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YD／T 3357.3-2018 100Gb／s QSFP28 光收发合一模块 第3部分：4x25Gb／s CLR4.pdfYD/T 3357.3—2018
100Gbit/sQSFP28光收发合一模块 第 3部分：4×25Gbit/s CLR4
本部分规定了100Gbit/sQSFP28封装的4×25Gbit/sCLR4光收发合一模块（以下简称为“CLR4光 模块”）的缩略语、术语和定义、技术要求、测试方法、可靠性试验、电磁兼容试验、检验规则、标志、 包装、运输和贮存要求。 本部分适用于QSFP28封装的每通道速率为25.78125Gbit/s的CLR4光收发合一模块。其他类型的
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件 凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于文件。 GB/T191包装储运图示标志 GB/T2828.1计数抽样检验程序第1部份：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划 GB/T9771（所有部分）通信用单模光纤系列 GB/T26125电子电气产品六种限用物质（铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚）的测 GB/T26572一2011电子信息产品中有毒有害物质的限量要求 YD/T1272.1光纤活动连接器第1部分：LC型 YD/T1526.1接入网用单纤双向三端口光收发一体模块技术条件第1部分：用于宽带无源光网络 （BPON）光网络单元（ONU）的单纤双向三端口光收发一体模块 YD/T1688.2xPON光收发合一模块技术条件第2部分：用于EPON光线路终端/光网络单元 (OLT/ONU）的光收发合一模块 YD/T1688.4xPON光收发合一模块技术条件第4部分：用于10GEPON光线路终端/光网络单元 （OLT/ONU）的光收发合一光模块 YD/T1766一2016光通信用光收发合一模块的可靠性试验失效判据 YD/T2804.140Gbit/s/100Gbit/s强度调制可插拔光收发合一模块第1部分：4×10Gbit/s YD/T2804.2一201540Gbit/s/100Gbit/s强度调制可插拨光收发合一模块第2部分：4×25Gbit/s YD/T2905通信用40Gbit/sQSFP+光收发合一模块 SJ/T11364一2006电子信息产品污染控制标识要求
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YD/T1272.1、YD/T1526.1、YD/T1688.2、YD/T1688.4、YD/T2804.1和YD/T2905界定的木 义适用于本文件。
CLR4光模块按应用场景可分为： 支持主机不带FEC功能的光模块； 支持主机带FEC功能的光模块。
CLR4光模块按可支持的工作温度范围可分为： 工作于商业级温度范围的光模块： 工作于扩展级温度范围的光模块： 工作于工业级温度范围的光模块
CLR4光模块按可支持的工作温度范围可分为： 工作于商业级温度范围的光模块： 工作于扩展级温度范围的光模块： 工作于工业级温度范围的光模块
6.1CLR4光模块功能框图和测试参考点
CLR4光模块功能框图和测试参考点如图1所示，发射端光技术要求在参考点TP2处，接收端光技 术要求在参考点TP3处。
4光模块功能框图和测试参考点如图1所示，发射端光技术要求在参考点TP2处，接收端光技 参考点TP3处。
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口技术要求见表4和表5。其他类型的光模块 s）光接口技术要求参见附录A。
表4发射端光接口技术要求
表5接收端光接口技术要求
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表5接收端光接口技术要求（续）
CLR4光模块采用QSF 10电接口技术要求
6.10电接口技术要求
6.10.1电接口引脚定义
6.10.2低速电接口技术要求
6.10.3高速电接口技术要求
6.11软件接口技术要求
CLR4光模块的外观应平滑、洁净、无油渍、无伤痕及裂纹，整个器件牢固，与连接器插拔平顺。 标志清晰牢固，标志内容符合11.1的要求；标志贴放位置符合GB/T191中相关要求。
CLR4光模块的组成单元分类应符合GB/T26572一2011中表1的规定，有毒有害物质的限量要求 按GB/T26125规定检测，应符合GB/T26572—2011中表2的要求。
