标准规范下载简介
GB／T 39240-2020 无损检测 超声检测 总则.pdf/T392402020
本标推按照GB/T1.1一2009给出的规则起章。 本标准使用重新起草法修改采用ISO16810：2012《无损检测超声检测总则》。 本标准与ISO16810：2012的技术性差异及其原因如下： 一关于规范性引用文件，本标准做了具有技术性差异的调整，以适应我国的技术条件，调整的情 况集中反映在第2章“规范性引用文件”中，具体调整如下： ?用等同采用国际标的GB/T9445代替了ISO9712（见第4章）； ·用等同采用国际标准的GB/T19799.1代替了ISO2400（见7.4）； ·用等同采用国际标准的GB/T19799.2代替了ISO7963（见7.4)； 。用修改采用国际标准的GB/T39242代替了ISO16811（见6.4、7.3、7.5、8.3、9.1、9.3、11.1)； ·用修改采用国际标准的GB/T39241代替了ISO16823（见6.3）； ·增加了GB/T12604.1和GB/T20737（见第3章）。 一增加了术语和定义（见第3章）。 本标准由全国无损检测标准化技术委员会（SAC/TC56)提出并归口。 本标准起草单位：上海材料研究所、武汉中科创新技术股份有限公司、中国铁路广州局集团有限公 司、国网上海市电力公司电力科学研究院、烟台中集来福士海洋工程有限公司、山东瑞祥模具有限公司、 中广核工程有限公司、上海航天精密机械所、江苏方天电力技术有限公司。 本标准主要起草人：张义凤、丁杰、蒋建生、黄隐、林光辉、王子成、贺海建、赵利民、骆国防、金磊 魏忠瑞、马建民、朱从斌、王飞、杨贤彪
无损检测 超声检测总则
本标准规定了能够传播超声的工业产品超声检测遵循的总则要求。 本标准适用于最低要求下的超声检测。超声检测的应用与被检件的类型有关LY／T 3036-2018标准下载，具体要求见相应的 产品标准、规范、合同文件和检测工艺规程。 本标准不适用于检测区域、扫查方式和验收标准的确定，
T12604.1和GB/T20737界定的术语和定义适用
实施超声检测的人员，应按GB/T9445或各方同意后进行资格鉴定与认证，取得超声检 类的资格等级证书，并由雇主或其代理对其进行岗位培训和授权。
接本标准实施超声检测的人员，应 则相关工业门类的资格等级证书，并由雇主或其代理对其进行岗位培训和授权
超声检测基手超声波在被检件中传播时，通过监测穿透信号（称为穿透技术）或从不连续、其他表面 反射、折射、衍射的信号（称为脉冲回波技术）检测工件的方法。 穿透技术和脉冲回波技术都可使用同时作为发射器和接收器的单晶探头或双晶探头，也可使用分 别作为发射器和接收器的两个探头。同时，两种技术还可基于被检件的一个或多个表面的一次反射，或 二次、多次反射检测。 可采用手动方式检测，也可采用半自动或全自动设备检测。可使用接触法、非接触法或液浸法扫 查，也可针对具体情况采用其他耦合方法
最常用的超声波类型是纵波和横波，它们垂直于被检表面或与被检表面成一定角度传播。在特殊 应用中也可采用其他波型，例如兰姆波或瑞利波。 波型和传播方向的选择应满足检测需求，同时考虑平面反射体的反射特性。除兰姆波外，选用单探 头脉冲回波技术时，声波的传播方向宜尽可能垂直于反射面
穿透技术基于测量超声穿透被检件后的信号衰减工作。测量的信号可为底面回波信号，也可为穿 透波信号，或为经工件表面多次反射的回波信号。 穿透技术见GB/T39241
脉冲回波技术基于被检件中任意异质界面的反射或折射信号，采用信号幅度及其在时基线上的仁 苗述其特征。信号在时基线的位置与反射体和探头之间的距离有关。反射体的位置可由声程、声克 潘方向和探头位置确定。 推荐采用以下方法之一测量信号幅度：
基于一个或多个参考试块的人工反射体（横孔、平底孔或刻槽等）获得的一条或一系列距离波 幅校正（DAC)曲线； b） 距离增益当量尺寸（DGS）曲线； 适用的刻槽回波； d） 垂直于声束轴线的大平面反射体回波（如底面回波）。 脉冲回波技术见GB/T39242。 可采用其他检测技术进一步获得有关反射体的形状和大小等信息。例如，信号幅度随探头移动产 的变化、声程测量或率分析等，
