GB／T 36416.2-2018标准规范下载简介
GB／T 36416.2-2018 试验机词汇 第2部分：无损检测仪器质谱管spectrometertube 质谱检漏仪的敏感元件。 [GB/T12604.7—2014，定义2.129]］ 2 离子源ionsource 检漏仪探测管的一部分，示踪气体被探测之前预先在其中电离。 LGB/T12604.7—2014.定义2.105
泄漏检测灵敏度sensitivityofleaktest 在规定条件下，仪器、方法或系统能够检出的最小漏率。 [GB/T12604.7—2014,定义2.66] 9.4.6 检漏仪的动态灵敏度dynamicsensitivityof leakdetector 在规定条件下，对被检密闭体持续进行有效地抽空时，检漏仪能够检出的最小漏率 [GB/T12604.7—2014,定义2.19]
红外辐射infraredradiation 通常是指波长0.75um~1000um波段的电磁波。 [GB/T12604.9—2008，定义2.16] 10.1.2 工作波段 workingspectrumband 通常按大气窗口分为短红外波段（0.7um～3μm）、中红外波段（3μm～5μm）和长红外波段（8um 14μm)的三个使用波段。 [GB/T12604.9—2008，定义3.6］ 10.1.3 红外检测infraredtesting 基于红外辐射原理，通过红外系统观察或记录被测物体红外辐射的一种监测技术。 注：改写GB/T12604.9—2008，定义2.28 10.1.4 黑体blackbody 在给定温度下，能发射和吸收全部有效热辐射的理想热辐射体，其发射率为1。 『GB/T12604.9—2008.定义2.10
红外检测系统infraredtestingsystem 基于红外检测原理SJ／T 11735-2019 产品碳足迹 产品种类规则 便携式计算机.pdf，能独立使用的无损检测系统。 GB/T12604.9—2008.定义3.1 10.2.2 红外探测器 infrareddetector 将接收到的红外辐射能量转变为电信号的器件。 [GB/T12604.9—2008,定义3.2] 10.2.3 红外探测装置 infrared sensing device 用于探测、显示、记录所接收到的物体热辐射信息的装置。 [GB/T12604.9—2008，定义3.3]
GB/T 36416.22018
10.3.1 焦平面阵列探测器focalplanearray 置于光学系统像平面处的阵列探测器 ［GB/T12604.9—2008定义3.7 10.3.2 行扫描器 linescanner 沿被测物体进行单行扫描以提供该物体一维热分布图的装置。 [GB/T12604.9—2008，定义3.8］ 10.3.3 成像行扫描器 imaging line scanner 一种沿横向扫描、纵向移动以产生二维热像图的装置。 [GB/T12604.9—2008，定义3.9] 10.3.4 黑体参考源 blackbodyreference 用于红外辐射测量或对红外装置进行标定的装置，其温度可调可控，红外发射率接近于1。 LGB/T12604.92008，定义3.11 10.3.5 温差黑体 differentialblackbody 差分黑体 用于建立有效发射率为1、温度不同的两个并列的等温平面区的装置。 「GB/T12604.92008.定义3.12
最小可分辨温度差minimumresolvabletemperaturedifference MRTD 评价红外成像系统能力的一种指标。它通过观察者在显示屏上辨认周期性条形目标来度量。 MRTD是标准测试板（长宽比为7：1的四条条纹）与其黑体背景之间的最小温度差。在此条件下，观 察者能分辨出它是一个四条条纹图形。 『GB/T12604.9—2008.定义3.137
最小可分辨温度差minimumresolvabletemperaturedifference MRTD 评价红外成像系统能力的一种指标。它通过观察者在显示屏上辨认周期性条形目标来度量。 MRTD是标准测试板（长宽比为7：1的四条条纹）与其黑体背景之间的最小温度差。在此条件下，观 察者能分辨出它是一个四条条纹图形。 『GB/T12604.9—2008.定义3.137
