标准规范下载简介
JB／T 4008-2020 无损检测 液浸式超声纵波脉冲回波检测和评定不连续方法.pdfJB/T4008—2020 h）底波监控； i）扫查面； j）多个不连续评定； k）线性不连续评定； 1）人员资质； m）系统性能； n）报告要求。
JB/T40082020
根据本标准执行的超声检测应编写检测工艺规程，检测工艺规程中应确定检测系统的种类，检测技 术，参考试块，探头的晶片尺寸、类型及频率，报告显示的方法和关于实际检测的其他说明。检测工艺 规程应叙述详细，以便另一个有资质的检测人员能够重复该检测并获得同等的结果。记录中要求的所有 数据以及检测报告的内容和形式应得到合同各方同意。液浸法超声检测的基本设置如图1所示。液浸法 超声检测的非常规技术参见附录A。
图1液浸法超声检测的基本设置
按本标准实施检测的人员Q／GDW 11992-2019标准下载，应按GB/T9445或合同各方同意的体系进行资格鉴定与认证，并由雇主 或其代理进行岗位培训和操作授权，
除合同中另有约定外，受检件的表面粗糙度和几何尺寸应达到合同约定的公差值要求，扫查区域 表面光滑，超声检测在机加工前进行。表面粗糙度妨碍检测和评定近表面不连续时，在检测前采用机 加工、打磨等机械方式进行处理。在检测过程中确保入射表面和底面无疏松的氧化皮、机加工打磨颗 粒或其他外来物等。
除合同中另有约定外，选择的扫查面应有利于发现与入射面或金属流线平行的不连续。确定受检件 在检测中使用仪器、探头和对应的参考反射体尺寸（灵敏度），确定其在受检件中声程范围内的有效声 束宽度，调整步进间距，使入射声束对受检件有效覆盖。步进间距应小于材料全厚度范围内步进方向有 效声束宽度的最小值，且不应超过预设的最小不连续当量与有效声束宽度的绝对差，以确保在不连续长 度中获得同一幅度的重复响应。
JB/T40082020
入射表面分辨力（信噪比以2：1为基础）， 对近表面参考反射体检测造成困难的，应从该入射面的 对面进行检测。若表面粗糙度妨碍了所需的分辨力要求，检测前要求进行修整。当每个检测方向的检领 灵敏度覆盖不了整个受检件的厚度时，应进行双面检测。
检测设备应能在探头工作的频率范围内产生和处理电信号。合同各方应按表1协商并确定仪器设备 的最低要求（纵波），对设备按相关要求核查的结果应满足所约定的要求。该要求仅适用于检测中所要 求的频率，在参考反射体的埋深与受检件厚度相等的参考反射体中，仪器和探头产生的回波幅度不低于 满屏刻度的60%，噪声水平不超过满屏刻度的20%。若上述要求仅能满足受检件1/2厚度的检测，则可 对该受检件进行双面检测。
该仪器的脉冲发射器应能提供所需的电压、重复频率和波形，以保证在规定的扫查速度下对检测区 域的有效覆盖
选用的探头应与使用的仪器及受检件的材料类型匹配，为平面或聚焦型液浸探头。聚焦型探头或双 晶探头可提供理想的近场分辨力，检出较小的不连续。矩形和圆形晶片探头常在检测中使用，评定不连 续用的探头为对称声场的圆形晶片探头。 高频率探头的声束指向性好，声束的横向和纵向分辨力高；低频率探头的声束穿透力强，能探测 不平行于入射面的不连续，但声束指向性不好。实际检测中，探头频率的选择应考虑受检件的材料种 类、不连续类型以及其他检测要求等。
险测外形规则并具有平行表面的零件，如板件、机加工的棒料及锻件时，宜采用声光报警系统检
JB/T40082020
测不连续。较快速度扫查时，声音报警比视觉报警更可靠。使用声音报警系统的，应同时目视监控显 示屏。报警闸门应可以调节，报警触发水平按照受检件材料所要求的参考反射体幅度和埋深设置。在 检测过程中，报警器的信号应易于被检测人员发现。 注：报警系统不适用于记录型检测仪器，合同中另有约定除外。
5.3.2报警闸门同步设置
为使报警闸门有效监控检测区域，闸门应与受检件的第一个界面回波同步，而不是与系统的始 闸门设置在始波上会导致在闸门范围内检测区域缺失，或在闸门范围内同时包含底面反射和界 ，造成闸门警报的错误触发，
