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GB／T 34370.5-2017 游乐设施无损检测 第5部分：超声检测.pdf

GB/T34370.5—2017附录C（规范性附录）游乐设施用钢锻件横波检测C.1钢锻件横波检测适用范围本附录适用于内、外径之比大于或等于80%的游乐设施用环形和筒形锻件的超声横波检测。C.2探头C.2.1探头公称频率主要为2.5MHz。C.2.22探头晶片面积为140mm²~400mm²。C.2.3原则上应采用K1探头，但根据工件几何形状的不同，也可采用其他的K值探头。C.3灵敏度校准试块C.3.1为了调整检测灵敏度，可利用被检工件壁厚或长度上的加工余量部分制作对比试块C.3.2在锻件的内外表面，分别沿轴向和周向加工平行的V形槽作为标准沟槽。V形槽长度为25mm，深度为锻件壁厚的1%，角度为60°。也可采用其他等效的反射体（如边角反射等）。C.4检测方法C.4.1扫查方式C.4.1.1扫查方向见图C.1。全部图C.1锻件横波检测扫查方向C.4.1.2探头移动速度不应超过150mm/s。C.4.1.3扫查覆盖率应为探头宽度的15%以上。51

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BD-01包件-SCADA远动系统-新建瓮安至马场坪铁路甲供物资SCADA远动系统采购招标--技术规格书C.4.2基准灵敏度的确定

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在锻件上找出可以代表完好锻件材质状态的位置，把第1次底面回波高度调整到满幅度的40% 30%，作为评定回波信号的基准

根据被检锻件的需要，按C.3或C.4调整，作为检测灵敏度

D.3实心锻件增益值讯

在检测实心锻件时，需要提高的增益数值，按式（D.1)计算：

验测实心锻件时，需要提高的增益数值，接式（D.1

式中： A 需要提高的增益值，单位为分贝（dB)； T 被检部位的厚度或直径，单位为毫米（mm）； d 平底孔直径，单位为毫米（mm）； 波长，单位为毫米（mm）； 圆周率。

D.4中心孔锻件增益值计算

在检测有中心孔的锻件时，需要提高的增益数值，按式（D.2)计算：

A = 201g 24T . D.1 nd

A =20lg 2A1 10lg 元d

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表E.1缺陷质量分级

GB/T34370.5—2017附录F（规范性附录）游乐设施用无缝钢管轴向横波检测F.1无缝钢管轴向横波检测适用范围本附录适用于游乐设施用无缝钢管的轴向超声横波检测。F.2检测设备F.2.1检测设备由超声波探伤仪、斜探头等组成。F.2.2探头应与钢管表面吻合良好，晶片长度小于或等于25mm，探头频率为2.5MHz～5MHz。F.3灵敏度校准试块F.3.1灵敏度校准试块应选取与被检钢管规格相同，材质、热处理工艺相同或相似的钢管，不应有影响人工缺陷显示的缺陷。F.3.2钢管横向缺陷检测试块的尺寸、V形槽和位置应符合图F.1和表F.1的规定。全部图F.1横向缺陷试块表 F.1缺陷质量分级单位为毫米等级长度1人工缺陷槽深度t140公称壁厚的5%，最小为0.2，最大为1II40公称壁厚的8%，最小为0.2，最大为3II40公称壁厚的10%，最小为0.2，最大为3F.3.3钢管横向缺陷检测试块的人工缺陷槽一般在外表面加工，当外径大于或等于80mm且壁厚大于或等于10mm时，应同时在内、外表面加工。同一个试块内、外表面人工缺陷沿钢管轴向应有足够的间距，以使在调试时容易分辨。F.4基准灵敏度确定F.4.1可直接在对比试块上将V形槽的反射回波幅度调节为荧光屏满刻度的50%，以此作为基准灵56

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格。不合格品允许采取修磨等方法进行处理，复验合格后可判为合格。 .2合格级别的确定由合同双方商定

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G.1铸铁部件超声检测适用范围

附录G （规范性附录） 铸铁部件超声检测方法和质量分级

G.1.1本附录规定了铸铁部件进行超声检测的超声检测方法和质量分级， G.1.2本附录主要适用于厚度为10mm～500mm铸铁部件制造过程中的冶金缺陷检测，和厚度为 10mm~50mm铸铁部件在役缺陷检测.以及球墨铸铁部件球化率等级的超声波检测

