标准规范下载简介
GB／T 40129-2021 表面化学分析 二次离子质谱 飞行时间二次离子质谱仪质量标校准.pdfICS71.040.40 CCS G 04
GB/T40129—2021/ISO13084:2018
ISO13084.2018.IDT）
DB37／T 2906-2019标准下载GB/T40129—2021/ISO13084:2018
引言 范围 规范性引用文件 术语和定义 符号和缩略语 4.1 符号 4.2 缩略语 方法概述 提高质量准确度的方法 6.1 获取用于优化的参考样品 6.2 制备聚碳酸酯样品 6.3 获取SIMS质谱数据 6.4 计算质量准确度 6.5 优化仪器参数 6.6 谱图校准程序 附录A（资料性） 校准不确定度 附录B（资料性） 内部添加法 参考文献
1言 范围 规范性引用文件 术语和定义 符号和缩略语 4.1 符号 4.2 缩略语 方法概述 提高质量准确度的方法 6.1 获取用于优化的参考样品 6.2 制备聚碳酸酯样品 6.3 获取SIMS质谱数据 6.4 计算质量准确度 6.5 优化仪器参数 6.6 谱图校准程序 付录A（资料性） 校准不确定度 村录B（资料性） 内部添加法 参考文献
GB/T40129—2021/ISO13084:2018
本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起章规则》的规定 起草。 本文件使用翻译法等同采用IS0O13084：2018《表面化学分析二次离子质谱 飞行时间二次离子 质谱仪质量标校准》。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本文件由全国微束标准化技术委员会（SAC/TC38）提出并归口。 本文件起草单位：中山大学。 本文件主要起草人：陈建、谢方艳、龚力、杨慕紫、杨皓、张浩、张卫红
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GB/T40129—2021/IS013084:2018
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表面化学分析二次离子质谱
本文件描述了一种用于 质谱（SIMS）仪器的质量校准准确 度的方法。本文件仅适用于飞行时间仪器，但并不限于任何特定的仪器设计。本文件提供了对一些仪 器参数优化的指导，这些参数能使用此程序进行优化，还提供了适用于校准质量标以获得最佳质量准确 度的一般峰的类型
本文件没有规范性引用文
下列符号和缩略语适用于本文件
汽车技术研究中心新院区建设项目预应力专项施工方案GB/T40129—2021/IS013084:2018
这单先概述该方法，以使在上下文中理解第6章中给出的详细程序。首先，为了使用该程序优化飞 行时间质谱仪，需在导电衬底（硅）上获得聚碳酸酯（PC）薄膜。在PC正离子质谱中使用19个特定的 CH，峰，通过反复执行6.36.5中的程序来实现优化过程。在6.6中，给出了一个通用校准程序，该 程序提供了能涵盖无机物和有机物的校准规则。这就产生了用于质量校准的新的通用离子组，其能将 一些常用校准的质量准确度提高5倍。讨论了超出校准范围的外推效应，并给出了推荐的程序，以确保 在可选择的不确定度范围内实现大分子的准确测量。因此，该程序有优化和校准两个部分。6.1～6.5 仅适用于测试实验室所规定的仪器定期维护。6.6对所有质量标的校准是必需的。概述流程图见图1。
图1校准方法的操作顺序的流程图
6提高质量准确度的方法
6.1获取用于优化的参考样品
6.2制备聚碳酸酯样品
JB／T 8354.10-2020 抛喷丸清理及强化用金属磨料 第10部分：铸铁砂.pdfGB/T40129—2021/ISO13084:2018
6.3获取SIMS质谱数据
6.4.1仪器制造商的软件可自动提供峰值位置的计算；通常只需用这个计算就可得M。值。可使用更 精确和可靠的方法来测量质谱中峰的质量M。。非对称高斯函数GA可用于拟合信号强度随质量位置 Mp的变化，拟合结果用于计算峰值位置M。。其中M。是峰中心，Mp是谱峰质量位置，G。是系数，GA 是拟合的信号强度.由公式（1）和公式（2）给出：