标准规范下载简介
YD／T 1688.6-2018 xPON光收发合一模块技术条件 第6部分：用于NG-PON2堆叠式光线路终端／光网络单元（OLT／ONU）的光收发合一模块.pdf7.3.10信号光对杂散光的容忍度
7.3.11频带内串扰容限
7.3.11.1测试框图
测试框图如图12所示。
DG／TJ08-2306-2019 城市轨道交通接触轨系统施工验收标准.pdfYD/T168862018
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表12可靠性试验要求
LTPD为批内允许不合格品率，SS为最小样品数，C为合格判定数。 试验气候条件除相对湿度为30%～60%外，其他同6.1；试验室的电磁环境不应影响试验结果。 仅适用于插拔式的产品。 UNC为非可控环境，CO为可控环境
8.3.1ESD阅值、机械完整性、非工作环境试验、工作环境试验判据
3.1ESD阅值、机械完整性、非工作环境试验、工作环境试验判据
8.3.2ESD抗扰度试验等级判据
ESD抗扰度等级可按照如下要求分类，各等级的判据如下。 一A级：在制造商、委托方或购买方规定的限值内性能正常。 B级：试验过程中功能或性能暂时丧失或降低，但在骚扰停止后能自行恢复，不需要操作者干 预。 C级：试验过程中功能或性能暂时性丧失或降低，且在骚扰停止后不能自行恢复，需操作者干 预。 D级：因设备硬件或软件损坏，或数据丢失而造成不能恢复的功能丧失或性能下降。
9.1电磁兼容试验要求
表13电磁兼容试验要求
射频电磁场辐射抗扰度试验失效判据见YD/T1766一2016中8.2的规定； 射频电磁场辐射发射试验失效判据见YD/T1766一2016中8.2的规定，B级信息技术设备测试 求见表14。
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表14辐射发射限值要求
检验、型式检验。出厂检验分为常规检验和抽
从批量生产中生产的同批或若干批产品中，按GB/T2828.1规定，取一般检查水平II，接收质量 （AQL）和检验项目如下。 a）外观
检验方法：目测，符合6.12要求。 b）外形尺寸 AQL取1.5。 一检验方法：用满足精度要求的量度工具测量，应符合产品外形尺寸要求 C）性能检测 AQL取0.4。 检验方法：按7.3的规定进行测试，其结果符合表10和表11的规定。
OLT模块/ONU模块有下列情况之一时，应进行型式检验： a）产品定型时或已定型产品转场时； b）正式生产后，如果结构、材料、工艺有较大改变，可能影响产品性能时； c）产品长期停产12个月后，恢复生产时； d）出厂检验结果与定型时的型式检验有较大差别时； e）正常生产24个月后； f）国家质量监督机构提出进行型式检验要求时。
在进行型式检验前，按7.3的规定，对样品的性能参数进行测试，并记录测
在进行型式检验前，按7.3的规定，对样品的性能参数进行测试，并记录测试结果
10.3.3检验项目及抽样方案
型式检验的检验项目及抽样方案见表12和表13。
型式检验的检验项目及抽样方案见表12和表13。
10.3.4样品的使用规则
样品使用规则如下： a）凡经受了型式检验的样品，一律不能作为合格品交付使用； b）在不影响检验和试验结果的条件下，一组样品可用于其他分组的检验和试验。
10.3.5产品不合格的判定
各项试验完成后，不合格判定按8.3和9.2的规定执行，当其中任何一项试验结果不符合要求时， 则判该批不合格。
10.3.6不合格批的重新提交
当提交型式检验的任一检验批不符合表12和表13中规定的任一分组要求时，应根据不合格原因， 采取纠正措施后，对不合格的检验分组重新提交检验。重新检验应采用加严抽样方案。若重新检验仍有 失效，则该批拒收。如通过检验，则判为合格。但重新检验不得超过2次，并应清楚标明为重新检验批
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10.3.7检验批的构成
提交检验的批，可由一个生产批构成，或由符合下述条件的几个生产批构成： 这些生产批是在相同材料、工艺、设备等条件下制造出来的； 若于个生产批构成一个检验批的时间不超过1个月。