证书。 G.2.2按本附录进行检测的人员，应接受一定时间的有关铸铁部件超声检测方法的培训。对铸铁的材 料分类、机械性能及声学特性有一定了解。对检测中可能出现的问题能做出正确的分析、判断和处理。

铸铁部件用超声波探伤仪应具备以下特点： a） 接收带宽应至少在探头标称频率一6dB带宽的0.5～2倍，并配置有与探头标称频率相适应的 窄带滤波器； ） 发射脉冲是方波激励，脉冲上升时间不应超出标称探头频率对应周期的0.25倍，且脉冲宽度 至少在100ns～1000ns可调； 探伤同时可以同步观察底波衰减； d） 设备应具备球化率测量的能力

G.4.1对于铸铁部件在制造过程中产生的冶金缺陷，多数为体型或面型缺陷，可以使用单晶直探头，当 签测近表面缺陷时可以使用双晶直探头；对于特殊的几何形状，可以使用斜探头进行检测。 G.4.2对于铸铁部件在役使用过程中产生的缺陷，多数为面型或线型缺陷，可以使用斜探头。 G.4.3使用斜探头，声程不超过100mm，标称折射角度在45°～70°之间。 G.4.4探头频率应当在0.5MHz～5MHz的范围之内，在检测厚度小于20mm的铸件壁或是靠近表 面的部位时可以选择较高的频率。 G.4.5由于超声在钢和铸铁中的传播速度是不同的，实际的折射角度与用于钢材料的探头标称折射角 度也是不同的。可以按下面公式计算：

G.4.1对于铸铁部件在制造过程中产生的冶金缺陷，多数为体型或面型缺陷，可以使用单晶直探头，当 签测近表面缺陷时可以使用双晶直探头；对于特殊的几何形状，可以使用斜探头进行检测。 G.4.2对于铸铁部件在役使用过程中产生的缺陷，多数为面型或线型缺陷，可以使用斜探头。 G.4.3使用斜探头，声程不超过100mm，标称折射角度在45°～70°之间。 G.4.4探头频率应当在0.5MHz～5MHz的范围之内，在检测厚度小于20mm的铸件壁或是靠近表 面的部位时可以选择较高的频率。 G.4.5由于超声在钢和铸铁中的传播速度是不同的，实际的折射角度与用于钢材料的探头标称折射角 度也是不同的。可以按下面公式计算

式中： α 铸铁中的折射角度；

GB/T 34370.5—2017铸铁中的横波声速，单位为米每秒（m/s）；U,钢中的横波声速，单位为米每秒（m/s）。G.5试块G.5.1对于对比试块应符合7.5的规定。G.5.22试块中制作人工参考反射体，一般有平底孔和横通孔两种，平底孔用于直探头纵波探伤，横通孔用于斜探头横波探伤，G.5.3单直探头对比试块用于直探头检测灵敏度的调节，其形状和尺寸应符合图G.1和表G.1的规定。单位为毫米全部D210. 054图G.1单直探头对比试块表 G.1单直探头对比试块尺寸单位为毫米p3$5$8p10LDLDLDLD205020502050205040505050505050506050805010060100608050 12060150801508016080200802008020080250100250100一一一300100300100一一40015050015059

GB/T 34370.5—2017G.5.4双晶直探头对比试块应满足以下要求：a)工件检测距离小于50mm时，应采用双晶直探头对比试块；双晶直探头试块的形状和尺寸应符合图G.2和表G.2的规定。单位为毫米2003.2250图G.2双晶直探头对比试块表 G.2双晶直探头对比试块尺寸单位为毫米检测距离L试块序号孔径1$325$810152025330354045$10G.5.5斜探头对比试块用于斜探头检测灵敏度的调节，其形状和尺寸应符合图G.3和表G.3的规定单位为毫米300003:3/A0.05A图G.3斜探头对比试块60