探头的选择取决于检测目的和参考标准或规范的要求，如： 材料厚度、形状和表面状况； 被检件的类型和冶金状态； 一可能存在的缺欠的类型、位置和走向。 应根据上述被检件的特征，综合考虑选择7.2.2、7.2.3和7.2.4中的探头参数
7.2.2探头的频率和尺寸
探头的频率和尺寸决定了声束的形状（近场和声束扩散）。综合考虑以下几点，选择具有最适宜声 东特征的探头： 一近场长度应尽可能小于被检件的厚度； 注：在近场中也可检出缺欠，但缺欠特征判断不准确，重现性差。 在距离探头最远处的检测区内，声束宽度应足够小，以保证足够的检测灵敏度； 一声束扩散程度应足够大，以便检测走向较差的平面缺欠。 频率的选择还应考虑材料的声衰减和缺欠的反射性。频率越高，分辨力越高，但声衰减越大（或由 于晶粒粗大而产生的杂波信号越强）。因此，频率的选择需综合考虑以上因素。检测频率通常为 1.0MHz~20MHz
探头的选择应考虑在检测区域中产生的盲区。
SY／T 6582-2019标准下载探头的选择应考虑阻尼对分辨力和频谱的影响
焦探头主要用于小缺欠检测和反射体定量。探头声场宜用焦点长度和聚焦声束直径描述。与非
GB/T39240—2020
GB/T39240—2020
焦的单晶探头相比，聚焦探头提高了横向分辨力并具有更高的信噪比。使用聚焦探头时，灵敏度设定 用参考反射体。
可使用不同的耦合介质，但其类型应与被检材料相容。如： 水，可含有润湿剂、防冻剂、防腐剂等； 浆糊； 油； 油脂； 含水粘胶纤维等。 在验证、设备调节和检测时的耦合介质特性应保持一致。耦合介质应在适用的温度范围内使用。 如果耦合介质特性不能在设备调节和检测时保持一致，可进行传输修正，修正方法见GB/T39242。 检测完成后，应去除影响后续操作、检查或使用的耦合介质
使用GB/T19799.1和GB/T19799.2规定的校准试块。 使用上述试块可验证设备调节的稳定性，
当将被检件的回波幅度与参考试块的回波幅度比较时，参考试块的材料、表面状态、几何形状和温 度等应遵守相关规定。 如可能，参考试块应由在特定范围内与被检件具有相同或相近声学特性的材料制成，并应具有与被 检件相同或相近的表面状态。如果试块与被检件声学特性不同，应进行传输修正，具体修正方法见 GB/T39242。 应考虑参考试块与被检件的几何形状，见GB/T39242。 参考试块的几何形状、尺寸和反射体的位置，宜在具体标准和规范中逐一说明。宜根据检测区域范 围确定反射体的位置和数量。 最常用的反射体主要为以下四种： a）垂直于声束轴线、且与声束宽度相比为大平面的反射体（如底面）； b）平底孔； c）横孔； d）不同截面的刻槽。 当参考试块用于液浸检测时，应考虑孔中液体的影响，或应封堵孔的端头。 应考虑被检件、探头与参考试块之间温差的影响，并与检测灵敏度要求相比较。必要时，检测过程 中的参考试块应保持在规定的温度范围内
当将被检件的回波幅度与参考试块的回波幅度比较时，参考试块的材料、表面状态、几何形状和温 度等应遵守相关规定。 如可能，参考试块应由在特定范围内与被检件具有相同或相近声学特性的材料制成DZ／T 0309-2017标准下载，并应具有与被 检件相同或相近的表面状态。如果试块与被检件声学特性不同，应进行传输修正，具体修正方法见 GB/T39242。 应考虑参考试块与被检件的几何形状，见GB/T39242。 参考试块的几何形状、尺寸和反射体的位置，宜在具体标准和规范中逐一说明。宜根据检测区域范 围确定反射体的位置和数量。 最常用的反射体主要为以下四种： a）垂直于声束轴线、且与声束宽度相比为大平面的反射体（如底面）； b）平底孔； c）横孔； d）不同截面的刻槽。 当参考试块用于液浸检测时，应考虑孔中液体的影响，或应封堵孔的端头。 应考虑被检件、探头与参考试块之间温差的影响，并与检测灵敏度要求相比较。必要时，检测过程 中的参考试应保持在规定的温度范围内