JCT 1084-2019标准规范下载简介

JCT 1084-2019 中国ISO标准砂化学分析方法.pdf

称取缩分后的标准砂样品（150土10)g，精确至0.01g(m11），置于已恒重的玻璃烧杯中。然后注入 洁净水，并用玻璃棒搅拌后静置，再将浑浊液缓慢倒出（要防止砂粒被倒出），反复用洁净水清洗直至静 置时砂层上方的水清澈为止，再用蒸馏水清洗一遍后将烧杯置于鼓风干燥箱中，在105℃～110℃的温 度下烘干2h，取出置于干燥器中冷却至室温，称量（m12）。反复烘干，直至恒量。

13.3结果的计算与表示

SZDB／Z 300.1-2018 数字化城市管理 第1部分：总则泥含量的质量分数C按公式（10)计算：

式中： C一一泥含量的质量分数，%； m—试料的质量，单位为克(g)；

14化学分析方法测定结果的重复性限和再现性阳

化学分析方法测定结果的重复性限和再现性

所用试剂应不低于分析纯，尽可能使用纯的氧化物或碳酸盐，除了不能形成稳定的氧化物或碳酸盐 的元素，如硫、氯、溴和磷等，但需要保证准确的化学计量。 制备熔片时称量的试剂应无水（或对水分进行校正），氧化物应不含二氧化碳，应知道试剂的氧化态 用规定的程序来保证正确的氧化态。 用于制备校准标准熔片的试剂应该是纯的氧化物或碳酸盐，其纯度应不低于99.95%（不含水分和二 氧化碳）。 所使用试剂的组成应该是已知的，为此在使用前应进行如下处理： a）在105℃～110℃烘过2h； b） 在干燥器中冷却至室温备用： C） 在950℃~1000℃下灼烧过2h； d）在干燥器中冷却至室温后使用。

[15. 2: 2熔剂

15.2. 2.1熔剂的选择

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对于一个给定的校准程序，应始终使用相同的熔剂。通常用于标准砂分析的熔剂：质量分数33%四 硼酸锂(LiB.O）+十67%偏硼酸锂(LiBO,)或它们的其他比例的混合物。

[15. 2. 2. 2熔高

在确定的条件下应使试样全部被熔剂熔解，而且在熔样制片过程中不应溢出。

15.2.2.3熔剂的纯度

熔剂相对于被测元素应无杂质。但应对每批试剂进行检验。当更换试剂批次时，应制作玻璃熔 查（见15.10）

15.2.2.4熔剂中的水分

预先熔融过的熔剂的烧失量质量分数应不超过0.50%。如果熔剂中含有水分，应先在适宜的温

15. 2. 2. 5熔剂与试料的比例

熔剂与试料质量的比例（稀释比） 在校准时所用的熔剂与试料的质 同样应用于其后的分析中。 熔剂的总质量，且该质量要保持不本

15. 2. 2. 6 氧化剂

15. 2. 2. 7重元素吸收剂

重元素吸收剂，可以混在熔剂里，为了减少或抵消基体效益，如五氧化二钒或氧化镧。

15.2.2.8脱模剂

必要时可使用少量的脱模剂，加到熔融物中可以防正冷却时玻璃熔片发生破裂并易于脱模，如漠化 锂、溴化铵、碘化锂、碘酸锂或碘化铵。如果使用脱模剂，所有的熔片都应使用相同量的脱模剂并采用 相同的制片步骤。 在某些熔融条件下，脱模剂中的溴和碘可能残留于玻璃熔片中，因为溴的L。线可能与铝的K。线重 叠，碘的L2线可能与钛的K。线重叠，因此使用相应的脱模剂前，应对残留的溴和碘对结果的影响进 行检验。

15.2.3铂金埚和铸

埚和铸模应是铂合金，如95%铂/5%金。 铸模内部底面应保持光洁平整且无缺陷。

可选择用铂合金制成。

用于灼烧试剂或熔融样品的熔炉，如电阻炉、高频感应电炉，可控制温度高达1000℃，精 25℃。

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15.2.6自动熔样设备

用于自动制备玻璃熔片。所使用的自动熔样设备应满足15.6的技术指标。

[15. 2. 7 冷却装置

冷却装置可采用压缩空气喷嘴对准模底部的中心位置直吹，使熔体快速冷却，以得到均匀的玻璃熔 片并且容易与铸模分离；也可采用水冷却金属板。通常情况下，在空气中冷却是足够的。