GB/T 34370.5—2017表 G.3斜探头对比试块尺寸单位为毫米试块序号横通孔直径试块序号横通孔直径1$33982$54$10G.6检测G.6.1材料G.6.1.1首先需要确定待检工件材料是否适用于超声检测，应至少保证对比试块中人工缺陷反射波信噪比高于6dB。否则检出能力会降低。G.6.1.2铸件壁剖面应如图G.4所示，划分成不同区域说明：1 边缘区域；2中心区域；t壁厚；t/3（最大30mm）。图G.4壁厚分区G.6.2检测面G.6.2.1所有探伤扫查面应清除污物、氧化皮等，并保证平整以便超声耦合，G.6.2.2在检测前应消除工件表面状况（例如：铸造毛坏、喷砂/丸、机加工等)可能造成的评估误差。G.6.2.3检测面的表面粗糙度Ra≤12.5μm。G.6.3检测方法G.6.3.1对于铸铁部件在制造过程中产生的冶金缺陷，多数为体型或面型缺陷，可以使用单晶直探头，当检测近表面缺陷时可以使用双晶直探头。对于特殊的几何形状，可以使用斜探头进行检测。G.6.3.2对于铸铁部件在役使用过程中产生的缺陷，多数为面型或线型缺陷，可以使用斜探头进行检测。G.6.4检测灵敏度G.6.4.1试块与铸件在表面状况、声速、声衰减方面可能存在差异，应考虑传输校正因素。G.6.4.2单直探头灵敏度的确定使用单直探头对比试块，依次测试一组不同检测距离的平底孔，制作61

GB/T 34370.5—2017表 G.5体型缺陷的质量分级质量等级特征单位12350~50~50~壁原mm<50200>200<50>200<50>200<50≥50200200壁厚百分比%20253035边缘区域最大不连续mm*6001 0001 0001 00020002000不需中心区域最要评大不连续mm*估的10000150001500015000200003000020000缺陷不连续总面积占%1015151520201520303040检测表面的百分比表 G.6夹渣缺陷的质量分级质量等级特征12345壁厚百分比/%不需要评估的缺陷1015 2025表 G.7面型和线型缺陷的质量分级单位为毫米质量等级铸件厚度12>10~20横通孔直径<3横通孔直径>$3>20~50横通孔直径<$5横通孔直径>$563

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1.1奥氏体不锈钢对接焊接接头超声检测适用范

附录H （规范性附录） 奥氏体不锈钢对接焊接接头超声检测

H.1.1本附录规定了厚度10mm～50mm奥氏体不锈钢对接焊接接头的超声波检测方法和质量 分级。 H.1.2本附录不适用于铸钢焊接接头、其他接头形式焊接接头、外径小于159mm的钢管对接焊接接 头，内径小于或等于200mm的管座角焊接接头的超声检测，也不适用于外径小于500mm或内、外径 之比小于80%的纵向焊接接头超声检测

H.2探头、仪器及组合性能

1.2.1.1本附录推荐采用高阻尼窄脉冲纵波单斜探头。在满足灵敏度和信噪比要求时，也可选用双晶 片纵波斜探头或聚焦纵波斜探头等。 H.2.1.2探头频率为2.5MHz。 H.2.1.3探头K值：一般选K1探头，如需要也可选用其他K值的探头

H.3.1对比试块的材料应与被检材料相同，不应存在大于或等于2mm平底孔当量

3.1对比试块的材料应与被检材 在大于或等于2mm平底孔当量直径的缺陷。 的中部设置一对接焊接接头，该焊接接头应与被检焊接接头相似，并采用同样的焊接工艺制成。 3.2对比试块的形状和尺寸如图H.1所示