扫查和步进装置应足以支撑探头臂和探头，并能在相互垂直的平面提供必要的角度调节。扫查和步 进装置应有足够的结构稳定性，保证探头稳定地同时进行精确的定位，并有较小的返程间隙，达到合同 约定的公差值要求。调节扫查速度的调节要求见6.3.1，扫查间距的调节要求见6.2.1。水距应连续可调。
水槽的要求见6.1.1
水槽的要求见6.1.1。
超声检测的参考试块用于设置检测仪器的参数和评定受检件中的不连续。参考试块的声 特性位 受检件接近，如衰减、噪声水平、表面状况以及声速等。 参考试块的用途： 一验证仪器和探头的组合性能； 一 一针对不连续设置检测灵敏度。 通常宜使用与受检件材料、形状、尺寸相同的试块，在确认检测结果可靠的情况下，也可使用GB/ 11259和GB/T34363规定的试块检测。
5.6.2平面参考试块
5.6.3曲率参考试块
平面参考试块不宜用于曲率半径小于200mm检测表面的灵敏度设置，对于曲率半径小于125 检测表面，应使用相同曲率的参考试块。合同另有规定除外。
用于设置参考回波幅度或距离幅度修正的反射体，可以是受检件中或有代表性的试块中加工的平 底孔或其他反射体。检测中常见的参考反射体是平底孔。合同约定时可使用其他类型参考反射体，如 刻槽、横孔等。
JB/T40082020
将受检件、参考试块以及探头浸入盛满液体耦合剂的水槽中。液体耦合剂应洁净消泡，以消除声束 衰减、提高系统的信噪比。应确保液体耦合剂中微粒物质、气泡等造成的非相关指示，在所要求的检测 灵敏度下不干扰检测。在不影响材料特性的情况下，加入适量的防锈剂和润湿剂，去除材料和探头表面 残留的悬浮颗粒物质和气泡。容器或水槽不应妨碍探头移动和对参考试块及受检件的定位。
6.1.2防锈剂和润湿剂
水槽里添加防锈剂或润湿剂的，自溶剂配置完成起，每隔90天检查一次溶剂中防锈剂和润湿剂的 沉淀积聚情况。防锈剂用于减小受检件在检测中因耦合剂而产生腐蚀、生锈和腐蚀麻点等可能性。润 剂去除水槽里的气泡，增加耦合剂在材料和探头表面的附着力。
6.1.3参考试块的选用
JB/T 40082020
表3近场区相邻参考反射体埋深差异要求
在两个相互垂直方向调节探头的角度，使探头声束垂直于入射面，以获得最高回波幅度。在检测过 程中，监视上表面或底面的信号指示，若受检件形状变化引起回波幅度降低超过50%，在不同的区域 重新调整探头角度，以保持声束垂直于检测表面。
6.2初始扫查参数设置
JB/T40082020
设置扫查间距使用的试块见6.1.3，探头调节见6.1.4，具体操作如下： 在每个试块的人工反射体上找到最大幅度，调节该幅度，使其达到满屏刻度的50%～100%； 确定探头步进方向的横向距离，在该距离内每个人工反射体上的幅度不得低于所要求最大幅 度的百分比，并与在参考试块上重复扫查的可允许幅度变量对应； 该距离取决于超声波在材料中传播到反射体的实际情况，并随着参考反射体的不同而变化，它 也是每种材料中的有效声束宽度，其最小距离为允许的最大步进间距，
6.2.3扫查增益确定
6.2.3.1扫查增益
用电增益补偿设直 5.2.3.3。
6.2.3.2不使用电子增益补偿设置
6.2.3.3使用电子增益补偿设置
路中使用时变触发控制（DAC）。使用时变增益放大器的系统（TCG)，调节补偿控制使所有参考反射 体的幅度达到满屏刻度的80%或90%，该增益即为首次扫查增益，参考试块要求见6.1.3。对于使用时
JB/T40082020
6.2.3.4传输修正
参考试块与受检件材料的声衰减性能不同时，要求使用传输修正。常用的传输修正技术参见附录 B。使用的传输修正技术应经过合同各方约定。
扫查速度不应影响回波幅度的真实和清晰显示，并适时激发报警。通过扫查用于设置可验收/不可 验收水平的参考试块来验证该扫查速度。用图表和图像进行记录的可以偏离上述要求，扫查速度及其他 参数与记录仪器的响应时间应兼容。
