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GB／T 33523.3-2022 产品几何技术规范（GPS） 表面结构 区域法 第3部分：规范操作集.pdfICS17.040.20 CCSI04
产品几何技术规范（GPS）
品几何技术规范（GPS 表面结构区域法 第3部分：规范操作集
范围 规范性引用文件 3 术语和定义 完整规范操作集 5 概要信息 附录A（资料性）完整规范操作集的决策树 .*....*. 附录B（规范性）GB/T33523.2中参数的缺省特征值 附录C（规范性）GB/T33523.2中参数的缺省单位 附录D（资料性）表面结构轮廊参数间的关系……… 13 附录E（资料性）与GPS矩阵模型的关系
随着国家产品质量提升计划的实施，对产品设计、制造、测量和检验过程中使用的统一规范或原则 需求越来越迫切。原有产品几何技术规范中表面结构的表示方法及相关标准已不能满足产品制造过 中的表面质量控制要求。 GB/T33523《产品几何技术规范（GPS）表面结构区域法》基于新一代GPS产品几何规范体 通过数字化测量技术、软件分析技术及计量评定等手段，构建一套全新的三维表面结构测量与分析 准荐性国家标准。GB/T33523在提出表面结构表示法、表面结构参数及规范操作集的基础上，分析 表面结构测量的方法，给出了使用的测量技术及仪器的标称特性。特别是，GB/T33523在涵盖接触 则量仪器的同时，重点引人了在高精度测量应用中具有重要价值但缺乏标准支撑的多种非接触式测 义器。标准还规范了实物测量和软件测量标准，给出了软件文件标准和表面结构测量的计量特性。 /T33523实现了从二维轮廓测量到三维表面结构测量的跨越，为GPS产品几何规范体系提供了计 则试支撑。 GB/T33523拟由14个部分构成。 第1部分：表面结构的表示法。目的在于规定产品技术文件（例如图纸、规范、合同和报告)中 利用图形符号表示区域表面结构的规则。 第2部分：术语、定义及表面结构参数。目的在于规定用区域法评定表面结构的术语、定义和 参数。 一第3部分：规范操作集。目的在于规定适用于区域法评定表面结构（尺度限定表面)的完整规 范操作集。 第6部分：表面结构测量方法的分类。目的在于规定主要用于表面结构测量方法的分类体系， 定义三类方法，描述三类方法之间的关系，并对具体方法做简要说明。 第70部分：实物测量标准。目的在于规定用于定期验证和调整区域法表面结构测量仪器的实 物测量标准的特性。 第71部分：软件测量标准。目的在于规定用于测量仪器软件校验的S1型和S2型软件测量标 准（标准具)的术语定义。 第72部分：XML文件格式x3p。目的在于规定用于存储和交换形貌及轮廊数据的XML文件 格式x3p。 第601部分：接触（触针)式仪器的标称特性。目的在于规定表面结构区域法接触(触针)式仪 器的标称特性。 第602部分：非接触（共聚焦色差探针)式仪器的标称特性。目的在于规定使用基于白光轴向 色散特性的共聚焦色差探针测量表面结构的非接触式仪器的设计与计量特性。 第603部分：非接触(相移干涉显微)式仪器的标称特性。目的在于规定相移干涉法(PSI)轮廓 和区域表面结构测量显微镜的计量特性。 第604部分：非接触（相干扫描干涉)式仪器的标称特性。目的在于规定用于表面高度三维映 射的相干扫描干涉(CSI)测量系统的计量特性。 第605部分：非接触（点自动对焦探针)式仪器的标称特性。目的在于规定使用点自动对焦探 针测量表面结构的非接触式仪器的计量特性。 第606部分：非接触（变焦)式仪器的标称特性。目的在于规定使用变焦(FV)传感器测量表面 结构的非接触式仪器的设计与计量特性。
第701部分：接触（触针)式仪器的校准与测量标准。目的在于规定区域法表面结构接触（触 针)式仪器用作测量标准的实物量具的特性，残余误差的评定方法，校准、验收和周期检定的检 测方法
本文件规定了适用于区域法评定表面结构（尺度限定表面）的完整规范操作集。
产品几何技术规范（GPS） 表面结构区域法 第3部分：规范操作集
横向周期限lateralperiodlimit （光学法>光学系统响应衰减到50%的正弦轮廊空间周期值 注：横向周期限取决于表面特征的高度及用于测量表面的光学方法。
4.2.1.1一般要求
评定区域由进行提取操作的表面上一块矩形部分构成。 评定区域的方向应受规范约束。 注1：如果在正交方向上，嵌套指数是相同的，则评定区域的方向没有影响。 注2：评定区域的方向一般取决于被测表面的形状，即矩形区域的边平行/垂直于标称几何要素（例如董铺水库大桥悬浇箱梁施工方案，圆柱轴线、矩 形平板的边等）
评定区域由进行提取操作的表面上一块矩形部分构成。 评定区域的方向应受规范约束。 注1：如果在正交方向上，嵌套指数是相同的，则评定区域的方向没有影响。 注2：评定区域的方向一般取决于被测表面的形状，即矩形区域的边平行/垂直于标称几何要素（例如，圆柱轴线 形平板的边等）。
注1：以S滤波器嵌套指数值为基准，其与最大采样间距的比值约为5：1，其与触针最大针尖半径的比值约为1.4：1。 这些比值与GB/T6062一2009中的规定是一致的。 注2：表2中给出的最大采样间距是理想值，用某些类型的仪器测量某些给定的表面时可以无法达到此采样间 距值