GB/T34370.5—2017环绕等四种探头基本扫查方式。H.6.3横向缺陷探测H.6.3.1保留余高的焊接接头，可在焊接接头两侧边缘使探头与焊接接头中心线成10°～20°，作两个方向的斜平行移动，见图H.3。H.6.3.2去除余高的焊接接头，将探头置于焊接接头表面作两个方向的平行扫查，见图H.3。日a）斜平行扫查b）平行扫查图H.3平行和斜平行扫查H.7缺陷记录H.7.1记录水平H.7.1.1反射波幅位于定量线及以上区域的缺陷应予以记录，H.7.1.2反射波幅位于1区的缺陷，如被判为危险缺陷时，也应予以记录。H.7.1.3以获得缺陷最天反射波幅的位置测定缺陷位置。应分别记录缺陷沿焊接接头方向的位置，缺陷到探伤面的垂直距离以及缺陷偏离焊接接头中心线的距离。H.7.2缺陷指示长度H.7.2.1反射波幅位于定量线及以上区域的缺陷，推荐以下两种方法测定缺陷指示长度：a)当缺陷反射波只有一个高点时，用6dB法测长；b)在测长扫查过程中，如发现缺陷反射波峰起伏变化，有多个高点时，用端点最大回波法测长。H.7.2.2反射波幅位于I区的缺陷，需记录时，以评定线灵敏度采用绝对灵敏度法测长H.8缺陷评定H.8.1超过评定线的回波应注意其是否具有裂纹等危害性缺陷特征，并结合缺陷位置，动态波形及工艺特征作判定。如不能作出准确判断应辅以其他方法作综合评定。H.8.2指示长度小于10mm时，按5mm计。H.8.3相邻两缺陷间距小于较小缺陷长度时，作为一条缺陷处理，两缺陷长度之和作为单个缺陷指示长度。条状缺陷近似分布在一条直线上时，以两端点距离作为其间距；点状缺陷以两缺陷中心距离作为间距。67

GB/T 34370.5—2017附录J（资料性附录）回波动态波形J.1波形模式I一一点状反射体J.1.1图J.1表示点状反射体产生的波形模式I，即在显示屏上显示出的一个单一尖锐回波波形J.1.2当探头前后、左右移动时，其波幅平滑地由零上升到最大值，然后又平滑地下降到零（或到噪声水平）。波幅A显示最大反射幅度的变化声程探头装置a)b)反射体焊缝反射体高度方向长度方向图J.1点反射体的回波动态波形J.22波形模式Ⅱ一光滑平面反射体（平滑平面反射体）J.2.1图J.2表示光滑的大平面反射体所产生的波形模式ⅡJ.2.2探头在各个不同的位置检测时，显示屏上均显示一个单一尖锐回波波形。探头前后和左右移动时，一开始波幅平滑地上升到最大幅度，探头继续移动时，波幅基本不变，或波幅的变化范围不大于4dB。随着探头离开反射体，波幅又平滑地下降。J.3波形模式ⅢJ.3.1波形模式Ⅲa一粗糙平面反射体（不规则平面反射体）J.3.1.1图J.3表示声束接近垂直入射，由不规则的大平面反射体所产生的波形模式Ⅲla。J.3.1.2探头在各个不同的位置检测时，显示屏上均呈一个单一且参差不齐的回波波形。探头移动时，回波幅度显示出不规则的起伏变化（波幅间变化大于6dB）。这种起伏变化是由于不规则反射体的不同反射面的回波引起的，另外，反射面回波间的相互干涉也会引起回波幅度的不规则起伏变化。70

GB/T 34370.5—2017波幅A显示最大反射幅度的变化声程探头装置反射体焊缝反射体高度方向长度方向图J.2光滑大平面反射体的回波动态波形波A显示最大反射幅度的变化声程探头装置a)b)反射体焊缝反射体高度方向长度方向图J.3接近垂直入射时不规则大反射体的回波动态波形J.3.2波形模式Ⅲb粗糙平面反射体（不规则平面反射体）J.3.2.1图J.4表示声束倾斜入射时，由不规则大反射体所产生的波形模式Ⅲb，又称为“游动回波波形模式”。J.3.2.2探头在各个不同的位置检测时，显示屏上显示脉冲包络呈钟形的一系列连续信号（有很多小副波峰）。探头移动时，每个小副波峰也在脉冲包络中移游动，副波峰向脉冲包络中心游动时波幅逐渐升高，然后又下降，信号波幅起伏较大（大于6dB）。71

K.1相控阵超声检测适用范围

GB/T34370.52017

.1.1本附录规定了在制和在用的钢制游乐设施焊接接头采用相控阵超声波超声波检测方法的基本原则。 K.1.2本附录适用于公称壁厚为8mm～400mm的全焊透结构形式的焊接接头的相控阵超声检测； 公称壁厚大于或等于6mm、外径为38~159mm或壁厚为6mm~8mm（不含8mm）、外径大于或等 于159mm的管子环向对接接头相控阵超声检测；厚度为6mm～50mm的全熔化焊T型接头的相控 阵超声检测， K.1.3游乐设施零部件可参照本附录执行 的管座鱼挽接头检洲

