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GB／T 16857.7-2022 产品几何技术规范（GPS） 坐标测量系统（CMS）的验收检测和复检检测 第7部分：配置影像探测系统的坐标测量机.pdfICS 17.040.30 CCSI42
产品几何技术规范（GPS）
国家市场监督管理总局 发布 国家标准化管理委员会
C.2测量设备 C.3测量方位 C.4测量程序……… C.5检测结果的处理 附录D（规范性）低CTE标准器的数学修正 32 D.1总则.......... D.2要求.... 附录E（资料性）与GPS矩阵模型的关系 33 E.1概述.….…. ·33 E.2关于标准及其使用的信息.. 33 E.3在GPS矩阵模型中的位置 33 E.4相关的标准.…… 参考文献…
云南省建筑、市政、岩土勘察施工图技术审查补充要点.pdf检测。 第13部分：光学三维坐标测量机。目的在于规定光学三维坐标测量机性能的验收检测和 检测。
产品几何技术规范（GPS） 坐标测量系统（CMIS）的验收检测和复检检测 第7部分：配置影像探测系统的坐标测量机
双向长度测量误差重复精度repeatabilityrangeofthebidirectionallengthmeasurementerror RB 用坐标测量机测量一个双向参考检测长度时，3次重复的长度测量误差的变化范围（最大值减最小 值)。 3.11 单向长度测量误差unidirectionallengthmeasurementerror Eu 使用影像测头坐标测量机对参考检测长度的每端获取单个探测点(或等效方式)来测量单向参考检 测长度时的示值误差。 注：Eu只适用于能够进行三维空间测量的影像测头坐标测量机，有些影像测头坐标测量机可能并不具备这样的 能力。 3.12 单向长度测量误差重复精度repeatabilityrangeof theunidirectionallengthmeasurementerror Ru 用坐标测量机测量一个单向参考检测长度时，3次重复的长度测量误差的变化范围（最大值减最 小值)。 3.13 Z轴双向长度测量误差Zbidirectionallengthmeasurementerror EBz 对于名义上垂直于影像测头测量平面的双向参考检测长度，对其每端获取单个探测点（或等效方 式）进行测量时的示值误差。 注：本文件假设机械乙轴在名义上是垂直于影像测头的测量平面的。如果不是这种情况，宜使用不同的命名（如 E或EBy)。 3.14 Z轴单向长度测量误差Zunidirectionallengthmeasurementerror Euz 对于名义上垂直于影像测头测量平面的单向参考检测长度，对其每端获取单个探测点（或等效方 式）进行测量时的示值误差。 注：本文件假设机械乙轴在名义上是垂直于影像测头的测量平面的。如果不是这种情况，宜使用不同的命名（如 Eux或Euy)。 3.15 XY平面双向长度测量误差XYbidirectionallengthmeasurementerror EBxY 对于名义上平行于影像测头测量平面的双向参考检测长度，对其每端获取单个探测点（或等效方 式）进行测量时的示值误差。 注：本文件假设机械XY平面在名义上是平行于影像测头的测量平面的。如果不是这种情况，宜使用不同的命名 （如EBxz或EBYz） 3.16 XY平面单向长度测量误差XYunidirectionallengthmeasurementerror EuxXY 对于名义上平行于影像测头测量平面的单向参考检测长度，对其每端获取单个探测点（或等效方 式）进行测量时的示值误差。