最小可探测温度差minimumdetectabletemperaturedifference MDTD 在目标和背景两者都是等温体的条件下，在限定时间内能从均匀温度的大背景中找出位置未知、温 度不同的目标。 10.4.3 热分辨力thermalresolution 红外传感装置能够测出的两个黑体之间的最小温度差。 [GB/T12604.9—2008,定义2.20] 10.4.4 噪声等效温度差 noise equivalent temperature difference NETD 热成像系统或扫描器的信噪比为1时，黑体目标与黑体背景之间的温度差。 GB/T12604.92008.定义3.15
中子检测仪neutrontestinstrument 用于非核环境的X、丫和中子射线源的快速、高灵敏度检测的仪器。 11.2.2 中子成像线阵探测仪neutronimagingandlineararraydetectinstrument 集中子线阵探测、信号放大、图像与信号数字化处理等一体，通过计算机实施成像技术的仪器，可应 用在边防、海关和核电站等领域
中子源 neutron source 能发射中子的装置或物质。 [GB/T12604.8—2014,定义2.38] 50
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同位素中子源isotopeneutronsource 利用放射性同位素衰变时放出的一定能量的射线去轰击某些靶物质，发生核反应而放出中子 装置。 ［GB/T12604.82014，定义2.39 11.3.3 加速器中子源acceleratorneutronsource 利用粒子加速器加速某些带电粒子（如质子、氛核、α粒子等)去轰击靶原子核以产生中子的装置 ［[GB/T12604.8—2014，定义2.40] 11.3.4 反应堆中子源reactorneutronsource 利用重核裂变，在反应堆内形成链式反应来产生中子的一种中子源。 [GB/T12604.8—2014，定义2.41] 11.3.5 中子发生器 neutrongenerator 利用直流高压、加速离子的能量在1MeV以下，利用（α、n)反应获得中子的小型加速器。 [GB/T12604.8—2014,定义2.42] 11.3.6 转换屏conversionscreen 一种将成像的中子束转变为射线或光的器件，这种射线或光再使射线照相胶片曝光 ［GB/T12604.8—2014，定义2.8］
[1]GB/T12604.1—2005/ISO5577:2000 无损检测 术语 超声检测 [2] GB/T12604.2—2005/1SO5576:1997 无损检测 术语 射线照相检测 [3 GB/T12604.3—2013/ISO12706:2009 无损检测 术语 渗透检测 [4] GB/T12604.4—2005/ISO12716:2001 无损检测 术语 声发射检测 [5] GB/T12604.5—2008 无损检测 术语 磁粉检测 [6] GB/T12604.6—2008 无损检测 术语 涡流检测 [7] GB/T12604.7—2014 无损检测 术语 泄漏检测 [8] GB/T 12604.8—2017 无损检测 术语 中子检测 [9] GB/T12604.9—2008 无损检测 术语 红外检测
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A 安匝 4.4.4 暗袋 8.3.19 暗盒 8.3.19 B 靶 8.3.15 白色X射线 8.1.2 板波 6.1.5 半价层 8.1.33 半衰期 8.1.32 保护膜 6.3.5 背景 3.1.5 背面 6.1.26 背散射 8.1.12 背散射线 8.1.12 比较式系统 5.3.19 比较线圈 5.3.7 比例输出 6.4.26 比例输出的保持时间 6.4.32 比例输出的上升时间 . 6.4.28 比例输出的下降时间 6.4.27 比例输出的线性 6.4.29 比例闸门输出的频率响应 6.4.30 比释动能 8.1.38 边缘效应 5.1.20 标志 8.3.34 标准试块 6.3.20 表面波 6.1.4 表面波探头 6.3.9 表面回波 6.1.31 波列 6.1.7 波前 6.1.6 波阵面 6.1.6 不清晰度 8.1.23 布拉格衍射声成像 6.5.11 布拉格衍射声全息 6.5.11
GB/T36416.22018
