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DB11／T 1699-2019 在用氨制冷压力管道X射线数字成像检测技术要求.pdf

带包覆层管道对接焊缝双壁双影垂直透照方式图

图9带包覆层管道对接焊缝双壁单影透照方式图

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GB／T 50357-2018 历史文化名城保护规划标准：源至工件距离可采用f”

图10带包覆层含液管道对接焊缝双壁双影椭圆透照方式图

带包覆层含液管道对接焊缝双壁双影垂直透照

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6.1.2透照方向与透照区域

带包覆层含液管道对接焊缝双壁单影透照方式图

1.2.1透照时射线束中心应垂直指向成像区中心，需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照 1.2.2透照区域应包含焊缝和距焊缝熔合线10mm范围内的母材区域。

6.1.3.1采用倾斜透照椭圆成像时： a）当t/De≤0.12，相隔90°透照2次； b）当t/De>0.12，相隔120°或60°透照3次。 6.1.3.2椭圆成像有困难时，宜采用垂直透照重叠成像（见图2、图5、图8、图11），应相隔120 或60°透照3次。 6.1.3.3采用倾斜透照双壁单影成像（见图3、图6、图9、图12），源至工件距离f在满足6.3. 的前提下尽量取小值，像质计和铅字F"标记应放置在探测器侧。 6.1.3.4由于结构原因不能进行多次透照时，经合同双方商定，可采用椭圆成像或重叠成像方式透里 次。鉴于透照一次不能实现焊缝全长的100%检测，此时应采取有效措施扩大缺陷可检出范围，并保 证图像评定范围内灰度、信噪比、灵敏度和分辨力满足要求。月

6.2管道厚度测量透照方式

采用切线技术测量管道壁厚的透照方式见图13；采用双壁厚技术测量管道壁厚损失的透照方 14

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图13切线技术测量管道壁厚的透照方式图

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6.3.1X射线源至被检工件表面的最小距离

b）含液带包覆层 图14双壁厚技术测量管道壁厚损失的透照方式图

114双壁厚技术测量管道壁厚损失的透照方式

.1X射线源至被检工件表面的最小距离 对于图1、图2、图4、图5、图7、图8、图10、图11双壁双影透照方式，所选用的X射线源至被 表面的距离f应满足公式（1）、公式（2）要求。 对于A级图像质量：

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f ≥7.5b2/3 d , ≥15b2/3

f ≥7.5b2/3 d f ≥15b2/3

d一射线源焦点尺寸，mm。 对于图3、图6、图9、图12双壁单影透照方式，f应满足公式（3）、公式（4）要求。 对于A级图像质量：

式中： t名义厚度，mm 若规定对面状缺陷进行检测，为降低几何不清晰度，即使A级图像质量合格，射线源至被检工件表 面的距离也应提高至B级图像质量要求的f。

对于图7～图9、图10～图12透照方式，如果像质计相对灵敏度和基本空间分辨力不能满足表A.1至 A.5要求，可以通过几何放大技术降低图像不清晰度。几何放大技术原理参见附录B。

6.5散射线和无用射线的屏离

可采用滤波板、准直器（光栅）、限制照射场范围、防散射线铅板等适当措施，减少散射线和无用 X射线。

6.6.1.1图像灵敏度与图像基本空间分辨力

艮敏度与图像基本空间分

6.6.1.2补偿原则

如果图像相对灵敏度和不清晰度不能同时达到表A.1～表A.5的规定，可通过增加曝光量提高 进而提高线型像质计（丝号）的可见性补偿超出的不清晰度值（或超出的数字探测器基本空间

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对于小型缺陷（缺陷在射线透过方向上的尺寸△W远远小于透照厚度），补偿原则基于下列理论近 似，见公式（5）：

式中： c 常数; ef有效衰减系数；

为保证获得足够相对灵敏度的X射线数字图像，在以下三种情形下需要进行补偿： a）补偿原则I，通过提高信噪比SNR（例如提高曝光量）补偿对比度的降低（例如提高管电压导 致的对比度降低）； 6） 补偿原则II，通过提高信噪比SNR（例如，对应于缺失的双线型像质计线对值，提高单丝像质 计IQIs的丝号）补偿探测器不清晰度的增大（例如，数字探测器基本空间分辨力高于标准规 定图像质量应达到的数字图像基本空间分辨力）。例如：对于某一检测系统，采用椭圆倾斜透 照方式检测Φ89x4带包覆层液氨管道，要求达到B级图像质量，如果图像质量不能同时达到 W14和D9，则达到W15和D8可提供等效的检测灵敏度。补偿最大不超过2个丝号： c）补偿原则III，通过提高信噪比SNR补偿因为数字探测器坏像素的校正导致的拟合不清晰度的增 大。

