缆传输延迟偏
在1MHz ～100MHz的所有频率下，水平电缆传输延迟偏差应小于45ns/100m。此外，所有对之 间的传输延迟偏差与测量值的偏差不得超过土10ns
11.6.9 电缆传输延迟
传输延迟应满足或小于使用公式（18）确定的值
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频率水利施工方案，单位为兆赫(MHz)。
.6.10电缆回波损耗和ELFEXT测量注意事项
回波损耗和ELFEXT的传输测量宜在从卷筒或包装上取下的100m（328ft）电缆样品上进行。 宜沿非导电表面铺设或架空支撑，所有电线对宜使用100Q土1%精密金属膜电阻或贴片电阻端接
11.6.11 试验参数
图4中描述的测试点和相应的传输和耦合参数规范为SIS链路段、链路段组件和元件（湿式对 接接头和电缆）的验收标准提供了依据。 验收标准试验参数和试验点见表29和表30
表29鉴定试验的验收标准
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东顺苑施工组织方案2022年1月北京第1版 2022年1月北京第1次印刷 书号：155021·8392定价：78.00元 版权专有不得翻印