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e）设置待测CLR4光模块处于正常工作模式，减小LO通道中可调光衰减器0的衰减量，使输入 到CLR4光模块接收端光功率遂渐增大，同时观察四通道误码仪误码检测端LO通道对应的比 特误码率，当比特误码率达到表5规定的值时，断开L1、L2、L3通道中可调光衰减器，用光 功率计测试LO通道输入到CLR4光模块接收端的平均光功率，即为被测LO通道接收饱和光 功率，应符合表5的规定。 f）重复上述操作，依次测试L1、L2 和 L3通道的接收饱和光功率。
7.3.13每通道OMA加压接收灵敏度
每通道OMA加压接收灵敏度参照YD/T2804.2一2015中附录D的规定进行测试，其中误码仅 4路 25.78125 Gbit/s e
3.1可靠性试验环境要
可靠性试验环境要求同7.1。
可靠性试验要求见表6。
9.1电磁兼容试验要求
CLR4光模块的电磁兼容试验要求见表7。
表7电磁兼容试验要求
射频电磁场辐射抗扰度试验失效判据见YD/T1766一2016中8.2的规定。 射频电磁场辐射发射试验失效判据见YD/T1766一2016中8.2的规定，B级信息技术设备测试限值 要求见表8。
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表8辐射发射限值要求
注1：当出现环境于扰时，可采取附加措施
检验分为出厂检验和型式检验
检验分为出厂检验和型式检验。
出厂检验分为常规检验和抽样检验
出厂检验分为常规检验和抽样检验
常规检验应百分之百进行，检验项目如下。 a）外观 一目测，符合6.12要求。 b）性能 按7.3规定的测试方法，对性能参数每通道发送平均光功率、消光比、每通道OMA接收 灵敏度、每通道接收饱和光功率进行检测，其结果符合表4和表5的规定。 c）高温电老化 老化条件：在最大工作温度下，CLR4光模块正常工作状态，老化时间至少24h； 恢复：在正常大气条件下恢复1h后按7.3规定的测试方法进行测试； 一失效判据：每通道发送平均光功率、消光比、每通道OMA接收灵敏度、每通道接收饱和 光功率等不满足表4和表5的规定，或者变化量大于1dB。
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极限温度下的停留时间不小于10min，循环次数20次； 恢复：在正常大气条件下恢复1h后按7.3规定的测试方法进行测试； 失效判据：每通道发送平均光功率、消光比、每通道OMA接收灵敏度、每通道接收饱利 光功率等不满足表4和表5的规定，或者变化量大于1dB。
CLR4光模块有下列情况之一时，应进行型式检验： 产品定型时或已定型产品转场时； 正式生产后，如果结构、材料、工艺有较大改变，可能影响产品性能时； 产品长期停产12个月后，恢复生产时； 出厂检验结果与定型时的型式检验有较大差别时； 正常生产24个月后； 国家质量监督机构提出进行型式检验要求时。
10.3.3检验项目及抽样方案
式检验的检验项目及抽样方案见表6和表7。
10.3.4样品的使用规则
内使用规则如下： 凡经受了型式检验的样品，一律不能作为合格品
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b）在不影响检验和试验结果的条件下，一组样品可用于其他分组的检验和试验。
10.3.5产品的不合格判定
各项试验完成后，试验判据按8.3和9.2规定执行，若其中任何一项试验不符合要求时，则判该 不合格。
10.3.6不合格批的重新提交
当提交型式检验的任一检验批不符合表4、表5和9.2中规定的任一分组要求时，应根据不合格原 因，采取纠正措施后，对不合格的检验分组重新提交检验。重新检验应采用加严抽样方案。若重新检验 仍有失效，则该批拒收。如通过检验，则判为合格。但重新检验不得超过2次，并应清楚标明为重新检 验批。
10.3.7检验批的构成
提交检验的批，可由一个生产批构成，或由符合下述条件的几个生产批构成 这些生产批是在相同材料、工艺、设备等条件下制造出来的； 若于个生产批构成一个检验批的时间不超过1个月。
11标志、包装、运输和购存
每个产品应标明产品型号、规格、编号、批的识别代码及安全等标志，
[11.1.2标志要求
进行全部试验后，标志应保持清晰。标志损伤了的产品应重新打印标志，以保证发货之前标志
11.1.3污染控制标志
产品的污染控制标志应按SJ/T11364一2006第5章规定，在包装盒或产品上打印上电子信息产 控制标志。
产品应有良好的包装及防静电措施，避免在运输过程中受到损坏。包装盆上应标有产品名称、型号 和规格、生产厂家、产品执行标准号、防静电标识、激光防护标志等。 包装盒内应有产品说明书。说明书内容包括：产品名称、型号、简要工作原理和主要技术指标、极 限工作条件、安装尺寸和管脚排列、使用注意事项等。
A.1OTL4.4应用光模块光接口技术要求
DB14／T 2242-2020 安全隐患排查治理信息化业务流程规范.pdfOTL4.4应用光模块光接口技术要求见表A.1。
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附录A （资料性附录） 其他速率应用的光模块光接口技术要求
表A.1OTL4.4应用光模块光接口技术要求
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