每个产品应标明产品型号、规格、编号、批的识别代码及安全等标志。
进行全部试验后，标志应保持清晰。标志损伤了的产品应重新打印标志，以保证发货之前标患
11.1.3污染控制标志
产品的污染控制标志应按SJ/T11364一2006第5章的规定，在包装盒或产品上打印上电子信息 染控制标志。
产品应有良好的包装及防静电措施，避免在运输过程中受到损环。包装盒上应标有产品名称、型号 和规格、生产厂家、产品执行标准号、防静电标识、激光防护标志等。 包装盒内应有产品说明书。说明书内容包括：产品名称、型号、简要工作原理和主要技术指标、极 限工作条件、安装尺寸和管脚排列、使用注意事项等。
包装好的产品可用常用的交通工具运输，运输过程中应避免雨雪的直接淋袭、烈日曝晒和猛烈撞击。
A.1TWDMPON下行中心频率分配
TWDMPON下行中心频率分配见表A.1
附录A （规范性附录） TWDMPON下行中心频率分配
表A.1下行中心频率分配
注：表中频率为规范值，波长为参考值
11.54通道TWDM下行中心频率选择
4通道TWDM下行中心频率选择表A.1中1~4通道
4通道TWDM下行中心频率选择表A.1中1~4通道
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B.1TWDMPON上行中心频率分配
附录B （资料性附录） TWDMPON上行中心频率分配
注1：表中频率为规范值，波长为参考值； 注2：其他通道间隔的最大频谱偏移可以用表中三个规范的MSE通过外插法获得
194.861 194.861 194.652 1538.494 1538.495 1540.143 ±12.5 ±20 ±25 注1：表中频率为规范值，波长为参考值； 注2：其他通道间隔的最大频谱偏移可以用表中三个规范的MSE通过外插法获得
注1：表中赖率为规范值，波长为参考值： 注2：其他通道间隔的最大频谱偏移可以用表中三个规范的MSE通过外插法获得
D.1分立式OLT模块光接口技术要求
分立式OLT模块光接口技术要求参见表D.1。
附录D （资料性附录） 分立式OLT模块光接口技术要求
表D.1分立式OLT模块光接口技术要求
E.1OLT模块外形尺寸及引出脚排列
附录E （资料性附录） OLT模块/ONU模块外形尺寸及引出端排列
OLT模块根据堆叠实现方式不同，有模块级堆叠的OLT模块，也有系统级堆叠的分立式OLT模块。 模块级堆叠是将4个或8个通道的收发集成在一个光模块内。系统级堆叠是将单个通道的收发作为一个 光模块，在光模块外部实现波分复用，形成波长堆叠。模块级堆叠的OLT模块封装形式推荐采用CFP2 或CFP4封装。系统级堆叠的OLT模块推荐采用XFP封装。采用CFP2封装的OLT模块外形尺寸及引 出脚排列参见CFPMSACFP2硬件规范，引脚定义见表E.1。采用CFP4封装的OLT模块外形尺寸及引 出脚排列参见CFPMSACFP4硬件规范，引脚定义见表E.2。采用分立式XFP封装的OLT模块外形尺 寸及引出端排列参见YD/T1688.5一2012中附录A.1规定。
表E.1CFP2封装OLT模块引脚定义
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表E.1CFP2封装OLT模块引脚定义（续）
表E.1CFP2封装OLT模块引脚定义（续）
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表E.1CFP2封装OLT模块引脚定义（续）
表E.2CFP4封装OLT模块引脚定义
表E.2CFP4封装OLT模块引脚定义（续）
DB37／T 5150-2019 高性能混凝土应用技术规程.pdfYD/T1688.6—2018
表E.2CFP4封装OLT模块引脚定义（续）
E.2ONU模块外形尺寸及引出端排列
ONU模块封装形式推荐采用XFP或者SFP+封装。采用XFP封装的ONU模块外形尺寸见图E.1， 引出端排列见图E.2和表E.3。采用SFP+封装的ONU模块外形尺寸及引出端排列参见YD/T1688.5 2012中附录A.2规定。
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表E3ONU模块引出端排列