标准规范下载简介
YD／T 3125.2-2019 通信用增强型SFP光收发合一模块（SFP+） 第2部分：25Gbit／s.pdf7.3.2RMS光谱宽度
YD/T3125.22019
GB∕T_50299-2018标准下载YD/T3125.22019
比按YD/T2798.1一2015中5.10的规定进行测
7.3.4平均发送光功率
7.3.5OMA发送光功率
OMA发送光功率按YD/T2798.1一2015中5.6的规定进行测试。
7.3.8发送和色散眼图闭合（TDEC）
7.3.9发送和色散代价（TDP）
7.3.10 RIN2nOMA
7.3.11关断平均发送光功率
关断平均发送光功率按YD/T2798.1一2015中5.2的规定进行测试。
1.3.12发送端光回波损
接收波长按YD/T2798.1一2015中6.6的规定进
7.3.14接收损伤阈值
阅值按YD/T2798.1一2015中6.14的规定进行测
7.3.15平均接收光功率
光功率按YD/T2798.1一2015中6.1和6.4的规
7.3.16OMA接收光功率
7.3.17OMA接收灵敏度
7.3.18OMA压力接收灵敏度
7.3.19接收端光反射
8.1可靠性试验环境要求
靠性试验环境要求同7.1
可靠性试验要求见表7
YD/T3125.22019
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表7可靠性试验要求（续）
试验气候条件除相对湿度为30%～60%外，其他同6.1；试验室的电磁环境不应影响试验结果。 仅适用于插拔式的产品。 UNC为非可控环境，CO为可控环境
8.3.2ESD抗扰度试验等级判据
9.1电磁兼容试验要求
SFP28光模块的电磁兼容试验要求见表8。
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表8电磁兼容试验要求
LTPD为批内允许不合格品率，SS为取小样品数，C为合格判定数， 测量频率上限的选择如下： 频率低于108MHz，则测量频率上限为1GHz； 频率在108MHz～500MHz，则测量频率上限为2GHz； 频率在500MHz～1GHz，则测量频率上限为5GHz； 频率高于1GHz，则测量频率上限为40GHz
射频电磁场辐射抗扰度试验失效判据见YD/T1766一2016中8.2的规定； 射频电磁场辐射发射试验失效判据见YD/T17662016中8.2的规定，B级信息技术设备测试限值 要求见表9。
表9辐射发射限值要求
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检验分为常规检验和抽样检验
常规检验应百分之百进行，检验项目如下。 a）外观：目测，符合6.8要求。 b）性能检测：按7.3规定的测试方法，对性能参数发送中心波长、RMS光谱宽度、边模抑制比、 平均发送光功率、消光比、平均接收光功率、OMA接收灵敏度进行检测，其结果符合6.3的 规定。 c）高温电老化。 在最大工作温度下，SFP28光模块正常工作状态，老化时间至少24h。 一恢复：在正常大气条件下恢复1h后按7.3规定的测试方法进行测试。 一失效判据：平均发送光功率、消光比、平均接收光功率、OMA接收灵敏度等不满足6.3 的规定，或者相比老化前变化量大于1.0dB。
从批量生产中生产的同批或若干批产品中，按GB/T2828.1规定，取一般检查水平 QL）和检验项目如下。 a)外观。 AQL取1.5。 检验方法：目测，符合6.8要求。 b）外形尺寸。 AQL取1.5。 检验方法：用满足精度要求的量度工具测量，应符合产品外形尺寸要求。 c）性能检测。 AQL取0.4。 检验方法：按7.3的规定进行测试，其结果符合6.3的规定。
10.3型式检验和电磁兼容试验
10.3.1型式检验条件
SFP28光模块有下列情况之一时，应进行型式检验： 一产品定型时或已定型产品转场时； 正式生产后，如果结构、材料、工艺有较大改变，可能影响产品性能时； 产品长期停产12个月后，恢复生产时：
别时 正常生产24个月后； 国家质量监督机构提出进行型式检验要求时。
10.3.2电磁兼容试验条件
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SFP28光模块有下列情况之一时，应进行电磁兼容试验： 产品设计定型时； 正式生产后，如果结构、材料、工艺有较大改变，可能影响产品的电磁兼容性能时。
10.3.4检验项目及抽样方案
型式检验的检验项目及抽样方案见表7。电磁兼容的试验项目及抽样方案见表8。
10.3.5样品的使用规则
样品使用规则如下： a）凡经受了型式检验的样品，一律不能作为合格品交付使用； b）在不影响检验和试验结果的条件下，一组样品可用于其他分组的检验和试验。
10.3.6产品不合格的判定
各项试验完成后，不合格判定按8.3和9.2的规定执行，若其中任何一项试验不符合要求时 批不合格。
10.3.7不合格批的重新提交
当提交型式检验的任一检验批不符合 分组要求时，应根据不合格原 纠正措施后，对不合格的检验分组重新提交检验。 重新检验应采用加严抽样方案。若重新检验仍 则该批拒收。如通过检验，则判为合格。但重新检验不得超过2次，并应清楚标明为重新检
10.3.8检验批的构成
提交检验的批，可由一个生产批构成，或由符合下述条件的儿个生产批构成： 这些生产批是在相同材料、工艺、设备等条件下制造出来的； 若于个生产批构成一个检验批的时间不超过1个月。
YD/T3125.2—2019 11 标志、包装、运输和贮存
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每个产品应标明产品型号、规格、编号、批的识别代码及安全等标志
进行全部试验后，标志应保持清晰。标志损伤了的产品应重新打印标志，以保证发货之前标志的清
11.1.3污染控制标志
产品的污染控制标志应按SJ/T11364一2014第5章规定，在包装盒或产品上打印上电子信息产品污 染控制标志。
产品应有良好的包装及防静电措施，避免在运输过程中受到损坏。包装盒上应标有产品名称、型号 和规格、生产厂家、产品执行标准号、防静电标识、激光防护标志等。 包装盒内应有产品说明书。说明书内容包括：产品名称、型号、简要工作原理和主要技术指标、极 限条件、安装尺寸和管脚排列、使用注意事项等，
A.125GE应用代码说明
A.232GFC应用代码说明
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A.3InfiniBandEDR应用代码说明
A.4CPRI/eCPRI应用代码说明
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附录B （资料性附录） 信道功率预算和代价
B.125GE光接口信道功率预算和代价
25GE光接口信道功率预算和代价见表B.1。
表B.125GE光接口信道功率预算和代价
B.232GFC光接口信道功率预算和代价
32GFC光接口信道功率预算和代价见表B.2
表B.232GFC光接口信道功率预算和代价
B.3CPRI/eCPRI光接口信道功率预算和代价
CPRI/eCPRI光接口信道功率预算和代价见表B.3.
CPRI/eCPRI光接口信道功率预算和代价见表B.3
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表B.3CPRI/eCPRI光接口信道功率预算和代价
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附录C （资料性附录） 数字诊断监控精度
C.1数字诊断监控精度
SY／T 6231-2019标准下载SFP28光模块数字诊断监控精度参见表C.1.
表C.1数字诊断监控精度
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表D.1SFP28光模块地址表 AO区（续）
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表D.1SFP28光模块地址表 AO区（续）
DB44／T 1895-2016 半导体照明器件色差一致性在线快速评估方法.pdfYD/T3125.22019
YD/T3125.22019
表D.2SFP28光模块地址表 A2区低128字节（续）