公称壁厚大于或等于6mm、外径为38~159mm或壁厚为6mm~8mm（不含8mm）、外径大于或等

K.2.1检测人员应具有较丰富的焊接接头超声波检测经验，并经考核取得Ⅱ级资格两年以上或具备Ⅲ级以上 等级资格证书。熟悉相控阵超声设备的使用、调试和结果评定，方可从事相应资格等级规定的监测工作， K.2.2相控阵超声检测人员应通过实际演示具有相应对象的检测能力后方可从事具体的监测工作

K.3.1相控阵超声检测仪器

相控阵超声检测仪器应满足以下要求： 至少应具有超声波发射、接收、放大、数据自动采集、记录、显示和分析功能； b） 应符合其相应的产品标准规定，具有产品质量合格证或制造厂出具的合格文件； C 检测过程中应有糖合监视

K.3.2相控阵超声探头

相控阵超声探头应满足以下要求： a）相控阵探头分为线阵相控阵探头和面阵相控阵探头： b）相控阵探头应符合产品质量技术要求，且其性能应满足附录A要求。

K.3.3相控阵超声扫查装置

相控阵超声扫查装置应满足以下要求： a） 扫查装置一般包括探头夹持部分、驱动部分和导向部分，并安装记录位置的编码器： b） 探头夹持部分应能调整和设置探头中心间距，在扫查时保持探头中心间距和相对角度不变； 导向部分应能在扫查时使探头运动轨迹与参考线保持一致； d) 驱动部分可以采用马达或人工驱动； 扫查装置中的编码器，其位置分辨率应符合本标准的工艺要求

K.3.4.1试块分为标准试块、对比试块和模拟试块

K.3.4.1试块分为标准试块、对比试块和模拟试块

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K.4.3.1扫描类型分为电子扫描和扇形扫描

4.3.1扫描类型分为电子扫描和扇形扫描 4.3.2应根据具体检测情况选择。通常采用扇形扫描，有时也采用电子扫描或两者组合

K.4.4.1耦合补偿是在检测和缺陷定量时，应对由表面粗糙度引起的耦合损失进行的补偿。 K.4.4.2 衰减补偿是在检测和缺陷定量时，应对材质衰减引起的检测灵敏度下降和缺陷定量误差进行 补偿。 K.4.4.3 曲面补偿是在探测面是曲面的工件时，应采用曲率半径与工件相同或相近的对比试块，通过 对比试验进行曲率补偿

扫查灵敏度不低于基准灵敏度

K.4.6聚焦法则的确定

则应根据所采用的扫描类型确定，明确其中涉及

K.4.7检测系统的复核

K.4.8表面辅助检测

K.4.9.1检测前应实测被检工件的声速。

4.9.1检测前应实测被检工件的声速。 4.9.2被检工件的表面温度应控制在0℃～50℃ 4.9.3检测系统设置和校准时与实际检测时之间的温度差应控制在土15℃之内

K.5.1.1应确定采用扇形扫描、电子扫描时具有的优点和局限性

K.5.1.1应确定采用扇形扫描、电子扫描时具有的优点和局限性。

GB/T 34370.5—2017K.5.1.2为提高检测结果的准确性，应根据被检产品的焊缝类型、工作介质，预计可能产生的缺陷种类、形状、部位和取向，选择最合适的扫描类型和显示方式或者其组合。K.5.2扫描类型及显示方式的选择K.5.2.1对接接头宜采用扇形扫描检测。工件厚度为6mm～8mm（不包括8mm）的焊缝应采用三次波、二次波或四次波分开设置进行检测；工件厚度为8mm～30mm的焊缝应采用一次波和二次波同时设置进行检测；工件厚度大于30mm的焊缝宜采用一次波、二次波分开设置进行检测。显示方式可选择按声程显示成像或按实际几何结构显示成像，见图K.7和图K.8。K.5.2.2角接接头应采用扇形扫描和电子扫描组合检测。显示方式宜采用按实际几何结构显示成像，见图K.9和图K.10。K.5.2.3T型接头应采用扇形扫描和电子扫描组合检测。显示方式宜采用按实际几何结构显示成像，见图K.11~图K.13。K.5.2.4根据被检工件的焊缝类型和产生缺陷的特点，也可辅以特定角度的扇形扫描或电子扫描及串列扫描检测K.5.2.5锯齿形扫查应根据检测工件的特点及现场条件选择手动扇形扫描、手动电子扫描及手动固定角度扫描。a）按声程显示b)按实际几何结构显示图K.7采用扇形扫描检测示意图图K.8采用多组扇形扫描检测示意图KK图K.9K型角焊缝图K.10Y型角焊缝78