共轴式探头 5.3.11 固定门槛 7.3.10 固定式磁粉探伤机 4.2.3 固有不清晰度 ...8.1.25 管电流 8.4.4 管电压 ...8.4.2 光点显示技术 :5.1.28 光学密度 8.4.11 归一化电阻 5.1.4 归一化感抗 .5.1.5 归一化阻抗 5.1.6 过载恢复时间 7.4.16 H 氢检漏仪 9.2.3 黑度 8.4.11 黑光 3.1.10 黑光灯 .3.2.2 黑光滤光片 ...3.2.3 黑光强度 .3.4.1 黑体 +.+. 10.1.4 黑体参考源 10.3.4 横波 ...6.1.3 横向分辨力 ..6.4.8 红外成像系统 10.2.4 红外辐射 10.1.1 红外检测 10.1.3 红外检测系统 10.2.1 红外热像仪 10.2.5 红外探测器 10.2.2 红外探测装置 10.2.3 后乳化型渗透剂 .3.3.8 环形线圈间隙 ..5.4.3 换能器 6.3.1 换能器背衬 ..6.3.3 灰雾度 8.1.29 回波 · 6.1.15 行扫描器 10.3.2 J 机械扫差声全息 6.5.8 基频 6.1.10
机械扫差声全息 0.5.8 基频 6.1.10 激光束扫描声全息 6.5.10
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.. 5.3.11 激励单元 5.3.15 .....7.3.10 激励频率 5.4.1 ...4.2.3 激励元件 5.3.1 .....8.25 集成无损检测仪器. ...2.3 ......8.4.4 几何不清晰度 8.1.24 .....8.2 计数率 7.4.4 .....5.1.28 记录介质 6.5.5 ....8.4.11 剂量计 8.3.24 .....5.1.4 剂量率 8.1.37 ...5.1.5 剂量率计 8.3.25 .....5.1.6 加速器中子源 11.3.3 ..7.4.16 监听器 7.3.13 检测能力 5.4.5 检漏仪 ..9.2.1 ......9.2.3 检漏仪的动态灵敏度 9.4.6 ....8.4.11 焦点 8.1.13 .....3.10 焦点尺寸 8.4.1 ......3.2.2 焦距 ..8.4.7 ......3..2.3 焦平面阵列探测器 10.3.1 ...3.4.1 角[反射］效应 6.1.36 10.1.4 接触垫衬 ....4.3.2 10.3.4 接收器输入阻抗 6.4.35 ...... 6.1.3 接收元件 ...5.3.2 ...6.4.8 界面 6.1.25 +.... 10.2.4 界面波 6.1.31 10.1.1 界面回波 6.1.33 +.... 10.1.3 金属磁记忆 . 5.1.29 10.2.1 金属磁记忆检测仪 5.2.11 +..... 10.2.5 金属陶瓷X射线管. ...8.3.7 10.2.2 金属增感屏 8.3.31 ..... 10.2.3 近场 · 6.1.13 ...3.3.8 经过校准的分贝切换器 6.3.16 ......5.4.3 晶片 6.3.1 ....6.3.1 静电喷酒装置 3.2.10 .......6.3.3 静置时间 .3.4.2 ..8.1.29 局部磁化 4.1.14 .....6.1.15 距离幅度校正曲线 6.1.57 10.3.2 距离刻度 6.1.55 聚焦探头 6.3.12 绝对磁导率 5.1.10 ....6.5.8 绝对式系统 5.3.20 ...6.1.10 绝对线圈 5.3.5 ...6.5.10 校准试块 6.3.20
激励单元 5.3.15 激励频率 5.4.1 激励元件 5.3.1 集成无损检测仪器 2.3 几何不清晰度 8.1.24 计数率 7.4.4 记录介质 6.5.5 剂量计 8.3.24 剂量率 8.1.37 剂量率计 8.3.25 加速器中子源 11.3.3 监听器 7.3.13 检测能力 5.4.5 检漏仪 9.2.1 检漏仪的动态灵敏度 9.4.6 焦点 8.1.13 焦点尺寸 8.4.1 焦距 8.4.7 焦平面阵列探测器 10.3.1 角[反射］效应 6.1.36 接触垫衬 ..4.3.2 接收器输入阻抗 6.4.35 接收元件 5.3.2 界面 6.1.25 界面波 6.1.31 界面回波 6.1.33 金属磁记忆 5.1.29 金属磁记忆检测仪 5.2.11 金属陶瓷X射线管 .8.3.7 金属增感屏 8.3.31 近场 6.1.13 经过校准的分贝切换器 6.3.16 晶片 6.3.1 静电喷酒装置 3.2.10 静置时间 3.4.2 局部磁化 4.1.14 距离幅度校正曲线 · 6.1.57 距离刻度 6.1.55 聚焦探头 6.3.12 绝对磁导率 5.1.10 绝对式系统 5.3.20 绝对线圈 5.3.5 校准试块 6.3.20
脉冲（回波)长度 6.4.18 脉冲(回波)幅度 6.4.4 脉冲波 6.1.8 脉冲调谐 6.1.62 脉冲反冲 6.4.20 脉冲宽度 6.4.18 56
热成像系统 热分辨力 10.4.