注：本文件假设机械XY平面在名义上是平行于影像测头的测量平面的。如果不是这种情况，宜使用不同的命名 （如Euxz或Euyz)。 3.17 垂直度误差squarenesserror EsQ “名义上垂直于影像测头测量平面的运动轴”与“名义上平行于影像测头测量平面的运动平面”之间 的运动垂直度并结合直线度影响的组合示值误差。 注：预期的用法是Z轴为垂直于影像测头测量平面，XY平面为平行于影像测头测量平面。 3.18 影像测头双向长度测量误差imagingprobebidirectionallengthmeasurementerror EBv 在影像测头视场（名义上平行于影像测头测量平面)内的任意位置，对参考检测长度的每端获取单 个探测点（或等效方式）来测量双向参考检测长度时的示值误差。 注1：检测EBv时，影像测头坐标测量机不运动。 注2：Ev只适用于能够在影像测头视场内进行测量的影像测头坐标测量机，有些影像测头坐标测量机可能并不具 备这样的能力。 3.19 影像测头单向长度测量误差imagingprobeunidirectionallengthmeasurementerror Euv 在影像测头视场（名义上平行于影像测头测量平面)内的任意位置，对参考检测长度的每端获取单 个探测点（或等效方式)来测量单向参考检测长度时的示值误差。 注1：检测Euv时，影像测头坐标测量机不运动。 注2：Euv只适用于能够在影像测头视场内进行测量的影像测头坐标测量机，有些影像测头坐标测量机可能并不具 备这样的能力。 3.20 探测误差probingerror PP2D 影像测头坐标测量机以离散点探测模式在圆形实物标准器上进行测量，测量时检测圆放置于影像 测头坐标测量机测量空间的任何位置，坐标测量机在相邻测量点之间须运动，且所有的测量点须均匀地 分布在影像测头可用视场，基于各测量点使用最小二乘法拟合圆，计算各个测量点的高斯径向距离的变 化范围得到的示值误差。 3.21
象测头坐标测量机以离散点探测模式在圆形实物标准器上进行测量，测量时检测圆放置于影像 示测量机测量空间的任何位置，坐标测量机在相邻测量点之间须运动，且所有的测量点须均匀地 乡像测头可用视场，基于各测量点使用最小二乘法拟合圆，计算各个测量点的高斯径向距离的变 得到的示值误差。
影像测头坐标测量机以离散点探测模式在圆形实物标准器上进行测量，基于各测量点使用最 乘法拟合圆，得到的各个测量点的高斯径向距离的变化范围。坐标测量机在相邻测量点之间不运动 且所有的测量点须均匀地分布在影像测头可用视场。 注：PrvzD只适用于能够在影像测头视场内进行测量的影像测头坐标测量机，有些影像测头坐标测量机可能并 备这样的能力。
双向长度测量最大允许误差 maximumpermissibleerror ofbidi EB,MPE 技术规范所允许的双向长度测量误差E：的极限值。
Euv.MPE 技术规范所允许的影像测头单向长度测量误差Euv的极限值。 3.33 探测最大允许误差maximumpermissibleerrorofprobing PF2D,MPE 技术规范所允许的探测误差Pr2D的极限值。 3.34 影像测头探测最大允许误差maximumpermissibleprobingerroroftheimagingprobe PFv2D,MPE 技术规范所允许的影像测头探测误差PFv2D的极限值。
Euv.MPE 技术规范所允许的影像测头单向长度测量误差Euv的极限值。 3.33 探测最大允许误差maximumpermissibleerrorofprobing PF2D,MPE 技术规范所允许的探测误差Pr2D的极限值。 3.34 影像测头探测最大允许误差maximumpermissibleprobingerroroftheimagingprobe PFv2D,MPE 技术规范所允许的影像测头探测误差PFv2D的极限值。
本文件所使用的符号如表1所示。
环境条件下的充许极限值（包括坐标测量机安装场地的温度、湿度和振动等）应由如下原则确定： 验收检测时，由制造商规定； 一复检检测时，由用户规定。 在这两种情况下，用户都可以在（制造商数据页中提供的)限定范围内任意选择环境条件进行本文 件的检测。 用户有责任按照制造商数据页中的规定为坐标测量机提供合适的测量环境。 如果环境不符合规范要求，则不能要求检验最大允许误差和最大允许限。
在按照第6章的规定实施检测时，应按照制造商操作手册中的程序操作坐标测量机。 遵守制造商操作手册中所列的规范，例如： aD 1 机器启动/预热周期； b） 清洁程序； c) 探测系统标定； 探测系统校准前的热稳定性； e) 1 探测方向； 2 环境照明； g) 2 照明系统； h) 温度传感器的位置、类型、数量； i) 影像测头的设置和倍率设定； jD 影像处理的滤波和算法。