受检件的扫查区域应在合同中约定。
受检件的扫查区域应在合同中约定。
在受检件上方放置探头，扫查时探头到受检件的距离（水距）和角度关系宜与之前的系统设置相 司，仪器扫查增益设置要求见6.2.3.1，传输修正要求见6.2.3.4。通过增加可控的增益量来提高扫查增 益。受检件的扫查速度应满足6.3.1的要求或更慢，扫查间距应满足6.2.1的要求或更小。
6.3.4显示记录和评定
JB/T40082020
检测系统宜定其 结果的准确性，不符合检测标准和不满足合同约定要求的，应 对先前的试样和材料进行重新检测
7.1.2可验收/不可验收
7.1.3不连续当量尺寸
7.2线性或多个不连续
移动探实找到不连续的 合同约定要求时，应标注不可验 的最高幅度不一定就在其中心处，
合同、检测工艺规程及报告宜至少包含下列内容： a）受检件的详细编号和外形结构、检测时机、表面加工状态，以及表面处理方法；
JB/T40082020
JB/T4008=2020
液柱技术和轮式探头技术是液浸法的特殊应用，但是与液浸法非常相似，本标准的检测步骤可 这些技术。
图A.1液柱技术示意图
轮式探头技术属液浸法检测，声束透射穿过填充液体的轮胎进入受检件。此技术要求在轮胎利 施加耦合剂，如同直接接触法。扫查时，轮子在工装夹具上固定，受检件从轮子下移动通过，轧 的探头位置和角度是可调节的。该技术可用于对大型尺寸受检件的高速扫查，如图A.2所示
图A.2轮式扫查示意图
JJG 2051-2021 直流电阻计量器具检定系统表.pdfAR/T40082020
传输修正测量的难度在于从含有人工不连续的参考试块上得到有意义的“底面回波”或“相对衰 减”。由于常用的参考试块是平底孔的圆柱形试块，因此，这里以这种试块为例叙述此类问题。如果采 用中心轴线技术进行测量，平底孔和埋孔会造成底面回波的散射和损失。该散射和损失取决于探头的尺 寸和频率、孔径尺寸、金属声程和水距等。然而，对于采用中心偏离技术进行的测量，超声回波幅度可 能会受到不同的微观结构和侧壁干扰的影响，这些影响的强弱取决于受检件的制造加工工艺（如轧制件 或挤压件）与探头的晶片尺寸及频率
中心轴线技术（见图B.1）操作步骤如下： 一参考试块的整体厚度应近似等于受检件的厚度，使用与检测时相同的水距，将探头放置在试块 上，使其垂直入射，把探头定位在平底孔最大回波幅度。 一静置探头，调节仪器增益，使第一个底波幅度达到满屏刻度的80%。 将探头置于材料上，水距和其他增益设置与之前相同，找出底波最高幅度，记录该幅度，这些 幅度的比例表征一种相对衰减的比较，通常以土%或土dB值来表示。如果在受检件上的幅度 小于80%，那么受检件的衰减大于参考试块。若合同中要求，宜通过计算百分比或dB值并加 进增益值中来确保能检测出受检件内较深的不连续。传输修正前的相对幅度可允许的变量通 常由合同各方进行约定。 注：在A扫仪器显示屏上会看到平底孔的信号，该信号在仪器增益调节后会消失，
图B.1中心轴线技术示意图
GB／T 37430-2019 建筑结构用高强不锈钢JB/T40082020
心偏离技术（见图B.2）操作步骤如下： 参考试块的高度应近似等于受检件的厚度，使用与检测时相同的水距，将探头放置在试块上， 使其垂直入射，探头偏离平底孔中心线放置，放置的位置大约在平底孔与侧壁之间1/2位置。 静置探头，调节仪器增益，使第一个底波幅度达到满屏刻度的80%。 将探头置于受检件上，水距和其他增益设置与之前相同，找到最大底波幅度，记录该幅度，这 些幅度的比例表征一种相对衰减的比较，通常以土%或土dB值来表示。如果在受检件上的幅 度小于80%，那么受检件的衰减大于参考试块，根据合同要求，通过计算百分比或dB值并加 进增益值中来确保能检测出受检件内较深的不连续。传输修正前的相对幅度可允许的变量通 常由合同各方进行约定。
图B.2中心偏离技术示意图