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JB／T 8949.1-2013 普通整流管 第1部分：螺栓形器件.pdf

ICS31.080.10 K 46 备案号：40653—2013

华人民共和国机械行业标准

普通整流管 第1部分：螺栓形器件

中华人民共和国工业和信息化部发布

安全施工组织设计1 中华人民共和国工业和信息化部发布

前言 范围 规范性引用文件. 型号和尺寸， 3.1型号. 3.2图形符号和端（子）识别 3.3尺寸. 额定值和特性 4.1 参数的级数， 4.2 额定值， 4.3 特性值. 4.4 特性曲线（不作为检验要求） 检验规则 5.1 逐批检验（A组检验） 周期检验（B组和C组检验） 5.3 鉴定试验（D组试验） 质量评定类别 标志、包装、贮存和订货单 7.1 标志 7.2 包装. 7.3 贮存 7.4 订货单 附录A（规范性附录）抽样表 A.1AQL抽样表. A.2追加抽样表 附录B（规范性附录）密封细检漏可接受的泄漏率 图1整流管的图形符号和端（子）识别标志 图2 整流管的尺寸 表1整流管的尺寸 表2最大额定值 表3特性值 表4逐批（A组）检验， 表5 周期（B组）检验 表6 周期（C组）检验 表7 鉴定（D组）试验. 表A.1 AQL抽样表 表A.2 追加抽样表 表B.1 密封细检漏可接受的泄漏率

JB/T8949.12013

JB/T8949《普通整流管》共分为两个部分： 一第1部分：螺栓形器件； 一第2部分：平板形器件。 本部分为JB/T8949的第1部分。 本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本部分代替JB/T8949.1一1999《电流小于100A普通整流管》，与JB/T8949.1一1999相比主要技术变 化如下： 正向平均电流扩展为500A，对应的管壳型号相应调整； 修改了规范性引用文件（见第2章，1999年版第2章）； 删除了反向重复峰值电压的级数表（1999年版的表2）； 修改了对额定值的规定（见表2，1999年版的表3）： 修改了对特性值的规定（见表3，1999年版的表4)； 修改了应在企业标准或产品使用说明书中给出的特性曲线种类（见4.4，1999年版的4.4)； 删除了逐批检验（A组）中的A2a分组（1999年版的表5）； 修改了周期检验（B组）中，B5分组密封检验的方法和合格判据（见表5，1999年版的表6)； 删除了周期检验（B组）中的尺寸项目和周期检验（C组）中的IRRM项目（1999年版的表6和表 7); 修改了周期检验（C组）中，Rjc项目的抽样方案（见表6，1999年版的表7)； 质量评定类别单独作为一章（见第6章，1999年版的6.1)； 一修改了附录A（见附录A，1999年版附录A）； 增加了附录B（见附录B）。 本部分由中国机械工业联合会提出。 本部分由全国输配电用电力电子器件标准化技术委员会（SAC/TC413）归口。 本部分起草单位：湖北台基半导体股份有限公司、江苏威斯特整流器有限公司、浙江正邦电力电子 有限公司、西安电力电子技术研究所。 本部分主要起草人：肖彦、蒋建明、项卫光、郭永忠、徐志文、蔚红旗。 本部分所代替标准的历次版本发布情况为： Q/D87—1965、JB1143—1971、JB1143—1975、JB/T8949.1—1999

普通整流管第1部分：螺栓开

JB/T8949的本部分规定了管壳额定正向平均电流5A～500A螺栓形普通整流管（以下简称整流管） 的型号和尺寸、额定值和特性、检验规则、质量评定类别、标志、包装、贮存和订货单。 本部分适用于整流管。

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。 凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T4023半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T4937—1995半导体器件机械和气候试验方法 JB/T2423电力半导体器件型号编制方法 JB/T4277电力半导体器件包装 JB/T7624一2013整流二极管测试方法

按JB/T2423规定，整流管的型号应符合如下规定：

3.2图形符号和端（子）识别

阻断电压的级数（反向重复峰值电压的1/100） 正向平均电流值［单位为安（A）] 器件系列为普通型 器件门类为整流管

整流管的图形符号和端（子）识别标志如图1所示。 端（子）识别标志如图1所示，或用颜色识别：红色标识阴极端子，如阳极端子也用色标时， 蓝色（或黑色）。

图1整流管的图形符号和端（子）识别标志

每批产品应按表4检验。表4中的项目全部为非破坏性。 AQL抽样方案见表A.1。如初次提交不合格，应加严一级重新提交再次检验，但只能重新提交一次。

表4逐批（A组）检验

5.2周期检验（B组和C组检验）

正常生产的定型产品除每三个月进行一批易焊性试验（B4）外，还应按表5和表6每年至少进行 批B组和C组检验。其中，检验项目栏标有（D）的是破坏性试验。 A组、C1和C2分组试验后的样品可用于其他项目检验，B3、B4分组试验可采用电特性不良的样 品 如初次检验不合格，应按表A.2追加抽样再次检验，但只能追加一次。

表5周期（B组）检验

适用本部分的产品的质量评定类别为I类。其最低要求为：该类器件符合IⅡI类或IⅢI类鉴定批准要求。 各批都符合A组检验要求。每三个月对一批进行易焊性检验，应符合要求。每年进行一批B组和C组 检验，应符合要求。 注：参见GB/T4589.1和GB/T12560

7标志、包装、购存和订货单

7.1.1产品上的标志

产品上的标志包括： a）产品型号、规格； b）端子识别标志； c）制造厂商名称标识或商标； d）检验批识别代码（产品批号或序号）

7.1.2包装盒（袋）或所附说明书上的标志

包装盒（袋）或所附说明书上的标志包括： a）产品型号和本部分编号； b）制造厂商名称和（或）商标； c）检验批识别代码（产品批号或序号）； d）防潮、防雨标志。

产品包装应符合JB/T4277的规定

JB/T8949.1—2013

DB34／T 789-2013标准下载附录B （规范性附录） 密封细检漏可接受的泄漏率

表B.1给出了密封细检漏可接受的泄源

表B.1给出了密封细检漏可接受的泄漏率。

1密封细检漏可接受的

三合卫生院灾后重建工程施工组织设计打印日期：2014年2月24日F007

版权专有侵权必究 书号：15111：10997

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