尽可能保持在恒定的室温。为了防止正比计数管灵敏度的漂移，控制气瓶及输送管线的温度是非常 重要的。输送管道应尽可能短，并且尽可能放在安置光谱仪的温控室内。若不可能，应将气瓶放置在温 度控制柜（室温土2℃）内，否则应放在一个恒定室温的地方。同样的原因，新气瓶在使用前应在房间内 至少恒温2h。 注：该气体用于有流气式正比计数管的X射线荧光分析仪。 气瓶中的气体快用尽时，气体的组成会发生变化。应在气体全部用尽前及时更换气瓶，

模具通常为钢制，且具有适宜的强度，能承受压力，不变形，具有适宜的尺寸，用其压制的样片能 满足X射线光谱仪分析的需要。

15.3.1试样的称量

按选择的稀释比分别称量试样、熔剂和脱模剂，精确至0.0001g。脱模剂如为液态，应通过微量 移液管加入。所用试样可用下述两种方法之一进行称量。 a）称量未灼烧过的试样 用未灼烧过的试样制备玻璃熔片时，应称量试样的质量（m13），制备玻璃熔片所需的试样质量（m14）， 按公式（11)计算：

式中： m13一一应称量的未灼烧过的试样质量，单位为克(g)； m14一一制备玻璃熔片所需的试样质量，单位为克（g)； WLOI一一测得的烧失量的质量分数，%。 b）称量灼烧过的试样 灼烧过的试样贮存于干燥器中。当用灼烧过的试样制备玻璃熔片时，应快速称量试样，以防污染。 灼烧的试样质量不应超过5g，因为反复灼烧大量的试样很难达到恒量。如果灼烧大量的试样时， 将第一次灼烧后的大块试料碾碎，

15. 3. 2熔样步骤

熔样前，需把试样、熔剂和脱模剂充分混合。如果使用液体脱模剂，熔样前应先将试样和熔剂 ，在低温下加热除去水分，然后再加入液体脱模剂。在选定的控制温度的电炉内，在规定的时 10min)熔融该混合物，其间不时地摇动，直至试样熔解，且熔融物均匀。

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15.3.3玻璃熔片的铸造

熔片的测量表面平整光滑，无气泡，无污点，应用以下方法制备玻璃熔片： a 炉外铸造：熔融5min后从炉中取出铸模，放在一个水平面上。从炉中取出，立即取下 埚的盖子，将熔融物注入铸模里； b） 炉内铸造：熔融5min后取出埚盖子，在炉内将熔融物注入铸模里，尽可能地将熔融物全部 转移至铸模里。从炉中取出铸模，放在一个水平面上； ) 二合一熔铸模具：熔融5min后从炉中取出熔铸模具，摇动，确保全部熔融物转移至圆的模具中： d) 喷灯加热模具：将制备好的熔融物注入预热的铸模中后，关闭喷灯； e）在熔铸模具内：熔融之后，将熔融物留在熔盘中，从炉中取出熔盘。

15.3.4熔片的冷却

将铸模放在水平面上冷却。如果需要快速冷却，当熔体由红热状态冷却后，将铸模置于压缩空气流 上方的水平位置冷却（或用水冷板）。使压缩空气能直接吹至铸模底部中心。当熔片已成固体并自动脱模 后，关掉压缩空气。有必要在此阶段小心地轻敲铸模，促使熔片从铸模中脱模。

15.4自动制备玻璃熔片

[15. 4.1熔片制备

可用自动熔样设备制备熔片。

5.4. 2玻璃熔片的贮有

要防止由于温度和湿度条件不适宣而导致熔片损坏，例如可以将熔片贮存于聚乙烯自封袋中。如果 实验室条件可以适当控制（如有空调），应将袋子放在干燥器中。若环境条件不能控制，应将其贮存于 25℃~30℃的温控箱中。 注：已见诸报道的污染来源如下：硫来源于光谱仪中的真空油或实验室空气；钠和氯来源于接触手；如果实验室靠 近海边，钠和氯来源于空气；钠和钾来源于香烟烟气。钠和钾来源于香烟烟气。 将熔片贮存于密封的聚乙烯袋中，再放入干燥器中。长期贮存后，用前应用乙醇或丙酮彻底清洗 表面。