5.3不同配置的影像测头坐标测量机的要求
本文件适用于不同配置的影像测头坐标测量机，并允许制造商的规范和检测程序有一定的灵活性。
DB42T 1801-2022 可控协同桩筏基础技术规程.pdf5.3.2长度测量误差
有的影像测头坐标测量机为三维测量而设计，有的则不具备三维测量能力。为了使规范具有一定 灵活性，但仍然确保满足计量特性的所有必要要求，允许基于所定义MPE的相关规范有所不同。 a）对于能够在量程范围内任意位置进行三维空间测量的影像测头坐标测量机，本文件允许两种 不同的检测方法：复合法和分量法。 1）复合法对于长度测量误差只包括单个最大允许误差（MPE)，如EB,MPE或Eu.MPE。 2）分量法包括以下3个MPE值： i）EBxY,MPE或EUxY,MPE； i）EBz,MPE或Euz,MPE； iiEsQ.MPE。 由复合法和分量法得到的MPE值不一定能直接比较。 b）对于能三轴运动，但只能在二维平面（名义上平行于影像测头的测量平面，测量特征可位于不 同的平面，但被投影到单个平面进行测量)中进行测量的影像测头坐标测量机，有两个长度测 量误差的MPE值： 1）EsQ.MPE； 2）EBXY,MPE或EUXY,MPE。 c）对于只能在任意二维平面（名义上平行于影像测头的测量平面，但在任何时候所有被测特征总 是在名义上处于单个平面内，不可从其他平面投影)中进行测量的影像测头坐标测量机，有一 个长度测量误差的MPE值： EBXY,MPE或EUxY,MPE。 除此之外，对于不运动就能在视场内进行测量的坐标测量机，允许规定EBv,MPE或Euv.MPE参数，但 是必需的。 制造商能自行规定长度测量误差的最大允许值，既可使用单向检测长度也可使用双向检测长度。 注1：配置光学探测系统（影像探测系统)的坐标测量机有时用于线纹尺的测量。对于这种测量任务，单向检测长度 的MPE规范可能更加适用。 注2：具备较低校准不确定度的双向长度标准器通常较难获得，这样相对于单向长度测量而言，双向长度测量的 MPE值可能会显著增加。 长度测量误差不应超过各自的最大允许误差，对于： 验收检测，技术指标由制造商确定； 复检检测，技术指标由用户确定。 长度测量误差和长度测量的最大允许误差的单位均以微米表示
所有的仪器配置都需要规定PF2D.MPE。探测误差PFD的检测程序应包含坐标测量机运动以及视场 全部可用部分。 对于不运动就能在视场内进行测量的坐标测量机，允许规定PF2D,MPE参数，但不是必需的。 探测误差PF2D和影像测头探测误差PFv2D不应超过各自的最大允许误差PF2D.MPE和PFV2D,MPE 对于：
验收检测，技术指标由制造商确定； 复检检测，技术指标由用户确定。 探测误差和探测最大允许误差的单位以微
5.3.4长度测量误差的重复精度Rn或R
若规定了EB,MPE或Eu.MPE，则应规定对应的RB,MPL或Ru,MPL。 长度测量误差的重复精度（RB或Ru）不应超过各自的重复精度最大允许限（RB.MPL或Ru.MPL）， 对于： 一验收检测，技术指标由制造商确定； 复检检测，技术指标由用户确定。 长度测量误差的重复精度（R:或Ru)和重复精度最大允许限（RBMPL或RuMPL）的单位以微米表示。
5.3.5工件负载的影响
验收检测按照制造商的规范以及与本文件规范一致的程序进行。制造商可按照附录B和附录D 的描述选择代表参考检测长度的标准器。 如果用户和制造商达成一致，可由用户提供标准器。在这种情况下，宜仔细确认测量不确定度、标 准器材料和费用。 复检检测按照用户规范以及制造商所规定的程序进行。 对于所有检测东方威尼斯项目抹灰技术交底，可能需要进行一些额外的测量。建议找正的方法和校准标准器时所采用的方法 一致。 制造商宜在资料表中明确规定所有检测使用的影像测头配置。若制造商没有规定影像测头配 置，用户可以从坐标测量机提供的测头配件中任意选择。 对于所有检测，应按照制造商的标准程序（见5.2)设置和标定探测系统。所有探测系统的标定应使 用制造商提供的用于测头标定的标准器，并按照坐标测量机的正常用法使用，不应使用任何检测标准器 或其他标准器。 注：改变影像探测系统或测量条件可能会显著改变检测结果。 检测中使用的算法和参数宜是检测正常工件时使用的。不宜使用额外的滤波或其他优化。