标准规范下载简介
GB／T 5095.2304-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-4部分：屏蔽和滤波试验 试验23d：时域内传输线的反射.pdfICS 31.220.10 L23
5.2304—2021/IEC6051
GB/T5095的本部分规定了两种试验方法，通过测量传输线中连接器在时域内的反射，来评定连 接器的性能。在这些方法中，受试连接器被视为传输线中具有受控特性阻抗的跃变点。 试验方法A采用精密同轴电缆和半硬同轴电缆与受试连接器和试验设备连接。该试验方法适用 于多种形状的连接器或电缆组件。 试验方法B采用精密试验板、精密同轴电缆和半硬同轴电缆与受试连接器和试验设备连接。该试 验方法适用于印制板连接器
时域反射计（TDR)或脉冲发生器和示波器、预定用于连接器的具有特性阻抗的精密电缆以及 号发生器（如适用）
回沟矿井联合建筑施工组织设计.doc试验样品应由装有多个接触件的连接器插合对和/或电缆组件组成。接触件可与相应试验电缆上 不同的信号或接地导体连接
4.1试验方法A用试验装置
要求的装置为半硬同轴电缆（或等效的）。如要求特种装置，则按6.1中所述。
4.2试验方法B用试验
对于板与板连接器，采用两块备有受控特性阻抗线路结构的印制电路试验板。附录A中详细说明 了这些试验板的要求和结构
5试验程序（方法A和B）
5.1试验信号的校准：采用一校准曲线测量试验信号的有效 在测量系统上升时间中装置的影响。 注：建议频率上限（MHz)和输入信号上升时间的乘积约为0.6
5.1试验信号的校准：采用一校准曲线测量试验信号的有效
5.1试验信号的校准：采用一校准曲线测量试验信号的有效上升时间和幅度。 采用的校准曲 在测量系统上升时间中装置的影响 注：建议频率上限（MHz)和输入信号上升时间的乘积约为0.6 5.2零反射基线确立.为连接器反射的测量确立 一条零反射基线（更多资料参见附录B中B
5.23042021/IEC6051
5.3在一个或多个规定的上升时间发射信号。图1所示为一典型波形。
5.3在一个或多个规定的上升时间发射信号。图1所示为一典型波形。 5.4连接器反射波幅（在反射系数β的范围内测量而不是电压）： 5.4.1测量与受试连接器对应反射波形的最大正和负偏差（相对于零反射基线） 5.4.2计算测得的带有试验装置试验系统阶跃波幅的百分比
式中： A，——连接器反射波幅； Amr——测量的连接器反射波幅； 测量的带有装置设备的阶跃波幅。
图1典型时域反射计波形显示的连接器反射
当要求报告该试验的结果时，需要说明下列各项内容： a 采用设备的说明，包括设备主机和插件的制造厂及型号。 改变信号上升时间所采用的方法（参见B.3）。 信号接地引出头型式。 d 说明相邻信号线或线路图形的引出头是否开口式（浮动）、终端电阻（如端接的50Q、75Q或其
他阻值）、接地或与电源层连接。 用于将试验设备与试验板或电缆相连接的任何特殊同轴转接器、探头或衰减器的说明。还要 说明受试连接器与印制板的连接方法（如，通孔安装、表面安装、压人或其他方法）以及试验装 置内的信号通道。 与受试线路的远端连接的阻性终端其类型和阻值的说明（如适用）。 g 与受试线路耦合的其他线路相连的阻性终端其类型和阻值的说明（如适用）。 h） 下列测量： 1）试验设备阶跃信号的上升时间和幅度，包括试验装置的影响； 2 对试验的每个试验点和连接器信号线而言，反射波形的最大（正或零）和最小（负或零）偏 差由受试连接器决定。测量这些值所依据的零反射基线参见B.2。按测量的带有试验装 置试验系统阶跃幅度的百分比报告这些值。 建议在报告中所包括的示波器轨迹照片或时域反射计系统的曲线、装置试验阶跃校准波形和典型 接器反射波形都应标明相应的试验点和测量编号
g）与受试线路耦合的其他线路相连的阻性终端其类型和阻值的说明（如适用）。 h）下列测量： 1）试验设备阶跃信号的上升时间和幅度T／CECS731-2020 装配式支吊架系统应用技术规程及条文说明.pdf，包括试验装置的影响； 2） 对试验的每个试验点和连接器信号线而言，反射波形的最大（正或零）和最小（负或零）偏 差由受试连接器决定。测量这些值所依据的零反射基线参见B.2。按测量的带有试验装 置试验系统阶跃幅度的百分比报告这些值。 建议在报告中所包括的示波器轨迹照片或时域反射计系统的曲线、装置试验阶跃校准波形和典型 的连接器反射波形都应标明相应的试验点和测量编号。 建议采用下列格式来记录在给定信号上升时间连接器反射波幅： 反射测量值 试验板1上试验点 最大反射（正或零） 最小反射（负或零） % % % %
6.2试验方法B的附加
除上述各项外，试验方法B还应报告下列内容： a）试验板总图，包括典型的试验线路长度。 b） 采用的试验板垂直分层结构或“电路设计”的说明，指明接地、信号线路及表面焊盘层。 C） 用于同轴连接器和受试连接器的印制电路板机械轨道的细节。包括试验中涉及的所有试验信 号位置和所有接地导体位置的定位完整说明。接地导体的数量和位置对连接器反射波幅会有 显著影响。 d 安装受试连接器的印制电路板表面焊盘或过孔结构的说明（包括焊盘尺寸、间隙尺寸、套管尺 寸等）。 如可能，应测量或估算这些焊盘或过孔的接地电容量，因为该电容量会显著地影响所测得的连 接器反射波幅
5.23042021/IEC6051
A.1典型的连接器反射试验装置
附录A （规范性附录） 用于试验方法B的试验板说明
对于板与板连接器YB∕T 4764-2019 耐火材料 氧化错空心球砖.pdf，这种传输线是由两块具有受控特性阻抗线路结构的印制电路板构成的（见图 A.1）。插配的受试连接器应按与其预定用途相似的方式安装在试验板1和试验板2之间。时域反射计 装置采用同轴试验电缆与试验板1相连，电缆的特性阻抗应与时域反射计的标称阻抗（通常为502或 752)相匹配。在试验板2上试验信号线的远端应端接一阻性终端（见A.3）。这些板应备有质量合适 的微波电缆或探头，与试验板1上的试验线路连接