GB／T39123-2020 标准规范下载简介
GB／T39123-2020 X射线和γ射线探测器用碲锌镉单晶材料规范.pdfICS.07.030 0.65
GB/T 39123—2020
X射线和？射线探测器用碲锌镉单晶
国家市场监督管理总局 发布 国家标准化管理委员会
DB45／T 1694-2018 高速公路生态绿化景观工程设计文件编制规范范围 规范性引用文件 术语和定义 要求 测试方法 检验规则 包装、标识、运输和贮存 说明事项
GB/T39123—2020
本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任 本标准由中国建筑材料联合会提出。 本标准由全国人工晶体标准化技术委员会（SAC/TC461)归口。 本标准起草单位：西北工业大学、陕西迪泰克新材料有限公司、上海大学。 本标准主要起草人：介万奇、谷智、徐亚东、查钢强、王涛、汤三奇、魏登科、闵嘉华、张继军。
GB/T39123—2020
时线和？射线探测器用碲锌镉单
X射线和？射线探测器用筛锌单晶 材料规范
X射线和？射线探测器用碲锌镉单晶 材料规范
本标准规定了入射线和Y 料的技术要求、质量保证规定和交货准备 本标准适用于X射线和丫射 锌镉单晶材料
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本立 件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T1555半导体单晶晶向测定方法 GB/T 6618 硅片厚度和总厚度变化测试方法 GB/T 14264 半导体材料术语 GB/T 24576 高分率X射线衍射测量GaAs衬底生长的A1GaAs中A1成分的试验方法 GB/T 29505 硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法 GB/T 32188 氨化镓单晶衬底片 我双晶摇摆曲线半高宽测试方法
GB/T 39123—2020
晶片为正方形片状，其外形尺寸应符合表1的规定，特殊要求可由供需双方协商确定。
晶片表面无区域污染，无孔洞、裂纹、晶界等宏观缺陷，无针孔、划痕等微观缺陷。晶片抛光表面 面粗糙度不大于0.12um，特殊要求可由供需双方协商确定
晶面为（111），晶向偏差不大于1°，特殊要求可由供需双方协商确定
组分值是0.100±0.004
1分值是0.100±0.004
111）晶面的双晶衍射半峰宽（FWHM)不大于60
镉和碲微沉淀相颗粒直径不大于100um。颗粒直径在20um～50um内，颗粒密度 50个/mm；颗粒直径在50um~100um内，颗粒密度不大于20个/mm²
立错腐蚀坑密度（DEPD不大于10个/mm。
电阻率（o）不小于101°Q·cm
DL／T 1822-2018 电站用抽汽止回阀订货验收导则漏电流(Imk）不大于100nA。
除另有规定外，受检样品应在下列条件下进行测试：
有规定外，受检样品应在下列条件下进行测试：
GB/T39123—2020
用分度值为0.02mm的游标卡尺和分度值为0.01mm的千分尺分别测量晶片的边长禾 片表面总厚度变化量（TTV)测量按照GB/T6618规定的方法进行
在40W日光灯下目视观察晶片表面有无区域污染，有无孔洞、裂纹、晶界等缺陷DB35／T 1840-2019 闽江干流航道维护技术规程，在10倍光 镜下观察晶片表面有无划痕，在100倍光学显微镜下观察有无针孔。表面粗糙度检验按 3/T29505规定的方法进行
组分z值测量按照GB/T 衍射角0约为38°9°。