热成像系统 热分辨力
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热像仪 10.2.5 热中子 11.1.2 溶剂去除性渗透剂 3.3.9 乳化剂 3.3.10 乳化时间 3.4.4 乳化装置 3.2.7 入射角 6.1.38 软X射线…· 8.1.5 瑞利波 6.1.4 润湿剂 3.3.19 润湿作用 3.1.1 s 三角阵 7.1.19 散[乱]射线 8.1.11 散射不清晰度 8.1.28 散射剂量 8.4.14 扫查 6.1.42 扫描范围 6.4.15 扫描线 6.1.54 伤波 . 6.1.32 上升时间 7.4.5 上升时间鉴别 7.1.15 射频显示 6.1.52 射线检测 8.1.10 渗出 3.1.3 渗透检测 3.1.7 渗透检测剂 3.3.1 渗透检测装置 . 3.2.1 渗透探伤 3.1.7 渗透装置 3.2.6 声程 6.1.20 声发射 7.1.1 声发射波导杆 7.3.4 声发射传感器 ** 7.3.1 声发射分析系统 7.2.3 声发射换能器 .. ..7.3.1 声发射计数 7.4.3 声发射计数率 7.4.4 声发射检测系统 7.2.1 声发射检测仪 7.2.2 声发射脉冲发生器 7.3.17 声发射模拟源 7.3.17
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噪声 6.4.5 噪声等效温度差 10.4.4 增感型胶片 8.3.17 增感屏 8.3.29 增感因子 8.1.22 增量磁导率 5.1.9 增益 6.4.14 增益中间值 6.4.33 闸门 6.1.58 闸门电平 6.4.34 窄脉冲 6.1.65 照相灰雾 8.1.30 折射 6.1.16 折射角 6.1.39 折射棱镜 6.3.2 针孔 8.3.35 真空暗合 8.3.20 阵列 7.1.16 振幅积分累积)分布 ..7.4.8 振幅检测组件 7.3.11 振幅微分分布 .* ..7.4.9 振铃计数 7.4.3 振铃脉冲 7.1.11 振铃时间 6.1.22 振子 +.. 6.3.1 [支杆]触头 4.3.3 直射探头 6.3.7 直射探头的偏向角 6.3.22 直探头 6.3.7 直线电子加速器 8.2.6 指向角 6.1.18 指向性 6.1.17 质谱 9.1.3 质谱管 9.3.1 质谱检漏仪 9.2.2 中子 11.1.1 中子成像线阵探测仪 11.2.2 中子发生器 11.3.5 中子检测仪 11.2.1 中子源 11.3.1 周向磁化 4.1.11 主从鉴别 7.1.13 柱面阵 7.1.22
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转换屏 11.3.6 HVT 8.1.33 准直器 6.3.18 IQI 8.3.28 着色渗透剂 3.3.5 LINAC 8.2.6 着色渗透检测 3.1.8 L/D比 11.4.1 紫外辐照计 3.3.20 MA型显示 6.1.51 紫外线 3.1.10 MDTD 10.4.2 紫外线灯 3.2.2 MRTD 10.4.1 紫外线滤光片 3.2.3 NDT 2.1 自动扫查 6.1.44 NETD 10.4.4 自动式涡流探伤机 5.2.3 prf 6.4.11 纵波…· 6.1.2 TDG 6.4.38 纵向磁化 4.1.12 TOFD 6.1.67 纵向分辨力 6.4.9 TOFD超声检测仪 6.2.6 阻抗分析 5.1.14 T型探头 5.3.12 阻抗平面图 5.1.7 X射线 8.1.1 阻尼 6.1.61 X射线发生器 8.3.10 阻塞 6.4.12 X射线高压发生器 8.3.8 最大穿透力 8.4.13 X射线管 8.3.1 最佳频率 ....5.4.2 X射线管窗口 · 8.3.12 最小可分辨温度差 10.4.1 X射线管灯丝特性 8.1.17 最小可检漏率 ....9.4.2 X射线管电流 .. ..8.4.4 最小可探测温度差 10.4.2 X射线管电压 8.4.2 X射线管防护 . 8.3.11 A扫描显示 6.1.48 X射线管负荷特性曲线 8.1.16 AE .......... ... 7.1.1 X射线管寿命 8.4.15 B扫描显示. 6.1.49 X射线控制器 8.3.9 C扫描显示 6.1.50 X射线探伤机 8.2.1 DAC 6.1.57 丫射线 8.1.7 ffd 8.4.7 射线探伤机 8.2.7
转换屏 11.3.6 准直器 6.3.18 着色渗透剂 3.3.5 着色渗透检测 ..3.1.8 紫外辐照计 3.3.20 紫外线 3.1.10 紫外线灯 3.2.2 紫外线滤光片 3.2.3 自动扫查 6.1.44 自动式涡流探伤机 5.2.3 纵波 6.1.2 纵向磁化 4.1.12 纵向分辨力 6.4.9 阻抗分析 5.1.14 阻抗平面图 5.1.7 阻尼 6.1.61 阻塞 6.4.12 最大穿透力 8.4.13 最佳频率 ....5.4.2 最小可分辨温度差 10.4.1 最小可检漏率 ....9.4.2 最小可探测温度差 10.4.2 A扫描显示 .6.1.48 AE ...... 7.1.1 B扫描显示· 6.1.49 C扫描显示 6.1.50 DAC 6.1.57 ffd 8.4.7