15.5.1校准和验证样品

15.5.1.1系列校准样品的配置

使用与待测试样相同的物料、纯试剂、标准样品/标准物质，制备一系列熔片或压片作为校准标准 样品。该系列校准样品应覆盖每种被测元素的浓度范围，且应有较均等的含量梯度，校准样品中每种元 素变化应相互独立。每一系列至少7个样品，通常制备的系列校准样品10个以上。 系列校准样品的制备应按照GB/T15000系列标准或JJF1343技术规范。 系列校准样品的定值方法可采用本标准分析方法进行，应溯源到有证标准样品/标准物质。用于溯 源的有证标准样品/标准物质中的主成分的质量分数应尽可能与待定值的校准样品相近。

用化学分析方法确定校准样品中各成分的质量分数。建议采用不同原理的测定方法，且多家实验室 定值。

验证校准曲线用有证标准样品/标准物质或质

不使用制备的校准标准样品，可以选择一个或多个质控标准样品，其成分在每种被测元素的校准 范围内，与系列标准样品同源，制备方法亦同；也可以准备能满足上述要求的有证标准物质，需采用 熔片法。

15.5.1.3强度校正样品/监控样品

使用一个或多个样品（玻璃熔片或其他稳定材质），每一个成分给出的强度高低类似于每个被分析元 素的校准范围。如果使用多个样品，对每个元素选择高含量和低含量的样品。这些样品应不同于校准标 准。这些样品应足够稳定，避免被X射线过度照射，以防老化。 考虑仪器的老化(X光管、探测器等)因素，用这些样品计算一个校正系数，将测量到的原始强度进 行校正。

15.5.1.4重校准标准样品

选择两个校准样品，比如工作曲线的低样和高样（ 量值），对工作曲线进行校准，贮存以供将来参考 注：根据仪器设备，需要在起始校准时定义“重校准标准样品”。 如果通过强度校正步骤不能充分地校正仪器的漂移，则应对校准曲线方程进行调整。

15.5.1.5光谱仪控制样品

15.5.1.5.1用熔片分析时的控制

在校准范围内或接近校准范围准备并贮存一个或多个熔片。验证校准曲线用标准样品是可以使用 的。如果熔片与初始测定结果的偏差超出表2中所列的重复性限，则怀疑熔片老化，应准备一个替代的 熔片。

15.6校准的建立和验证

15.6.1校准样品灼烧基浓度

采用玻璃熔片制作校准曲线时，浓度坐标用校准样品的灼烧基浓度。校准样品的灼烧基浓度按 计算：

式中： W(灼烧基)一 校准样品的灼烧基中某元素的浓度，%； W(收到基)一 一校准样品的收到基中某元素的浓度，%；

15.6.2校准曲线、方程的建立和验证

15. 6. 2. 1校准曲线

15. 6. 2. 1校准曲线

在选定的工作条件下，用X射线荧光光谱仪测量一系列的校准标准样品或试样成分相近的有证标准 样品/标准物质熔片或压片中的每种被测元素的谱线强度。在测量得到的X射线强度与元素浓度之间建 立校准关系，包括对质量吸收的校正和谱线叠加的校正。 在一个合理的计数时间内（例如200s)，测量并记录所有校准熔片中每种被测元素的谱线强度。利 用回归分析，例如用最小二乘法，按公式（13）建立每种被测元素的校准曲线：

Wi——标准样品中成分i的含量 I一一成分i的X射线强度；

15. 6. 2. 2校准方程

=al'+bl +c...

如果元素间的效应显著影响校准精度，例如钾对钙的影响，有必要进行校正。综合校准、基体效应 校正和谱线重叠干扰校正，用数学公式（14）回归计算，如：

w, =(al?+bl,+c)(1+Zauw,)+β,w,

15.6.2.3校准的验证

通过对至少一个“验证校准曲线用标准样品”（见有证标准样品/标准物质）的重复测定，对被测元 校准的准确度进行验证。 被测成分的允许差应在表2中所列的重复性限内。 如果被测成分的允许差超出表2中所列的重复性限，则该校准是无效的，应考虑： a） 调整对元素间干扰的校正； b 所使用的一套标准样品是否适当； c）确定其他因素，并采取适当的校正措施； d）按照15.6重新校准曲线和方程的建立，

