标准规范下载简介

JJF(新) *8-2021 一维、二维几何尺寸测量校准规范.pdf

一维测量是单一轴向尺寸测量；二维测量是平面坐标尺寸测量，包含平面内任意 点与点之间、点与线之间、线与线之间的测量。 一维尺寸测量的方法有很多，可分为直接测量和比较测量，测长机（仪）、光学 计、工具显微镜、影像仪器都可进行测量。 二维尺寸测量和角度测量一般是直接测量，主要测量仪器有工具显微镜、影像仪 等，间接测量角度的主要测量仪器有正弦规等

维尺寸测量范围≤2000mm； 二维尺寸测量范围≤*00mm×500mm； （例如：校棒、测杆、圆周校棒、足迹尺、比例尺、多功能孔距测量器、划格器 指环棒等） *2角度

后张预应力连续箱梁预应力张拉施工工艺措施则量范围：（0~3*0）

例如：量角器、关节量角器、扇形板、量

5校准条件和校准设备控制

5.1环境条件要求详见表1

5.2校准项目和校准用设备

校准项目和校准用设备见表2。

表2校准项目和校准用设备

校准前，首先检查被校准件外观及各部分相互作用，采用手*和目力观察。应无 毛刺、锈蚀、断线等影响计量性能的缺陷。 在确定没有影响计量特性的因素后再进行校准

一维、二维几何尺寸测量方法众多，测长机、测长仪、光学计、工具显微镜 像仪测量时应按照仪器相关使用说明书的要求进行操作。测长机、测长仪、光学

*. 1. 1 影像法测量

面内常用圆弧半径测量。一般采用弓高弦

n （其中h一弓高，L一弦长）

选取圆弧的一部分，利用影像法分别测出亏高和弦长，再计算出圆弧半径即可 在工具显微镜上进行平面几何尺寸的测量：将工件置于工作台上，根据工件大小选择适 合放大倍数的物镜，测量前调整被测工件所需测量面与工具显微镜导轨**平面平行。调整 工具显微镜和被测工件直到被测工件的所需测量点（边）的轮廓边沿清晰地呈现在工具显微 镜的视场中央，用目镜中米字线的竖线或横线（中心）对准被测量的点（边），在X\Y轴上分 别读取该点（边）的坐标值（，），移*显微镜工作台到另一测量点（边），再用目镜中米 字线的竖线或横线（中心）对准被测量的另一点（边），同样在X\Y轴上分别读取该点（边

*.2.1平面角度测量

5.2.1.1用测角自镜测量平面角度：单纯的角度测量也可在万能工其显微镜上用测角 目镜或圆分度台进行测量。测角目镜的分辨力为1’，分度台的分辨力为：10”，根 据具体被测量工件的准确度来选择用测角目镜还是圆分度台进行测量。用测角目镜进 行角度测量时，首先将工件置于工作台上，根据工件大小选择适合放大倍数的物镜， 则量前调整被测工件所需测量面与工具显微镜导轨**平面平行。调整工具显微镜和 被测工件直到被测工件所需测量轮廓的边沿清晰地呈现在工具显微镜的视场中央，用 则角目镜中米字线其中一条线与被测工件的一边轮廓平行对齐（瞄准线与轮廓边沿之 间稍留一点间隙），然后在目镜中读出对应角度值α1，转*测角目镜再用同一条线平 行对齐被测工件的另一边轮廓，在目镜中读出对应角度值α，被测工件的角度值为：

*.2.1.2用圆分度台测量平面角度：将工件置于工作台上，调整步骤同上，直到被测 工件所需测量轮廓的边沿清晰地呈现在工具显微镜的视场中央，（一般测角目镜位于零 立，不*），转*圆分度台，使工件一边的轮廓与目镜中米字线其中一条线平行对齐， 然后在圆分度台上读出对应角度值α1，转*圆分度台用被测工件的另一边轮廓与目镜

*.2.1.3正弦规测量角度 正弦规是利用三角法间接测量角度的一种精密量具，通过直角三角形的正弦关系 来计算测量结果。 正弦规的型号规格有100mm和200mm两种，一般用于测量小于*5°的角度，在测 量小于30°的角度时，精确度可达3”～5”

*.2.1.3正弦规测量

图 2 利用正弦规测量测量示意图

利用正弦规测量测量示意图

正弦规使用注意事项： 1）根据被测工件尺寸大小选择适用规格的正弦规。 2)正弦规是与量块组配合使用的，量块组的组合尺寸H=Lsinα。（L一般为正弦规滚柱 之间的尺寸，α。为被测角度标称值）。量块组组合时应注意研合技巧（将量块量块成 30°角交又贴合在一起，用手前后微量地错*上面一块量块，同时旋转，使量块两工 乍面转到相互平行的方向；然后沿工作面长边方向向前推进量块，直到两工作面全部 站合在一起。在正常情况下，研合过程中手指能感觉到研合力，两量块就不必施加压 力，如研合力不大，可在旋转和推进时加一些压力，但压力不能太大，以免小尺寸量 块变形。）研合顺序是先研合小尺寸量块，再将研合好的两块组与中等尺寸研合，最后 研合大尺寸量块。量块组合尺寸按的实际值使用。 3)在确定检测摆放位置时，注意正弦规检测方向与零件（或夹具）基准的位置，放置在 正弦规上检测的零件可以使用侧面或端面的挡板作定位。 *)被测件应无磁。

则量后的参数出具校准证书。校准证书内

建议复校时间间隔一般为一年。

影像法测量两点距离值不确定度评

两个量考虑为正相关，则：u.=2 u(x)