GB/T34370.5—2017相控阵探头相控阵探头位置1电子扫插位置1电子扫描7位置2翼板7位置2相控阵探头相控阵探头扇扫腹极扇扫图K.11T型接头（型式I）相控阵探头位置3位置1相控阵探头相控阵探头位置3位置1相控阵探头扇扫电子扫描扇扫日电子扫描翼板奠板位置2位置2相控阵探头腹板相控阵探头扇扫扇扫图K.12T型接头（型式Ⅱ）相控阵探头位置1电子扫描垫板L翼板7位置2相控阵探头扇扫一腹板图K.133T型接头（型式Ⅲ）K.6检测原则K.6.1实施条件K.6.1.1实施游乐设施相控阵检测的检测机构需制定企业标准，并通过相关技术机构的评审后方具备基本条件。K.6.1.2超出本附录的尺寸和结构形式范围的部件，如要采用相控阵检测，需要设计和制作与被检部件材料、焊接和结构形式一致的试件，并在试件上验证所制定的工艺合理性方可进行。K.6.2T型接头的检测K.6.2.1基本原则：a)在选择扫查面和扫描类型时应考虑到各类型缺陷的可能性：b)应使声束尽可能垂直于该类焊接接头结构的主要缺陷。K.6.2.2检测方式：79

GB/T 34370.52017

应首先采用线性扫查，线性扫查不可行时采用锯

K.6.3.1缺陷定量

K.6.3.1.1缺陷定量以定量线为基准，对回波波幅达到或超过定量线的缺陷，应确定其位置、波幅和指 示长度等。 K.6.3.1.2以获得缺陷的最大反射波幅为缺陷波幅。 <.6.3.1.3线性扫查时，测量缺陷长度采用绝对灵敏度测长。锯齿形扫查时，当缺陷只有一个高点时， 长用6dB法测长。当缺陷有多个高点时，采用端点6dB法测长。 K.6.3.1.4相邻两个或多个缺陷显示（非圆形），其在X轴方向间距小于其中较小的缺陷长度且在Z轴 方向间距小于其中较小的缺陷自身高度时，应作为一个缺陷处理，该缺陷深度、缺陷长度及缺陷自身高 度按如下原则确定： a） 缺陷深度：以两缺陷深度较小值作为单个缺陷深度； b 缺陷长度：两缺陷在X轴投影上的前、后端点间距离； ) 缺陷自身高度：若两缺陷在X轴投影无重叠，以其中较大的缺陷自身高度作为单个缺陷自身 高度；若两缺陷在X轴投影有重叠，则以两缺陷自身高度之和作为单个缺陷自身高度（间距计 入。

K.6.3.2缺陷的评定和质量分级

K.6.3.2.1凡判定为裂纹、坡口未熔合及未焊透等危害性的缺陷显示，评为Ⅲ级。 K.6.3.2.2 凡在判废线（含判废线）以上的缺陷显示，评为Ⅲ级。 K.6.3.2.3 凡在定量线（不含定量线）以下的缺陷显示，评为工级， K.6.3.2.4 对于定量线以上、判废线以下的缺陷显示一般应结合设计图纸中的要求，进行强度校核后 评定

K.7.1.1检测报告至少应包括如下内容

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a 委托单位或指令； 检测标准； c） 被检工件：名称、编号、规格、材质、坡口型式、焊接方法和热处理状况； d) 检测设备及器材：相控阵仪器、相控阵探头、扫查装置、试块、耦合剂； e 检测工艺参数：扫描类型、显示方式、扫查方式、聚焦法则、探头配置及扫查灵敏度等； f) 检测覆盖区域：理论模拟软件演示的检测区域覆盖图及参数； 检测示意图：检测部位以及所发现的缺陷位置和分布图； h) 扫查数据：扫查数据以电子版形式保存和打印出彩色扫查数据的图像； i 检测结论：评定出缺陷位置、尺寸及质量级别； j 检测人员和审核人员签字； 检测日期。 1.2检测报告格式可参照附录G的规定