15. 7重复性的确认

15.7.2光谱仪的重复性

当使用一个新的光谱仪，或对光谱仪、制备程序进行了重大调整后，应进行分析的重复性验证 a）检查仪器的稳定性（气流、温度调节等）：

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T10842019 b) 增加计数时间； C）增大熔片中试料与熔剂的比例，提高灵敏度。

15.7.3方法的重复性

在经过一段适当的时间周期后，准备至少10个不同制备过程的制备过程控制样品。记录平均值并 算其标准偏差。为了验证方法的重复性，标准偏差应不大于表2中所列出的重复性限的1/2。 如果标准偏差大于表2中所列出的重复性限的1/2，则该方法的重复性是无效的，应考虑： a） 检查仪器的稳定性（如气流、温度调节等）； b） 增加计数时间； 增大熔片中试料与熔剂的比例，提高灵敏度； d） 提高样品细度； e） 熔融时提高熔样温度或延长熔样时间； f 在压片时考虑使用助磨剂或粘合剂； ? 增加制作压片时的压制时间或压力。

15.8强度校正样品的初始值

15.8.1强度校正样品/监控样品的初始值

在初次校准时，记录强度校正样品/监控样品的初始值 注：通常把这些值贮存在软件中，贮存相应的样品以供参考，

15.8.2重校准标准样品的初始值

在初次校准时，记录重校准标准样品的初

次校准时，记录重校准标准样品的初始值。

15.8.3光谱仪控制样品的初始值

在初次校准时，记录光谱仪控制样品的平均值计算，如果怀疑光谱仪控制样品老化，应制作一个新 的熔片，并且确定新的初始值。

15.8.4制样过程控制样品的初始值

在初次校准时，记录按计算的平均值，作为制样过程控制样品的初始值。 bea

15.9.1熔片校准的重新验证

如果测定结果与初始数据相比， 重复性限，则熔片校准是有效的。

15. 9. 2强度漂移的校正

如有必要对每种被测元素计算其校正系数，以补偿由于X光管、探测器等老化而引起的强度漂移。 随后，将校正后的强度应用于校准方程中，得到浓度。 注：在许多应用软件中，该校正应用于每种被测元素所有的校准。 强度随时间的漂移应很小且有规律。如果强度突然下降，说明仪器出了问题。这时，用这种方法校 正强度漂移是不合适的

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如果强度漂移的校正不足以得到准确的分析验证结果（大于表2所列的再现性限）时，可以用重校准 标准样品得到的校正系数应用在校准曲线中 由于仪器的漂移而对校准方程的修正，应比较小且随着时间的变化有一定的规律。如果分析结果急 速或严重偏离，表明仪器或分析操作有问题，此时用该重校准方法来校正是不合适的。

15.10制样过程的监测

15. 10.1熔片的制样验

通常，对于有规律的漂移，应该检查整个分析过程，包括熔片和压片的制备和光谱仪的测量。 制备一个新制样过程控制样品： a） 新的分析结果与初始值差别在表2所列的重复性限内； b） 新的分析结果的平均值与有证标准物质或工业标准物质的证书值相比较，其差别在表2所列的 重复性限内。

某高速公路隧道工程施工组织设计15.10.2制样偏差的补救措施

如果测定不能满足重复性限的要求，应检查是否有下列情况： a) 熔剂的烧失量增加； b) 制样设备引起的漂移（检查温度、细度、样品表面的质量等等）； C 使用了一批新的熔剂； d) 使用了新的熔片或压片制备仪器； e） 改变或修改了样品的制备程序，例如，由手工改变为自动； f） 采用了新类型的熔剂，或试料与熔剂的比例发生了变化； g）： 其他程序或仪器发生了变化。 在前两种情况下，采取补救措施，重新检查分析。在所有其他情况下，进行全面的重新校准。

15.11结果的计算与表示

通过校正过的校准曲线计算熔融基中各种元素的浓度，必要时考虑元素间的干扰，通过校准曲线和 方程，计算被测元素的浓度，结果以质量分数表示。 熔融法的测定结果，根据未灼烧试样（收到基）中烧失量W(收到基)的结果，按公式（15)将灼烧基结果换 算成收到基结果，

W(收到基) 一试样收到基的测定结果，%； W(约染基） 一试样灼烧基的测定结果，%；

DB34／T 2388-2015 水利建设工程规范化施工管理工地标准线荧光分析方法测定结果的重复性限和再现性

W(收到基)=W(灼烧基) 100

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