6.6.2图像评定要求

6.6.2.1可通过正像或负像的方式显示，1：1评定。 6.6.2.2图像有效区域内不应存在干扰缺陷图像识别的伪像 6.6.2.3图像的灰度值应控制在满量程的20%~80%。

应满足表1对归一化信噪比的最低要求。

表1归一化信噪比最低要求

6.6.4缺陷的识别与评定

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6.6.4.1缺陷的识别可采用计算机辅助人工识别 6.6.4.2人工识别可通过窗位工具将计算机识别的灰度范围转换成人眼可识别的灰度范围，达到人眼 识别的最佳效果， 6.6.4.3缺陷的评定可采用人工评定或计算机辅助评定方法，

6.6.5几何尺寸的测量

使用已知尺寸且经过标定的物体作为参考点（例如钢球），通过参考点校正测量，采用系统 测量管道管径、壁厚和焊接缺陷的几何尺寸

6.6.6缺陷深度的测量

6.6.1管道剩余壁厚采用切线技术或双壁厚技术进行测量。 6.6.2管道未焊透深度的测量可参照附录C对比试件进行校准，实现对管道未焊透等缺陷深度 测量。

6.7图像处理、保存与存储

采集图像数据可选用连续惯 缺陷评定可采用灰度增强等图像处理方汽 像的显示效果：任何处理方法不得改变采集的原始图像数据。

6.7.2.1图像应存储在硬盘等数字存储介质中，并在只读光盘中存档。 6.7.2.2检测图像应备份不少于两份，相应的原始记录和检测报告也应同期保存。 6.7.2.3图像保存不少于8年，在有效保存期内图像数据不得丢失和更改。

6.7.3.1存储格式宜采用标准DICONDE格式或者TIF、TIFF格式，也可根据需要采用专门的存储格式。 专门存储格式应留有与其他格式交换信息的接口。单位代码、工件编号、焊缝编号、透照规格、检测人 员代码、识别标记等信息应写入图像文件的描述字段中，这些信息应具备不可更改性。 6.7.3.2存储图像应具有文件输出打印的功能。 6.7.3.3原始图像和处理后的图像均应保存，且原始图像的信息应具备不可更改性、连续性和可读性。 6.7.3.4被检位置编号应与图像编号相对应。

7.1焊接接头射线检测结果评定和质量分级

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测定结果至少应包括管道正常壁厚与外径、缺陷处管道剩余壁厚、缺陷附近管道外径最大值以及缺 陷环向长度最大值等实测数据。 注：管道外径的测量不局限于X射线数字成像检测左法。

应按照现场操作的实际情况详细记录检测过程的有关信息和数据。射线数字成像检测记录除符合 NB/T47013.1的规定外，还至少应包括下列内容： a） 制造单位、检测单位或委托单位； b 被检工件：坡口型式、焊接方法； C） 使用的检测工艺文件编号； d 检测设备：射线机有效焦点尺寸； e 检测规范：检测技术或图像质量等级、透照布置、像质计、滤波板、射线能量、曝光量或透照 时间、射线机与探测器的相对关系、透照几何参数、软件处理方式和条件等； f 图像评定：灰度值、信噪比、图像灵敏度、图像分辨力、缺陷位置和性质： 9） 检测工艺文件验证情况； h 检测结果及质量分级； a） 检测部位及缺陷位置示意图； i） 审核人员及其技术资格： i其他需要说明或记录的事项

应依据检测记录出具检测报告，报告格式见NB/T47013.11附录E。X射线数字成像检测报告除符合 IB/T47013.1的规定外，还至少应包括下列内容： a）制造单位、检测单位或委托单位； ） 被检工件：坡口型式、焊接方法； 使用的检测工艺文件编号； d） 检测设备：射线机有效焦点尺寸： e） 检测规范：检测技术或图像质量等级、透照布置、滤波板（类型、数量和厚度）、像质计、射 线能量、曝光量或透照时间、射线机与探测器的相对关系、透照几何参数、软件处理方式和条 件等； k）图像评定：灰度值、信噪比、图像灵敏度、图像分辨力、缺陷位置和性质

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附录A （规范性附录） 图像质量最低值

表A.1线型像质计像质值单壁透照、IOI置于射线源侧

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线型像质计像质值双壁双影透照、IOI置于

注：管道内含液态介质，应将液态介质深度折算成当量厚度后计入透照厚度w；氨液当量厚度按10%碳钢板厚度计。

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表A.3线型像质计像质值 一双壁单影或双影透照，IOI在探测器侧

