GB/T 12843-1991 半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理 更新时间:2009年08月26日 资源 GB/T 12843-1991 半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理 没有资源,无法下载 仅供个人学习 反馈 标准编号:GB/T 12843-1991 文件类型:.rar 资源大小:0.27 MB 标准类别:国家标准 资源ID:57314 下载资源 GB/T 12843-1991标准规范下载简介 GB/T 12843-1991 半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理 国家计量标准 广播电影标准 外经贸标准 地质矿产标准 海关标准 海军标准 国家标准 测绘标准 轻工标准 水利标准 海洋标准 ©版权声明 资源来自互联网,如有侵权请联系删除 同类资源: 上一篇 GB/T 12842-1991 膜集成电路和混和膜集成电路术语 下一篇 GB/T 12844-1991 半导体集成电路非线性电路系列和品种采样保持放大器的品种 相关文章