K.7.2.1扫查数据要以电子版形式保存

GB/T 41734.1-2022 动物射频识别 第1部分：射频识别标签与GB/T 20563和GB/T 22334的一致性评估（包括制造商代码的发放和使用）GB/T34370.52017

1.1应将回波高度调到显示屏满刻度的80%～100%，移动声束使之偏离缺陷边缘，直至回波高度 6dB。 .2应根据已知的探头人射点位置、折射角和声程长度，标出缺陷的边缘位置。 4.3埋藏缺陷的自身高度△H

式中W，和W，分别为缺陷上、 下边缘位置至入射点的声程，为探头折射角。 L.4.4当缺陷开口位于检测面一侧时的缺陷自身高度：

W缺陷下边缘位置至入射点的声程，单位为毫米（mm）

L.4.5当缺陷开口位于检测面另一侧时的缺陷自身高度

式中： 壁厚，单位为毫米（mm）； 缺陷上边缘位置至人射点的声程，单位为毫米（mm）； ? 探头折射角，单位为度（）

GB/T 34370.5—2017附录M（规范性附录）典型的测量用校准试块M.14阶梯测厚校准试块（见图M.1和表M.1）M.1.1试件的制作材料应与被检材料相同M.1.2试件的最终表面粗糙度要求检测面最大Ra0.8μm，其他面最大Ra1.6um。M.1.3为了便于电镀的操作，制作1.5mm的通孔，从试块边缘到孔中心1.5mm。M.1.4所有测厚面尺寸均为阳极化或电镀后尺寸。M.1.5为了防止锐边，使电镀增厚最小，或去除缺口和毛刺，可对试块的边缘倒斜角或倒圆，但应该保证这种处理引起的尺寸的减少不超过0.5mm。174172H图M.1典型的4阶梯测厚校准试块表M.14阶梯试块数据表美国常规试块/in4A试块/mm4B试块/mm符号尺寸公差尺寸公差尺寸公差T:0.2500.0016.250.025.000.02T:0.5000.00112.50.0210.000.02T:0.7500.00118.750.0215.000.02T41.0000.00125.000.0220.000.02L0.750.0220.000.520.00.5W0.750.0520.001.020.01.084

GB/T34370.5—2017M.25阶梯测厚校准试块（见图M.2和表M.2）M.2.1试件的制作材料应与被检材料相同。M.2.2试件的最终表面粗糙度，检测面最大Ra0.8umDZ／T 0342-2020 矿坑涌水量预测计算规程.pdf，其他面最大Ra1.6um。M.2.3为了便于电镀的操作，制作了1.5mm的通孔，从试块边缘到孔中心1.5mm。M.2.4所有测厚面尺寸均为阳极化或电镀后尺寸。M.2.5为了防止锐边，使电镀增厚最小，或去除缺口和毛刺，可对试块的边缘倒斜角或倒圆，但应该保证这种处理引起的尺寸的减少不超过0.5mm。o17s173T12图M.2典型的5阶梯测厚校准试块表M.25阶梯试块数据表美国常规试块/in5A试块/mm5B试块/mm符号尺寸公差尺寸尺寸公差尺寸T;0.1000.0012.500.022.000.02T20.2000.0015.000.024.000.02T:0.3000.0017.500.026.000.02T,0.4000.00110.000.026.000.02Ts0.5000.00112.500.0210.000.02L0.750.0220.000.520.000.5W0.750.0520.001.020.001.0M.37阶梯测厚校准试块（见图M.3和表M.3）M.3.1试件材料为45号钢。M.3.2制作试件的坏料经过锻造和热处理。M.3.3试件材料的晶粒度为7级，85

GB/T34370.5—2017II.I777617T37271图M.3典型的7阶梯测厚校准试块表M.37阶梯试块数据表单位为毫米7A试块7B试块符号尺寸尺寸尺寸尺寸Ti3.000.021.000.02T:12.500.031.500.02T:24.000.032.000.02T.30.000.034.000.02T;36.000.036.000.02T:42.000.038.000.02T;48.000.0310.000.02L40.001.040.001.0W40.001.040.001.086