管道内含液态介质，应将液态介质深度折算成当量厚度后计入透照厚度w；氨液当量厚度按10%碳钢板厚度计

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图像质量A级最大不清晰度见表A.4：图像质量B级最大不清晰度见表A.5。

图像质量A级最大不清晰度与图像最大基本

注1：对于管道内不含液态介质的双壁单影透照方式，透照厚度w=名义厚度t；管道内含液态介质，应将液态介质深 度折算成当量厚度后计入透照厚度W。 注2：氨液当量厚度按10%碳钢板厚度计。 注3：最小可见IQI丝号和SRimage适用于接触透照。如果采用几何放大倍率透照技术，（见6.4节）IQI丝号和 SRimase应在参考图像上读取。

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注1：对于双壁单影透照技术，透照厚度w=名义厚度t；管道内含液态介质，应将液态介质深度折算成当量 计入透照厚度W。 信 注2：氨液当量厚度按10%碳钢板厚度计。 注3：最小可见IQI丝号和SRmage适用于接触透照。如果采用几何放大倍率透照技术，（见6.4节）IQI 饭多 SRimase应在参考图像上读取。

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附录B （资料性附录） 几何放大技术原理

附录B （资料性附录） 几何放大技术原理 增大探测器与工件之间的距离和/或采用小焦点X射线源，达到降低图像不清晰度的目的称为几何放 大技术。 几何不清晰度u。按公式（B.1）计算：

式中： SDD射线源至探测器之间距离，mm； f射线源至工件之间的距离，mm； d焦点尺寸，mm k几何放大倍率。

f射线源至工件之间的距离，mm; d焦点尺寸，mm； k几何放大倍率。 规定最大图像不清晰度um按公式（B.2）进行估算：

Um =/(uc) +(2SR,)2

Um =(uc) +(2SR,)

SR，放大倍率为1时探测器基本空间分辨力， 几何放大倍率增加和/或焦点尺寸减小以降低图像不清晰度，使之小于或等于表A.4或A.5中规定的 直。 几何放大倍率的正确选择应通过图像中放置于工件之上的双线型像质计证实。如果2SR，>d（射线 源焦点尺寸），双线型像质计放置于靠近探测器侧的工件上；除此之外，双线型像质计放置于射线源侧 的工件上。选择放大倍数时，建议将双线型像质计放置于工件两侧，当确定了放大倍数和焦点尺寸后， 最终图像中只需显现一处双线型像质计即可。 V 射线源侧和探测器侧的放大因子显著不同。因此，放大因子应选择工件中心处的值。源侧和探测器 侧的放大因子变化应限制在±25%，如果应用了本标准6.6.1.2b）补偿原则Ⅱ，可取较小值，

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附录C （资料性附录） 管道壁厚损失数字X射线DWT测试过程

以20钢Φ894管状对比试件为例，说明模拟未焊透深度测量的管道壁厚损失 如下： a） 按实际检测透照工艺得到Φ89x4管状对比试件的数字成像照片； 6 点击DR软件双壁厚测量图标，沿管子轴线方向选取两已知壁厚进行校准（消除放大倍率的影 响），本例中参考双壁厚度8mm（绿色方框），已知测量厚度6.5mm（红色方框），见图C.1； C 对校准精度进行验证1：沿管子轴线方向拖动红色测量方框至已知外刻槽深度成像处，显示测 量厚度；本例外刻槽深度1mm，显示测量厚度7.116mm，见图C.2，误差0.116mm； d 对校准精度进行验证2：沿管子轴线方向拖动红色测量方框至另一已知外刻槽深度成像处GB／T 5169.2-2021 电工电子产品着火危险试验 第2部分：着火危险评定导则 总则.pdf，显 示测量厚度；本例外刻槽深度3mm，显示测量厚度5.221mm，见图c.3，误差0.221mm； 对校准精度进行验证1~2次，若测量厚度误差<20%（置信度80%)，校准精度合格。本例校准与 2次验证测量结果汇总见图C.4； 保存校准吸收系数（衰减系数），用于同等透照条件下同规格或相近规格工件厚度损失测量。

D89x4管道壁厚损失数字X射线DWT测试过程

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D89x4管道壁厚损失数字X射线DWT测试过程

Φ89x4管道壁厚损失数字X射线DWT测试

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T／CBDA64-2022 室内照明设计师职业能力水平标准及条文说明.pdfIC.4Φ89x4管道壁厚损失数字X射线DWT测

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