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acoustic emission .......... 7.1.1 acoustic emission amplitude 7.4.7 acoustic emission analysis system 7.2.3 acoustic emission count ........ acoustic emission count rate 7.4.4 acoustic emission detection system 7.2.1 acoustic emission energy 7.4.13 acoustic emission event 7.1.3 acoustic emission instrument 7.2.2 acoustic emission preamplifier 7.3.5 acoustic emission pulser 7.3.17 acoustic emission signal 7.1.7 acoustic emission signal end 7.1.24 acoustic emission signal processor 7.3.7 acoustic emission signal start 7.1.23 acoustic emission sensor ..... 7.3.1 acoustic emission source ..... 7.1.2 acoustic emission source location and analysis system ...... 7.2.5 acoustic emission source location system ....... acoustic emission spectrum 7.4.12 acoustic emission transducer ... ...7.. acoustic emission waveguide . 7.3.4 acousticalhologram . 6.5.6 acoustical holography by Bragg diffraction 6.5.11 acoustical holography by electron beam scanning . 6.5.9 acoustical holography by laser scanning ........ 6.5.10 acoustical holography by mechanical scanning . 6.5.8 acoustical imaging by Bragg diffraction 6.5.11 acoustical impedance 6.1.21 acoustical lens 6.5.12 air cored probe 5.3.9 air Kerma rate 8.1.39 ampereturns 4.4.4 amplifier bandwidth ... 6.4.22 amplifier frequency response 6.4.21 amplitude detector module 7.3.11 amplitude linearity of vertical display 6.4.2 anglebeamprobe . 6.3.8 angle beam search unit angle of incidence 6.1.38 angle of projection 8.1.15 angle of refraction 6.1.39 angle of spread 6.1.18
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damping 6.1.6 dead time after transmitter pulse 6.4.24 dead zone 6.4.13 decay curve 8.1.40 defect detection sensitivity .8.4.8 definition 8.4.10 degreasingunit 3.2.5 delayed echo 6.1.34 delayed sweep 6.1.56
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lynamicrange
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DB35／T 1863-2019 城市轨道交通信号系统防雷装置检测技术规范k value of probe kaiser effect 7.1.10 kerma" 1.38
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GTCC-093-2018 机车用制动控制器-铁路专用产品质量监督抽查检验实施细则GB/T36416.22018
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