A.3不确定度来源和不确定度分量的评定

A.3不确定度来源和不确定度分量的评定

3.1测量重复性引入的不确定度分量"1：

在工具显微镜上对同一轮廓边沿的点或线重复成像并瞄准十次读取相应读数，记录于下 表(边沿一般的工件)：

S=0.5μm，则u,=S=0.5μm

3.2工具显微镜示值误差引入的不确定度

3.2工其显微镜示值误差引人的不确定度分量*2： 根据《工具显微镜》检定规程要求，其示值误差要求为：MPE：土（1+L/100）um，取k=3， 则有： 特例（单轴方向）时uz=（1+L/100）μm/3=0.7μm 平面（双轴时）测量时：△x=93mm，Ay=37mm，则 u2(△x)=0.**μm u2(Ay)=0.**um 双轴测量时按完全正相关处理，则合成后uz=uz(Ax)+uz(Ay)=1.1μm 3.3阿贝误差对测量结果的影响及被测件安装与导轨移*直线不平行所引入的不确定度分量 u3：

u,=2μum//3=1.2um

u,(△x)=u(Ay)=u,=1.2μm

双轴测量时按完全正相关处理，则合成后.=2*1.2=2.*（um）

双轴测量时按完全正相关处理，则合成后u,=us(Ax)+u(Ay）=0.3μum

3.*被测件测量基准面与被测量轮廓边沿的垂直度引入的不确定度分量* 工件自身测量基准面与被测量轮廓边沿的的垂直度要影响测量，测量轮廓边沿与立柱垂

单轴时：u= =1.2（μm)

单轴时：u= =1.2（μm) /3

A.*合成标准不确定度：

单轴测量时：=?++++=2.*（m） 同理两轴测量时：u。=u +u +u +u +u +u =*.0（μm）

单轴测量时：=+²++++=2.*（um） 同理两轴测量时：u。=u?+us+u+u+u+u?=*.0（μm

取k=2，则 单轴测量时：U=ku=*.8μm 两轴测量时：U=ku。=8.0μm 距离测量为L=100mm时，尺寸测量的不确定度均采用U=8.0um，k=2。

取k=2，则 单轴测量时：U=ku=*.8μm 两轴测量时：U=ku。=8.0μum 距离测量为L=100mm时，尺寸测量的不确定度均采用U=8.0um，k=2。

弦长测量圆弧半径的不确定度评定

2＇8h （其中h一弓高，L一弦长）

B.3方差和灵敏系数：

B.*不确定度来源和不确定度分量的评定

下面以弓高为：32mm，弦长为9*mm，则其半径为：50.51*mm为例，估算 确定度。其弦长和弓高的不确定度分量参见前面的两点距离测量时一致，其数据 如下。

影像法测量角度的不确定度评定

MPE: ±(1+L/100) um

C.3方差和灵敏系数：

C.*不确定度来源和不确定度分量的评定

C.*.1测量重复性：在工具显微镜上对所需测量角度边沿线重复瞄准 数，记录于下表(边沿一般的工件)

测角目镜：u1=S=1.0（'） 分度台：u1=S=1.3（") C.*.2工具显微镜测角目镜（或分度台）测角示值误差引入的不确定度分量： 根据《工具显微镜》检定规程知，测角目镜和分度台的测角示值误差分别为： 测角目镜：MPE:±1' 光学分度台：MPE：±10" 取k=3，则： 测角目镜：u,=1'/3=0.* 光学分度台：u2=10"/3=3.3" C.*.3安装对测量结果的影响u3：

3安装对测量结果的影响“3： 时应使测量轮廓边沿与立柱垂直，应无目力可见倾斜，估计其影响量为10"，按均

匀分布处理，=3，则u 10 =5.8("

匀分布处理，=/，则u= 10 =5.8（"） 3

C.*.*被测工件边沿轮廓的不理想引入的不确定度分量^*： 被测件边沿的轮廓的不理想直接影响对线，估计一般影响量为：5"，按均匀分布处理 /3

C.5合成标准不确定度

上述各分量相互独立，则：

测角目镜：(α)=Z[f/ax,"?=?+++=1

测角目镜：(α)=Z[f/ax,]"?=+++=1.

DB*1／T 130*-2019 增材制造医疗器械生产质量管理规范.pdf度台：u.(α）=y?+u+?+=7.*（"

取k=2，则有： 测角目镜：U=ku(α)=2.2（") 分度台：U=ku(α）=1*.8（"）=15"

D.1校准证书内页信息

校准证书内页信息及格式

至少应包括以下信息： a）标题“校准证书”； b）实验室名称和地址： c）进行校准的地点； d）证书或报告的唯一性标识（如编号），每页及总页的标识； e）客户的名称和地址； f）被校对象的描述和明确标识； g）进行校准日期，如果与校准结果的有效性应用有关时，应说明被校对象的接受 日期； h）如果与校准结果的有效性和应用有关时，应对抽样程序进行说明 i）对校准所依据的技术规范的标识，包括名称及代号； j）本次校准所用计量标准的溯源性及有效性说明 k）校准环境的描述； 1）校准结果及测量不确定度的说明； m）对校准规范的偏离的说明； n）校准证书或校准报告签发人的签名、职务或等效标识； o）校准结果仅对被校对象有效的声明； D）未经实验室书面批准，不得部分复制证书的声明

建筑节能施工方案103711888*dcD.2校准证书内页格式

推荐的校准证书内页格式见表D.1

表D.1校准证书内页格式